材料分析のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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材料分析 - メーカー・企業41社の業務用製品ランキング | イプロスものづくり

更新日: 集計期間:2026年08月19日~2026年09月15日
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材料分析のメーカー・企業ランキング

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  1. 受託分析|ユーロフィンEAG株式会社 東京都/試験・分析・測定
  2. 株式会社アイテス 滋賀県/電子部品・半導体
  3. メディアスソリューション株式会社 東京都/その他
  4. 株式会社動研 愛知県/製造・加工受託
  5. 5 川重テクノロジー株式会社 兵庫県/産業用電気機器

材料分析の製品ランキング

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  1. 無償分析セミナー|Smart CHART 受託分析|ユーロフィンEAG株式会社
  2. 医療材料分析サービス『meccul(メッカル)』 メディアスソリューション株式会社
  3. 透明防護盾 株式会社動研
  4. 4 光照射試験器<5面照射型> 恒温/恒温・恒湿 白色LED照明搭載 株式会社日本医化器械製作所 本社
  5. 5 X線光電子分光分析によるステンレス鋼の不動態皮膜分析 川重テクノロジー株式会社

材料分析の製品一覧

31~60 件を表示 / 全 91 件

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【超高速スキャンによるインライン連続分析】ProFoss

原料の品質管理からインラインでの製品組成確認までをリアルタイムにモニタリング

『ProFoss』は、製粉、飼料製造ラインに直接取付け可能な インライン型近赤外分光分析システムです。 正確で信頼性の高いダイオードアレイNIR技術を採用したプロフォスで 原料の品質管理からインラインでの製品組成確認までをリアルタイムに モニタリングします。 測定結果にもとづく製造装置の調整を迅速に行うことで製造における収益の 改善を図ることができます。 【特長】 ■バイパスライン不要。流体試料をダイレクト測定 ■防塵防水(IP69k)、防爆(ATEX規格) ■512画素InGaAsダイオードアレイ検出器搭載 ■デュアルランプ(予備ランプ)システム ■既存の製造システムとの連動制御 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 分析機器・装置
  • 材料分析

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『インフォメーションボード』

お店の目玉商品を美しく演出しませんか?

衝撃に強いABS樹脂の土台にポスター入替えが簡単。 使い方は自由。「本日のおすすめ」紹介や「当店のおすすめはコレ」、 「当店はコチラ」などの掲載物を用途に合わせて交換してご利用できます。 見やすいA4サイズで屋外対応なので雨天時も安心。 シンプルなデザインでスマートに演出。

  • その他
  • 材料分析

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ビニル床タイルにおける亀裂発生要因の検討

Pタイルの亀裂発生原因を調査!EPMA/EDSによる面分析を実施

当社で行った「ビニル床タイルにおける亀裂発生要因の検討」について ご紹介いたします。 建物の床材に使用されるビニル床タイル(Pタイル)は、長期間の使用により 亀裂が発生する場合があり、当社ではその要因について調査しました。 表面近傍におけるPVC存在量の減少が亀裂発生への関与していると思われます。 【調査内容】 ■新品と亀裂発生品における走査型電子顕微鏡による断面観察 ■新品と亀裂発生品におけるEPMA/EDSによる面分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他受託サービス
  • その他 受託サービス
  • 材料分析

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各種分析器材

各種分析器材を通じ地球環境に貢献してまいります

有限会社アニテックは、獣医器機、理化学機器/環境分析器機/電柵器機/ 土壌分析機器/農産分析機器を通じて地球環境を守ります。 獣医畜産器材をはじめ、理化学環境分析器材や野鳥獣食学防護機器、 土壌分析・農産分析器材、特注品を取り扱っております。 ご要望の場合は、お気軽にお問合せください。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置
  • その他理化学機器
  • 製造受託
  • 材料分析

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フタル酸エステル類 規制迫る

RoHS指令 規制対象物質の追加についてのご紹介です。

フタル酸エステル類は主に塩化ビニル、樹脂、塩化ゴム用の可塑剤や塗料、顔料、接着剤などに使用されており、内分泌撹乱物質として懸念されています。 ■フタル酸エステルの特徴 ・移行性が高く、フタル酸エステルを含んでいる物質から汚染しやすい ・特徴的な元素が存在せず、蛍光X線によるスクリーニング試験ができない。 ■新 RoHS指令 ・施工:2019年7月22日(EU上市) ・規制対象追加物質:DEHP フタル酸ビス(2-エチルヘキシル)           BBP  フタル酸ブチルベンジル           DBP フタル酸ジブチル           DIBP フタル酸ジイソブチル ・閾値:1000ppm/均質部位 ・認定:産業分析センターはISO17025の認定機関です。 ・特記:フタル酸エステル類分析規格IEC62321-8の認定取得 ※RoHS指令に係る使用制限物質全10物質についてISO17025の認定取得 ※詳しくはPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • ビジネスインテリジェンス・データ分析
  • 材料分析

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医療材料分析サービス『meccul(メッカル)』

不透明な購買を「可視化」し、経営課題を明確にします!

『meccul(メッカル)』は、医療経営において重要視されている医療材料の 購買マネジメントを支援し、適したコスト管理を行うための分析サービスです。 主に、商品別・用途分類別に納入単価や購買量を比較したベンチマークで 貴社の購買価格を評価いたします。 客観的なデータ分析により、問題を浮き彫りにし経営課題を明確にできます。 【特長】 ■2,000以上の病院コード数の購買単価と比較した価格ベンチマークが可能 ■用途分類で同種同効品を統合。材料の標準化を推進 ■購買(消費データ)を整理し、共同購買時の仕入を一括把握 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他 分析・評価受託
  • 化粧品素材、原材料
  • 材料評価試験
  • 材料分析

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【受賞製品のご案内】コージェネ大賞2021「技術開発部門特別賞」

一般財団法人 コージェネレーション・エネルギー高度利用センター主催「コージェネ大賞2021」にて技術開発部門特別賞を受賞しました

受賞製品「リキッドデシカントエアハンドリングユニット:L D A H U」は、コージェネ排熱を利用しつつ調湿と温調を同時に行う空調機です。コージェネからは、高温の温水・蒸気の他にインタークーラーの冷却排熱が発生しますが、37℃程度と低いため多くは冷却塔で捨てられています。L D A H Uは、排熱を夏場の調湿液の再生(濃度調節)用熱源と冬場の加湿及び加温用熱源に利用して通年コージェネの効率を向上させ、インタークーラーの低温排熱も余すところなく活用します。 ぜひ資料をご覧ください。

  • その他空調機器
  • 空調
  • 換気・排気
  • 材料分析

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金属材料不具合調査

ニーズに応じた柔軟な対応!総合的に不具合発生プロセスについて考察し、結果を提供します

川重テクノロジーでは『金属材料不具合調査』を行っております。 多くの場合、金属材料は複合的な原因で不具合を生じるため原因の特定は 困難ですが、当社では、組織観察・機械試験・材料分析等多くの調査を 行っており、皆様が抱える問題解決のお手伝いをします。 多種多様な製品を製造する川崎重工業グループの調査機関として多くの データを蓄積しており、これらをもとに調査を実施。 調査方法のご提案や短期間での対応等、ご要望に応じ柔軟に対応させて 頂きますので、ご用命の際は、お気軽にご相談ください。 【特長】 ■単なる成分分析ではない不具合調査 ■豊富な調査実績を基にした調査 ■ニーズに応じた柔軟な対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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X線分析顕微鏡による元素マッピング

φ10μm、φ100μmのX線プローブを搭載!微小部の元素情報の取得などに有効

当社で行っている「X線分析顕微鏡による元素マッピング」を ご紹介いたします。 当社のX線分析顕微鏡は、内蔵のカメラで試料を観察し、任意の場所で 元素(11Na〜92U)の定性・定量分析を行うことが可能。 また、マッピング分析では、元素分布情報と同時にX線透過像を 取得することもできます。 【分析例】 ■材料表面変色部の元素マッピング分析 ■プリント基板上の微小異物分析 ■樹脂内部の異物の非破壊分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • X線検査装置
  • 材料分析

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高分子製品の不具合調査

調査内容の提案から原因調査・評価試験までのトータルソリューションをご提供!

当社で行っている「高分子製品の不具合調査」についてご紹介いたします。 高分子製品の破損原因のひとつに環境応力割れ(ESC)があります。ESCは、 高分子材料が応力負荷状態で薬品類と接触することで、き裂が発生する現象です。 ESCが原因で重大なトラブルにつながる可能性があるため、使用環境の改善・ 好適な材質選定などが必要です。 【調査内容】 ■原因調査 ・破面観察:破面の様相から破壊形態を推定 ・付着物成分分析:ESCを誘発する可能性の有無を推定 ■評価試験 ・浸漬試験:臨界歪みの測定/再現試験・残留応力評価 ・シミュレーション:高分子部材と薬品類の間の相溶性を推定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • その他高分子材料
  • 材料分析

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調査試料のサンプリング

状況に応じたサンプリング器具やマニュアルをご用意!当社メンバーによる現地採取も可能です

当社で行っている『調査試料のサンプリング』についてご紹介いたします。 サンプリング器具やマニュアルをご用意し、お客様自身で上手く 採取いただけるように努めており、採取に不安がある場合は、 当社メンバーが現地へ採取に伺うことも可能。 お客様の状況にあわせて対応いたしますので、まずはお気軽に ご相談ください。 【サンプリングキット例】 ■異物採取キット ■微量液体採取キット ■ガス採取ボンベ ■オイル採取キット ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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  • 秤量・試料採取 備品
  • 材料分析

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フェログラフィ分析による機械の故障予知診断技術

数十~数百μmの粒子の変化を定量フェログラフィによって観察し異常 を早期に検知!

「メンテナンスには、できるだけお金をかけたくない」 だから、使えるとこまで使って壊れたら交換。 しかしこの方法が通用しない場合が多いのが現実です。 そこでこれまでは一定期間運転したらオイル交換やオーバーホールを行うなど TBM(Time Based of Maintenance:時間基準保全)による管理が行われてきました。 そして現在、CBM(Condition Based ofMaintenance:状態監視保全)へと移行しています。 状態を見ながら使えるところまで使って、必要なメンテナンスを行うという、 理想的な管理を行うための診断技術の一つとして、フェログラフィ分析は発達してきました。 フェログラフィ分析は、機械を分解せずに機械内部の主に摩擦部分の状態を把握し、故障を予知・診断できる技術です。 機械の潤滑管理やCBMを進める有力なツールになります。 当社では、建設機械やガスタービン、陸・舶用ディーゼルエンジン等で蓄積されてきた知識を最大限に活かし、 お客様のメンテナンスのお手伝いをさせて頂きます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • 試験機器・装置
  • 受託測定
  • 材料分析

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3次元寸法・幾何公差測定・形状解析

欠陥部分や歪の傾向などを視覚的に把握する事も可能!形状解析や寸法測定などの解析、評価を代行します

当社は、「形状比較評価」や、「3次元寸法・幾何公差測定」を 行っております。 「形状比較評価」では、3DスキャンしたデータとCADモデルを比較する 事で、形状や加工精度を確認することが可能。 「3次元寸法・幾何公差測定」では、ノギスやマイクロメーターなどの アナログ計測器では出来ない寸法測定、断面解析、形状や姿勢などの 幾何公差を測定する事が可能です。 また、お客様がお持ちの3Dスキャンデータを当社がお預かりし、形状解析や 寸法測定などの解析、評価を代行する「受託解析サービス」も行っております。 【サービス内容】 ■形状比較評価 ■3次元寸法・幾何公差測定 ■受託解析サービス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【製品・材料分析】

製品・材料に係る規制に適合しているか否かの分析・評価も実施します。 材料分析を行うことによって不具合の原因を特定します。

「モノづくり」を追求するためには、最も上流に位置する材料の品質確保が重要な要素となります。弊社では、製品における環境負荷物質(フタル酸エステル類、重金属、ハロゲン類など)の分析および製品の付着物、異物、腐食、劣化、変色などを調べ、製品の不具合・不良の原因解析など、樹脂・金属材料の組成分析による品質評価を行っています。また、製品・材料に係る規制(RoHS指令など)に適合しているか否かの分析、評価も行います。 【特長】 ・電線材料の分析で培ったノウハウ、経験を礎にした有機・無機材料の分析および解析技術を駆使することで多様なニーズに対応します。 ・RoHS分析の他、物性評価(引火点、粘度など)や不良解析(異物、変色、腐食、劣化など)など、様々な分析品目に対応します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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磁場顕微鏡と3次元X線顕微鏡による非破壊解析

これまでの非破壊解析では困難であった低抵抗ショート不良の解析が可能に!

磁場顕微鏡は、電流により発生する磁場分布を測定対象外から測定し、 測定対象内に流れる電流経路を推定する非破壊の解析技術です。 磁場顕微鏡で特定したショートなどの異常個所を3次元X線顕微鏡(X線CT)で 観察することにより、非破壊で詳細な原因解析が可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【解析フロー】 1.磁場顕微鏡による異常検出 2.3次元X線顕微鏡による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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SiCウェーハのエッチピットの形状解析

SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡(X線CT)で観察した事例を紹介!

パワー半導体の普及に向け、低欠陥のSiCウェーハの開発が 進められています。 X線CTは非破壊で物質の形状を3次元的に可視化し、定量評価できる手法です。 PDF資料にて、SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡 (X線CT)で観察した際のCT像をご覧いただけます。 【概要】 ■X線CTによるエッチピットの形状解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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高温XRDによる極薄膜の結晶性評価

温度条件による相変化・化学反応・格子定数の変化を知るために有効な手段!

当社で行う「高温XRDによる極薄膜の結晶性評価」についてご紹介いたします。 高温でのX線回折(XRD)は、各種材料の温度条件による相変化・化学反応・ 格子定数の変化を知るために有効な手段です。 添付のPDF資料にて、nmオーダの極薄膜の結晶構造の変化をIn-PlaneXRD+ 高温測定で評価した事例をご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。 【高温+In-Plane XRD 特長】 ■極低角でX線を入射して面内方向に検出器を走査させる方法 ■入射X線は表面から深くまで入らず、かつ表面に対して  垂直な回折面のみを検出することができる ■数nmの極薄膜についても結晶の情報を得ることができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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光電子分光による表面酸化膜の膜厚評価

Si基板上のSiO2表面酸化膜について、光電子分光から酸化膜厚を算出!

酸化膜の形成プロセスにおいて、酸化膜厚の制御は非常に重要な項目の1つです。 そこで、光電子分光を用いて表面酸化膜の膜厚を非破壊で見積りました。 表面が薄い酸化膜で覆われているような試料の場合、多くの元素の光電子ピークは 酸化物成分と基板成分に対応して2つのピーク構造を示します。各成分のスペクトル 強度を測定することによって酸化膜の膜厚を見積ることができます。 非破壊にて膜厚を求める分析手法はいくつかありますが、他の手法に比べ、 特定箇所の膜厚の見積りが可能であるところが、この手法の特長です。 ※記事の詳細内容は、添付のPDF資料より閲覧いただけます。  詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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ウェーハベベル評価技術

感度・定量に特化したSIMS(D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立!

ウェーハベベル部の成分評価は一般的にTEMやTOF-SIMSで行われていますが、 これらの手法はいずれも感度や定量に制限があり、微量の成分評価は困難と されてきました。 今回、新たに開発した専用治具を用いることで、感度・定量に特化したSIMS (D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立しました。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【技術概要】 ■傾けた不安定な状態の試料の位置ずれ、検出安定性の低下を  防止するために専用治具で固定 ■測定位置を高精度かつ自由度高く選択することができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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X線反射率測定(XRR)による薄膜評価

膜構造・組成情報があらかじめ分かれば、多層膜もシミュレーションにより評価可能!

当社で行う「X線反射率測定(XRR)による薄膜評価」についてご紹介いたします。 X線反射率測定(XRR)は、臨海全反射各近傍でのX線の減衰や干渉縞のある X線プロファイルと計算で得られたプロファイルをフィッティングさせることで、 表面(界面)粗さ・膜密度・膜厚の情報を得ることができます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【解析可能な薄膜】 ■試料表面:鏡面(表面粗さ 5nm以下) ■試料サイズ:30mm×30mm以上 ※サイズが小さい場合はご相談 ■膜厚:2nm~500nm ■必要な情報:膜構造および膜組成情報 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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半導体の表面・薄膜解析

表面の化学組成、結合状態および不純物分布などを詳しく調査!

当社で行う「半導体の表面・薄膜解析」についてご紹介いたします。 半導体デバイスのプロセス開発・工程管理・不良解析において、材料評価・ 故障モードの特定に有効な分析をご提案。 表面の化学組成、結合状態および不純物分布などを詳しく調べ、研究開発 および製造プロセス・不良解析に役立つ情報をご提供します。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【最表面】 ■組成:XPS ■結合状態:XPS ■汚染:TOF-SIMS・ICP-MS ■ラフネス:AFM・SEM ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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金属表面のコーティング膜解析

金属との接合状態や樹脂材料成分の分散状態を明確に観察可能!

当社で行う「金属表面のコーティング膜解析」についてご紹介します。 金属表面に腐食防止などを目的に形成されたコーティング膜(樹脂や セラミックス)を評価する際には、イオンミリングによる断面加工を施す ことで、金属との接合状態や樹脂材料成分の分散状態を明確に観察可能。 イオンミリングは、SEMなどの断面観察用の試料作製に用います。Arイオンを 試料の加工該当部に照射し、そのスパッタ効果を用いて加工します。 【イオンミリング加工のメリット】 ■介在物を脱粒させずに、そのままの状態で確認できる ■空隙が確認された場合は、脱粒によるものではないことが特定できる ■元素分布確認(EDS分析)にて、白色樹脂内の粒子、金属との界面、  金属表面のメッキ層の積層が明確に確認可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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急速温度変化チャンバーを使った温度サイクル試験(温度勾配制御)

勾配制御可能な温度サイクル槽で車載向け試験で使用できます

JEDEC規格(JESD22-A104)に準拠した 温度サイクル試験が可能です。

  • その他半導体製造装置
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ラマン分光分析システム

ラマン分光分析システム

■ 高いS/N比 ■ ローコストタイプ-分解能25cm-1、TEクーリング機能なし ■ ハイパフォーマンスタイプ−分解能8cm-1、TEクーリング機能付 ■ 励起レーザー514nm、532nm、633nm、785nm

  • 光学測定器
  • マイクロスコープ
  • 分光分析装置
  • 材料分析

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無償分析セミナー|Smart CHART

【無償】分析基礎セミナー開催!貴社の分析スキルアップにご活用ください

Smart CHARTは各種表面分析手法について、一目で分析領域と検出下限の関係がわかるようにEAGでデザインしたチャートです。表面分析手法が一望できるので、分析手法の種類を知りたい場合や分析手法を選択するときなどの目安に役立ちます。 ●無償の分析基礎セミナー開催 Smart CHARTにある分析手法をベースとした、オンライン形式の分析基礎セミナーを無償で開催しています。分析基礎セミナーでは各分析手法の原理・特徴および各手法から得られる分析結果について分かりやすくご説明いたします。 また、TEM/STEM (透過型電子顕微鏡分析)やSIMS(二次イオン質量分析)、PCOR-SIMS(Point by point Corrected 二次イオン質量分析法)といった分析手法の応用セミナーも無償開催しています。 セミナーはお客様ごとにアレンジして個別開催をしています。開催ご希望の際はお気軽に弊社までお問合せください。

  • 受託解析
  • 受託検査
  • 受託測定
  • 材料分析

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材料分析について

微小差異解析ワークフローを提案!膨大な成分の中から差の原因となる化合物を特定

材料分析における主な事例として、発生ガス分析、組成分析、分子構造 解析等があります。 当社では、高分子材料の発生ガス分析、熱分解生成物分析、添加剤分析、 劣化解析などに有用なGC-TOFMSを提供。分析目的に合わせた2つのシリーズを ラインアップしております。 お客様の様々なニーズに応じた材料解析手法をご提案しております。 【ラインアップ】 ■Pegasus BT ■Pegasus BT 4D ■Pegasus HRT+ ■Pegasus HRT+4D ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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可搬型金属材料分析装置 belec compact port

可搬型金属材料分析装置 belec compact port

ポータブル(モバイル)タイプながら、検出器に高感度のフォトマルチプライヤーを採用 抜群の安定性で、屋外でのPMI検査に最適な金属材料分析装置 【特徴】 ○実験室や研究室以外の場所で各種金属材料の定量分析が可能 ○材料の切り出し不要。プローブタイプながら優れた性能 ○専用カートで移動が可能な可搬型(船中、建設現場、各ヤード等) ○PMI検査に最適 ○タッチスクリーンにより操作が簡単 ○温度安定型分光器の採用により、温度変化の影響を受けず高精度で安定した分析が可能 ○高感度フォトマルチプライヤー搭載 ○広範囲なダイナミックレンジ ○最大36チャンネル、6ベース(マルチベース・アプリケーションに最適) ○オプションのバッテリーシステムや小型発電機を使用することで  AC電源のない場所でも分析が可能 ○WindowsXPベースの、扱いやすいbelec win21ソフトウェア ○短時間での発光分光分析が可能

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リアルタイム発光分光分析システムCrevPEM

業界初!リアルタイムでプラズマのバックグラウンドを分析!エンドポイントモニタとしても応用可能。驚きの低価格OESソフトウェア

大阪大学との産学共同開発で実現! 業界初の、リアルタイムでプラズマの連続スペクトルによるバックグラウンドを分析するシステムです。 これにより、リアルタイムで分子の変動を監視することができ、プローブ法より早く電子温度推測が可能になりました。 ターゲット分子は自由に設定できますので、プラズマだけでなく幅広い分野に応用可能です。 エンドポイントモニタとしての機能も搭載していますので、製造現場にも活用いただけます。 分光器とソフトウェアのセットで大変お求めやすい価格で導入いただけます。

  • その他計測・記録・測定器
  • 電圧計
  • 材料分析

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太陽光発電設備の不具合調査

太陽電池モジュールや太陽光発電設備でのお困りごとの解決策を、故障検出の知見を活かしご提案いたします。

●太陽電池モジュールの評価/分析 太陽電池モジュールの故障解析や性能評価を実施します。 ・非破壊検査:製品出荷検査と同等のEL測定や出力測定にて、故障状態を顕在化します。 ・破壊検査:不具合部分の断面成分解析等にて、故障原因を特定します。 ●現地調査 自然災害等による太陽光パネルの被害状況や、発電低下部分の原因追及を行います。 ・ソラメンテによる測定をはじめ適切な方法をご提案し、故障状況や原因を調査します。 ・調査結果より、保険会社向けの調査報告書をご提出します。

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液晶材料分析

豊富な装置と知見!化学機器分析で材料全般の分子構造を解明いたします!

液晶材料には様々な種類があり、LCDパネルに使用する低分子もあれば、 プリント基板や電装部品などに使用される高分子もあります。 それら低分子液晶、高分子液晶(LCP)の分子構造を解析した事例をご紹介。 当社では、豊富な装置と知見で、液晶材料のみならず、様々な素材の 信頼性試験、分析解析にご対応いたします。海外輸入品・素材の分子構造の 把握や不具合解明など、お気軽にご相談ください。 【事例内容】 ■FT-IR分析による分子構造解析 ■XPS(ESCA)分析による表面官能基(分子団)の把握 ■GC-MSによるLCD用液晶材料分析例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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