携帯端末基板検査治具
高周波とメカトロニクス技術で科学技術ソリューションを提供
森田テック社の取り扱う携帯端末基板検査治具です。 その他電磁波測定関連製品を数多く取り揃えております。
- 企業:森田テック株式会社
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年03月26日~2025年04月22日
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高周波とメカトロニクス技術で科学技術ソリューションを提供
森田テック社の取り扱う携帯端末基板検査治具です。 その他電磁波測定関連製品を数多く取り揃えております。
フィクスチャー治具/検査治具の設計・製造
プリント基板回路試験(機能試験)を手動式プレスシステムとピンボードを組み合わせ、1度に複数個所の測定が実施出来、複数回に分け試験を行うことが不要になり試験時間の短縮(効率よく)出来る。
製品の測定や品質保証、組付け補助など多様な治工具の製作が可能です。
高品質を確保するために欠かすことのできない検査治具においても、当社は 自社製造しています。 操作性に優れ、安定した精度、さらには耐食性に優れた検査治具を提供。 各種製品の寸法精度を測定し、インストルメントパネル、ドア、シートなど 多彩な製品の仕様寸法を測定するための検査治具や製品成形を補助するための巻込治具や曲げ治具を製作をしています。 金型製品から検査治具に至るまで高い技術を総合的に提供します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最小ピッチ30μmマトリクスの実績!狭ピッチプローブ設定が可能な半導体検査治具
『プローブカード』は、半導体検査工程でLSI(半導体集積回路)製造の ウエハーテスト工程で、シリコンウエハー上に形成されたLSIチップの 電気的検査に用いる治具です。 ワイヤープローブを使用することでプローブを垂直に立てることが可能。 より自由なプローブ配置が行えます。 また、垂直に検査対象物と接触することで、従来型のカンチレバー タイプのプローブに比べ検査キズ(打痕)の大幅な改善が期待できます。 【特長】 ■垂直コンタクト ■ピン間ピッチ ■多ピン設定、多面同測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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