1～4 件を表示 ／ 全 4 件
高品質の構造解析をリーズナブルな価格でご提供！
当社では、構造解析に関して評価を基にして実施する構造解析・CAEの サービスを行っています。 通常一件ごとに受託していますが、これに加えて定額サービス （解析のサブスクリプション）もご利用可能。 高品質の構造解析をリーズナブルな価格で提供させていただきます。 ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。 【コース】 ■半年コース ■1年コースA ■1年コースB ■1年コースC ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お問い合わせください。
STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表面を保護するサンプリング法”により損失なしで確認可能です
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「STEMによるAuめっきされたコネクタ端子接点不良解析」 を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本STEMに加えTEM、SEM各種断面解析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜形状や層構造を確認でき半導体の不具合原因究明に応用できます
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 加えて以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」 を紹介しています。 本事例は問題なしの結果でしたが、異常検出も可能です。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本STEMに加えFIBとの併用で、試料のある領域に対して3D構築を行う不良個所特定も得意としております。 実際に紹介いたしますのでお気軽にお声がけいただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
製品設計や形状最適化、トラブル対応などで構造解析は重要。 経験豊富な技術者がお客様の解析目的に応じた適切な解析手法をご提案。
構造解析では、製品における基本的な問題を確認する為に用いられます。 どのくらいの力が発生するか？どのくらい変形するか？などを確認し、安全性の確認や品質向上などに役立てる事ができます。 自動車，航空宇宙，鉄道，船舶，プラント，産業機械，建設機械，土木建築，医療分野など、様々な分野で利用されています。 【特徴】 ・経験豊富な技術者による提案型受託解析。 ・条件設定の検討や解析結果による改善策などの提案。 ・『高品質』『短納期』『コストパフォーマンス』を徹底追及。 ・使用ソフトは、世界的にも信頼性が高く高精度な『ABAQUS』や『NASTRAN』などを採用。 ・リピート率の高さ 【対象製品例】 ・自動車 ・航空機 ・鉄道 ・船舶 ・プラント設備機器（圧力容器，配管など） ・建設機械 ・工作機械やプレス機など ・金型，治具など ・半導体装置 ・ロボットアーム ・産業用装置 ・橋梁・ダム ・医療機器・介護設備 など、様々なところで活用されています。 詳細は、資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧ください。
