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測定プログラム - 企業2社の製品一覧

製品一覧

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IV特性/IVL特性の自動測定プログラム

半導体や材料のIV特性の測定に最適

本商品は、市販の計測器を使用して、半導体や材料の「IV特性」(電流電圧特性)を 自動的に測定するためのソフトウェアです。

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誘電体共振器用マイクロ波表面抵抗測定プログラム

精度の高い測定が可能!

一連の測定はNational Instruments社のLabVIEW上でプログラム化され、測定値の計算処理はほぼ瞬時に行われます。測定結果である無負荷Q値はほぼリアルタイムで制御用コンピュータに表示され、テキストファイルとしてデータは保存されます。なお、測定の律速となるのはネットワークアナライザの測定時間であり、特に本ソフトウェアでは通常の伝送測定に加えて反射測定も行うので測定には数秒の時間が掛かります。したがって、測定中の共振器の温度変化には注意して下さい。

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