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測定器×ナプソン株式会社 - 企業1社の製品一覧

製品一覧

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測定器『FLA-200』

ウエハフラットネス測定システム!

『FLA-200』は、非接触式のフラットネス・厚さ測定システムです。 ウエハサンプルのフラットネス(TTV、BOW、WARP)、厚さを測定します。 厚さ、TTV、BOW、Warp、サイトフラットネス、グローバルフラットネス の測定に対応 (ASTM準拠)しており、CSVファイルでのデータ出力も可能 です。 また、お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■2-D 3-Dマッピング表示対応のソフトウエア ■5mmφコア静電容量式プローブによる、高精度測定 ■12 000点スキャン/60秒以内の高速測定 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

  • その他 計測・測定機器
  • 半導体・IC

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測定器『SRS-2010』

カスタマイズ可能な拡がり抵抗測定器

『SRS-2010』は、2探針法の拡がり抵抗測定システムです。 試料の深さ方向の抵抗率分布、エピタキシャル層の厚さ、PN接合の深さ、 キャリア濃度分布を求めることが可能です。 数mm角の領域から、数百μm程度のパターン領域の分析ができます。 測定した拡がり抵抗から、較正曲線を用いて低効率を算出します。 お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■2探針法 ■パターン領域の分析が可能 ■抵抗率を算出 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

  • 半導体・IC
  • その他 計測・測定機器

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