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状態分析 - 企業2社の製品一覧

製品一覧

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EPMAによる状態分析

標準スペクトルと比較することで結合状態を推定!EPMAによる状態分析をご紹介

EPMAによる状態分析では、酸化物やケイ酸塩の化学結合状態(イオン価、 結晶構造、配位数)の異なりから、特性X線ピーク波長に変化(シフトや波形)が 生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合材等に対して、EPMAによる酸化状態の 把握ができます。 【装置仕様】 ■日本電子(株)製 Jeol-8200 ■分析方式:波長分散型X線分析(WDX) ■分析可能元素:B~U ■エネルギー分解能:20eV(EDXは約130eV) ■検出限界:0.01%~ ■最大試料寸法:100x100mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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磁性金属多層膜の組成・状態分析

磁気抵抗素子の特性は、各種分析手法を組み合わせで解析することが重要!

当社で行う「磁性金属多層膜の組成・状態分析」についてご紹介します。 GMR素子やMTJ素子(磁性金属多層膜を含むスピントロニクス素子)は、 HDD装置の磁気ヘッドやMRAMへの実用化が進んでいます。 このような磁気抵抗素子の特性は、構造や界面により大きく変化するため、 それら挙動を各種分析手法を組み合わせで解析することが重要です。 【界面の状態解析】 ■XPS ■HAXPES ■TEM-EELS ■3DAP(APT) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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