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膜厚測定(受け) - メーカー・企業と製品の一覧

膜厚測定の製品一覧

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非破壊膜厚測定『PosiTest』

コンパクト、軽量、安定した精密さ。どんな場所でも使用可能!

『PosiTest』は、正確、高信頼性な非破壊測定が可能です。 カーバイドチップを使用しているため寿命が長く精度を維持。 ダイヤルカバーの中央を動かすだけで簡単にキャリブレーションの 再調整が可能です。 全体でパーツにフィット、先端部だけでも測定できます。 【特長】 ■NIST準拠のキャリブレーション ■全てのアプリケーションに適合するスケールレンジ ■国際標準に準拠 ■丈夫な構造でショック、水、酸や溶剤の影響を受けない ■独特なデザインで持ちやすく測定中にずれない ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • 膜厚計

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顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定

反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

フィルムやガラス等の透明な基板サンプルの場合、基板の裏面からの反射の影響を受けると正確な測定ができません。 OPTMシリーズの反射対物レンズを使用すると、物理的に裏面反射を除去することができ、透明基板でも高精度に測定ができます。 また、フィルムやSiC等の光学異方性をもつサンプルに対してもその影響を受けること無く上面の膜のみの測定を行うことが可能です。 (特許取得済 第5172203号)

  • 反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定.jpg
  • 分析機器・装置

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