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太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測
PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。
太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測
PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。
太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。
PVX1000+POPLI-Octaは、太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症している欠陥箇所を簡便に特定します。
太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。
PVX1000+POPLI-Octaは、太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症している欠陥箇所を簡便に特定します。
キーワード： 科学・技術教育 エネルギー・環境教育 AI・ICT の効果的活用（情報教育） 教師教育・教員研修
本研究室では、学校教育や社会教育で利用する体験型の教材・教具・カリキュラムなどの開発・提案をおこなっています。最先端科学技術の教育への応用や、基礎・基本を定着させるための指導方法を研究テーマとして、学校の授業をより良くすることを目的に研究しています。 そこで本研究室で対象とする分野は、 (1)技術教育・科学教育・情報教育に関する研究 (2)教師教育に関する研究 (3)環境教育・エネルギー教育に関する研究 (4)認知心理学に基づく授業分析 (5) ICT の効果的な活用を通した学力向上 などです。予測困難な未来に対して、感性を磨く体験的な学習活動を通して、身についた「知識」と「技能」が『知恵』として転移できるような教材やカリキュラムを提供したいと思っています。
