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試験ソケット×Boyd Technologies Japan合同会社 - 企業1社の製品一覧

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QFN半導体パッケージのバーンイン試験用ソケット

狭ピッチに対応したQFNパッケージ試験用ソケット。半導体部品の歩留り改善に

精密機器の小型化に欠かせない、QFN半導体パッケージ。不良品を出さないために、より高精度・高効率で品質試験を行えるのがバーンインソケット『790シリーズ』です。 ■端子ピッチは0.4、0.5、0.8、1.0mmに対応 ■オープントップタイプで、自動/手動挿抜にも最適 ■HASTやTHBなどの過酷な環境試験にも使用可能 ■ファインピッチデバイスの位置決め精度を向上 など、バーンイン試験の精度アップが図れます。

  • その他検査機器・装置

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