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非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！
当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15 25 30 50 80 100 230MHz ■音響レンズ/透過法：15 25 30 50 100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
異なる複数の層の深さを同時スキャン可能！水温度コントロールユニット内蔵
クオルテックでは、超音波顕微鏡『Gen6』を導入いたしました。 従来機に比較し、機能・性能が大幅に向上。 Poly Gate機能を搭載しており、異なる複数の層の深さを同時スキャン できるほか、最大100層の計測が可能です。 また、トランスデューサー周波数が230MHz→400MHzへアップしました。 【特長】 ■Poly Gate機能搭載 ■最大100層の計測が可能 ■最大走査範囲が60％拡大（面積比） ■トランスデューサー周波数がアップ（230MHz→400MHz） ■水温度コントロールユニット内蔵 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
検査・解析業務をスピーディかつ正確に行う高精度超音波顕微鏡！サンプル内部の状況を非破壊で観察可能！
『D9600 C-SAM』は、超音波顕微鏡のシェア世界トップレベルを誇るSonoscan社のスタンダードモデルの製品です。トランスデューザーによりサンプル内部の一定の深さ(焦点)位置に対して発振された超音波の反射波を捉えて画像化し、サンプル内部の状況を非破壊で観察することができます。材料の違う接合面や、空気層の存在する部分ではそれぞれ特異な反射をするため、これを正確に測定し解析することにより、正常な部分との微妙な違いを検出することができます。 【特長】 ■リニアモーター・スキャナー搭載 ■スキャン･リファレンス標準搭載 ■ゲート内の微弱な信号波形の変化もより高感度で検出し、画像化が可能 ■日本語、英語、中国語を含む多言語表示に対応 ■異なる複数の深さを同時にスキャン可能 ■最大100ゲートの計測が可能 ※詳細は資料請求して頂くか、ダウンロードからPDFデータをご覧下さい。
各層の界面波形を分離することが難しい解析をサポート！多言語表示にも対応します
『Gen6』は、ゲート内の微弱な信号波形の変化もより高感度で検出し、 画像化が可能な高精度超音波顕微鏡です。 異なる複数の深さを同時にスキャン可能。 最大100ゲートの計測ができます。 さらに、「SonoSimulator」搭載により、各層の界面波形を分離することが 難しいスタック・ダイや薄膜多層サンプルの解析をサポートします。 【特長】 ■高速サンプリングレート ■水再循環システム ■PolyGate機能搭載 ■スキャン・リファレンス標準搭載 ■Windows7(64bit)対応 商号：日本バーンズ株式会社 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
