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主成分の特定のためには多成分の半定量分析、 注目成分の管理には定量分析など、用途に合わせて分析を実施いたします。
培養液中にはアミノ酸・有機酸・ビタミン・核酸関連化合物、 さらに細胞から分泌される代謝物など様々な化合物が含まれています。 カネカテクノリサーチでは、 培養液に含まれる多くの有機・無機成分を種々の分析法を用いて 半定量・定量することが可能です。 得られたデータを多変量解析して生産率を左右する要因成分を発見し、 問題解決に有用な情報をご提供致します。 ■分析方法 主成分の特定：多成分の半定量分析 注目成分の管理：定量分析など 〈使用装置〉LC-MS/MS、CE-TOF/MS、GC/MS、 IC、ICP-AES、ICP-MSなど 再生細胞などの医療分野・食品分野の研究・開発にも この技術を応用していただくことができます。
質量分析装置ASTONを用いた様々なアプリケーションをご紹介します。
質量分析装置ASTONを使ったアプリケーションノートをご紹介します。 ＜アプリケーションノート一覧＞ 1. ASTON Application Note_vol.1_チャンバークリーニング 2. ASTON Application Note_vol.3_エタノールの簡易成分分析 3. ASTON Application Note_vol.2_高感度終点検出_エッチングプロセスモニタ ※アプリケーションノートは、随時追加してまいります。
ノニオン界面活性剤を含む薬剤の異常品について成分調査を行いました！
当資料では、ノニオン界面活性剤のKMD plotの技術をご紹介しております。 界面活性剤は複数種をブレンドして使用されることが多く、個々の 界面活性剤だけを見ても多数の同族体で構成され、含有成分数が 100を超えることも珍しくありません。 このような場合にLC/Q-TOFMSとKMDプロット解析を用いれば、正常品と 異常品の違いを視覚的に判別できます。 【掲載内容】 ■LC/MSによる薬剤含有成分判別の困難さ ■LC/Q-TOFMSデータを用いたKMDプロット解析 ■原理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
LC/MS用脱塩チューブ“ソルナックチューブ”を使用！TFA除去の効果でシグナルが検出
酸性化合物を逆相分配クロマトグラフィーにより分析する際、解離抑制のために 酸性移動相（分析種のpKaより2以上低いpHに設定）を用いることがあります。 通常LC/MSで使える酸性移動相としては、酢酸、ギ酸、トリフルオロ酢酸（TFA） などが一般的であり、低いpHで使用するならTFAが適していますが、分析種を 負イオンで検出する場合、ほぼ100%の確率でイオン化抑制を起こすと考えられます。 酸性基を持ち極性が高いアミノ酸のメチオニンを試料として、ソルナックチューブで 溶離液中のTFAを除去して負イオン測定を行いました。 条件や分析結果の詳細は、カタログをダウンロードしてご覧ください。 【LC条件（一部）】 ■装置：Agilent 1200 ■流量：0.3 ml/min ■検出器：UV（210 nm） ■試料：メチオニン20ppm溶液 ■注入量：5 μL ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
感度・定量に特化したSIMS(D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立！
ウェーハベベル部の成分評価は一般的にTEMやTOF-SIMSで行われていますが、 これらの手法はいずれも感度や定量に制限があり、微量の成分評価は困難と されてきました。 今回、新たに開発した専用治具を用いることで、感度・定量に特化したSIMS (D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立しました。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【技術概要】 ■傾けた不安定な状態の試料の位置ずれ、検出安定性の低下を 防止するために専用治具で固定 ■測定位置を高精度かつ自由度高く選択することができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
プロトセラは、ペプチド探索法により高品質な試験を提供します！
『BLOTCHIP-MS法』は、一次元電気泳動から質量分析に至る工程を簡略化し、 大量検体の高速処理が可能なMALDI-TOF-MS用の新しい測定板(BLOTCHIP)を 用いた解析方法です。 ペプチドの質量分析を妨害するタンパク質や、生体組織からの抽出工程で 混入する高濃度の塩類は一次元電気泳動の工程で完全に除去し、ゲル中の ペプチドは電気転写によりBLOTCHIPへワンステップで写し取られることから、 従来法の煩雑な工程を省略した高速ペプチドーム解析法を確立しました。 BLOTCHIP-MS法は、バイオマーカーの開発以外にも様々な目的の ペプチド研究に応用することが可能です。 【特長】 ■前処理が簡便 ■除タンパクを行わないため従来法と比較してターゲットのロスが少ない ■ターゲットペプチドが既知の場合は定量分析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
分析事例プレゼント！食品や、石油、材料科学など複雑な試料分析に好適な質量分析装置
LECOの高性能質量分析装置は、データ取得速度、質量精度、同位体存在比、質量分解能およびダイナミックレンジにおいて、一切妥協をせずに開発された新設計の装置。世界中で、非常に複雑な試料の分析に使用されています。ISO-9001：2008に認定され、その品質は世界に認められています。 食品、香料、石油、環境問題、科学捜査、材料科学、メタボロミクスなど、いずれの分野の試料分析にも、皆様の要求に合わせた機器構成をご提供いたします。 【掲載事例】 ■香気成分分析における検体間の比較分析法 ■高分子材料における検体間差異解析法 ■メタボローム解析法 ■未知化合物同定へのアプローチ ※下記「ダウンロード」より、分析事例を無料でご覧いただけます！
バクテリアの同定、迅速、低コスト、高精度
■ 1検体あたり低コスト 数十円程度 ■ 7854種。オリジナルライブラリを拡張・共有可能 ■ スメア法で1検体を11分、96検体を100分で同定 （※標準的な場合です） ■ サンプル:バクテリア、酵母、カビなど ■ 糸状菌、抗酸菌のプロトコルを確立 ■ 使用装置：microflex LT、microflex LT smsrt MALDI-TOF質量分析装置
材料から微生物まで！種レベルまで同定できる強力な技術として誕生
当資料では、MALDI-TOF MSの誕生から、MALDIバイオタイパー開発とその用途の拡大などについて解説しております。 MALDI-TOF MSの歴史、商用MALDI-TOF MSシステムの製造において ブルカー社における科学者達の初期の役割、そしてこの技術の 普及が及ぼした影響について振り返ります。 是非、ご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■はじめに ■MALDIの誕生と草創期の歴史 ■ブルカー初の商用MALDI-TOF MSシステム ■MALDI-TOF MSの初期の用途 ■MALDI-TOF MSシステムの使い勝手の改善 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属成分と有機成分を同時に評価可能です
半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点から、ウエハの裏面の清浄度向上に加え、ウエハのベベル部に残留する物質を除去することが求められています。今回、ベベル傾斜面のTOF-SIMS分析を行い、汚染の分布を評価しました（図2）。また、付着物と正常部・汚染源のマススペクトルを比較し、付着物は汚染源の金属（Cr）成分・有機物成分と一致していることがわかりました。 TOF-SIMSにてベベル部（端面と傾斜面）の汚染の発生工程を捉える事が可能です。
加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS、TOF-SIMS、TEM+EDXなどで評価可能
リチウムイオン二次電池の開発には、高性能化・長寿命化・信頼性向上などの課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。
ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能
半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点からウエハ裏面に残留する金属を除去することが求められており、金属成分の残留量を定量的に把握することが重要です。 ベベル部から500umの範囲で裏面に残留する金属濃度分布を調査するため、TOF-SIMSを用いて評価を行いました。TOF-SIMSはベベル部近傍のみの金属成分を検出する空間分解能を有しており、濃度既知の標準試料を用いることで濃度を定量的に算出することが可能です。
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能
TOF-SIMSで得られる分子情報の深さ方向分析では、（1）深さ方向分解能が良い、（2）酸化物・窒化物・ふッ化物・炭化物・合金・金属など無機物の化学状態の区別が可能、（3）微量な状態の評価が可能、（4）OHのモニターが可能、（5）相対的なサンプル間の比較（膜厚・組成）が可能、（6）イメージ分析により表面数nm程度について状態の分布を視覚的に捕らえた評価が可能です。 自然酸化膜と酸化膜の結果をまとめます。 測定法：TOF-SIMS 製品分野：LSI・メモリ 分析目的：化学結合状態評価・組成分布評価・腐食層の膜厚 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捕らえることが可能
アルミニウム電極表面のOHやフッ化物は電極の腐食原因の一つであり、アルミニウム表面の状態を調査することは不良原因の調査に欠かせません。TOF-SIMSは最表面での深さ方向分解能に優れ、無機物の状態をモニターしながら高感度に深さ方向分布を測定することが可能です。OHと併せて深さ方向分布を評価することで、酸化膜厚の変化を伴わずにOHが増加していた現象を見出しました。このようにTOF-SIMSでは元素分析では得られない、無機物の分子情報の深さ方向分布を評価することが可能です。
300mmウェハをそのまま測定できます
TOF-SIMSには有機物、無機物を同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できる、300mmウェハのまま評価可能という特徴があり、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Si表面の有機汚染の除去効果の分析事例をご紹介します。XPSでアミン系有機物は極微量であることが確認されている試料について、TOF-SIMS分析を行いました。微小領域においても、このように極微量の成分まで測定可能です。
