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10cpsから1nAまで低ノイズ！最高レベルのダイナミックレンジ
当社が取り扱う、表面電離型質量分析装置『Phoenix TIMS』を ご紹介いたします。 試料中のSr、Nd、Os、Pb、Uなどの同位体分析を行う装置。 大容量イオンポンプによる最高レベルの真空度とアバンダンス感度が 備わっております。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■大容量イオンポンプによる最高レベルの真空度とアバンダンス感度 ■10cpsから1nAまで低ノイズ、アンプ減衰時間0.2秒以下のATONAアンプ ■最高レベルのダイナミックレンジを持つイオンカウンティング検出器 (1～300万カウント以上) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
90°半径27cmの大型マグネット！高精度IRMSの新しいスタンダード
当社が取り扱う、高精度安定同位体比質量分析装置『SIRIX IRMS』を ご紹介いたします。 長寿命の独立可動式ファラデー検出器9個を標準搭載。 高感度で、高い質量分解能の光学設計を組み合わせた製品です。 また、m/z44、45、46、47、48、49の同時測定ができます。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■長寿命の独立可動式ファラデー検出器9個を標準搭載 ■90°半径27cmの大型マグネット ■m/z44、45、46、47、48、49の同時測定 ■ATONAアンプ：1e-^7Aから1e-^17Aまでのイオン信号を正確かつ 精度よく検出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最小レベルのイオンシグネチャでも再現性のある結果を得ることができます！。総合カタログと事例資料を進呈中
質量分析テクノロジーとデータ取得のアプリケーション例について ご紹介いたします。 質量分析では、データキャプチャは大変困難なものですが、適切に設計 されたデジタイザを使用することで、その課題を大幅に軽減し最小レベルの イオンシグネチャでも再現性のある結果を得ることが可能。 MS(Mass Spectrometry)システムは、物質サンプルの化学組成の基本的な 分析を可能にします。これは、その高い特異性と定性的および定量的能力に おいて高く評価されています。 【概要(抜粋)】 ■Mass Spectrometry(質量分析) ■MSシステムの構成要素 ■MSシステムの要求性能 ■MSデジタイザ関連機能 ■低速応答システム ■高速応答システム ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
健康食品や飲料中のポリフェノール類を、マトリックスの影響を受けずに高感度・高選択的に一斉分析！
この技術資料では、飲料や健康食品中に含まれるポリフェノール類を、他の成分の影響を受けずに高感度に一斉分析した事例をご紹介します。分析には1.5 µmのソリッドコア粒子カラムを使用し、10分以内のグラジエント条件で36種類のポリフェノールを分離しました。各ポリフェノール類の標準試料を用いて検量線と検出下限を確認したところ、決定係数0.997以上の良好な直線性と、数ng/mLの検出下限を達成しました。また、複数の健康食品や飲料に対する添加回収試験では、約100%の回収率を得られ、食品成分の影響を受けずに正確に定量できることが確認されました。このシステムは、ポリフェノール類のような類似した構造の成分も確実に分離・検出でき、分析時間の短縮と高い再現性を提供します。さらに、コンパクトな設計と操作の簡便さにより、ルーチン分析を効率化します。 【特長】 ■ 36成分のポリフェノール類を一斉分析 ■ 1.5 µmソリッドコア粒子カラムによる高分離 ■ 数ng/mLの検出下限と高感度 ■ 決定係数0.997以上の良好な検量線 ■ 約100%の添加回収率で、食品成分の影響を受けずに正確に定量
サンプルスループットを向上！堅牢性やデータ品質を損なわずに、最高レベルの分析スピードと最短のサイクル時間を実現します。
『1290 Infinity II ハイスループットシステム』は、1290 Infinity II LCシステムをベースとして、堅牢性やデータ品質を損なわずに、最高レベルの分析スピードと最短のサイクル時間を実現します。 1290 Infinity II マルチサンプラは、最大16枚のマイクロタイタープレートを収容し、ハイスループットアプリケーションの要件に適合するように設計されています。 130MPa注入バルブとマルチウォッシュオプションの組み合わせにより、短いサイクル時間と最小のキャリーオーバーを容易に実現します。 【特長】 ■最高レベルのクロマトグラフィー性能、速度、互換性、柔軟性をもたらす ■45μLというきわめて低いディレイボリュームを兼ね備えている ■すべてのサンプルを効率的に冷却できる ■Agilent Max-Lightカートリッジフローセルを採用 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分析メソッドスカウティングから精製への直接スケールアップにより最大限の効率を実現
『1290 Infinity II 自動スケールアップ分取精製 LC/MSD システム』は、 分析スカウティングからグラムレベルのターゲット化合物精製へと直接 スケールアップできるワークフローソリューションです。 Automated Purificationソフトウェアにより、分析スケールから分取スケールへ精製メソッドを自動的に移管することも可能。 また、マストリガーが無駄のない精製プロセスを実現し、ラボの効率を 飛躍的に高めます。 【特長】 ■低ディレイボリュームによりピーク拡散とキャリーオーバーを最小化 ■高精度の回収率を維持しながら、幅広いフラクションサイズに対応 ■自動フラクションディレイセンサ技術を搭載し、化合物のロスをなくして採取フラクションの純度と回収率を向上 ■採取フラクションの自動再分析により精製状態を瞬時に確認 ■シングル四重極 LC/MSD が高純度フラクションの効率的な採取をサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
独自技術の融合による最高の性能で、お客様の分析上の課題にお応えします！
『NexION 1000』は、日常業務として微量レベルの多元素分析を行うのに 理想的な高スループットなシステムです。 当社独自のUniversal Cell Technologyを備えており、シングルガスを用いた コリジョンモードとリアクションモードの切り替えにより、効率的な干渉除去 を実現します。 また、優れたスピードと操作性を提供するために独自の技術を多数搭載し、 従来にも増して分析業務の効率を高めます。 【特長】 ■強力な干渉除去能力 ■メンテナンスはほぼ不要のため高い稼働率 ■LumiCoilテクノロジーによるプラズマの生成には水やガスによる冷却が不要 ■収束効果の高いイオンビームを生成 ■非イオン成分を完全に除去 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
優れた安定性！従来のトリプル四重極システムと異なり、4段階の質量分解能を持っています
『NexION 5000』は、困難なアプリケーションに対処するために設計された、 真のトリプル四重極を搭載した革新的なマルチ四重極ICP-MSです。 高分解能形ICP-MSや従来のトリプル四重極ICP-MSを超えて、卓越したBECを提供。 従来のトリプル四重極システムと異なり、4段階の質量分解能を持っています。 また、RFコイルには水やガスによる冷却を必要としない、長寿命なLumiCoilを 採用しています。 【特長】 ■卓越したスペクトル干渉除去 ■優れた安定性 ■優れたマトリックス耐性 ■最小限のメンテナンス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「タバコ煙SPME-GCxGC-TOFMS」のスペシャルレポートです。
LECOジャパンでは、LECO社の分析装置でお客様の分析業務がより高精度化、効率化、安全性を図れるであろうサンプルをピックアップしスペシャルレポートとしてご案内いたします。是非ご覧ください。また、類似のサンプルに応用できるかがお知りになりたい場合は、気兼ねなくお問い合わせください。
複雑な用途の分析に最適！高精度・高速そして使いやすさを兼ね備えた質量分析装置の総合ラインナップ無料ダウンロード！
LECOの機器は世界中で日々、今日における非常に複雑な試料の分析に使用されています。食品、香料、石油、環境問題、科学捜査、材料科学、メタボロミクスなど、いずれの分野の試料分析にも、皆様の要求に合わせた機器構成をご提供します。 LECO社の機器は、精度、処理速度、および使いやすさにおいて高い評価を得ています。品質方針は、ISO-9001：2008に認定されております。 【ラインナップ】 ○包括的二次元ガスクロマトグラフ飛行時間型質量分析装置「Pegasus 4D-C GC×GC-TOFMS」 ○ベンチトップタイプ飛行時間型質量分析装置「Pegasus BT 4D」 ○超高分解能ガスクロマトグラフ飛行時間型質量分析装置「Pegasus GC-HRT+4D」 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
データ、サイズ、価格のすべてにおいてスマート！
『ベンチトップGC-TOFMSシステムPegasus BT』は、新しく開発されたコンパクトなハードウェアと パワフルなChromaTOFブランドのソフトウェアの組み合わせにより、高い装置性能と包括的なデータを 日々の分析で得ることが出来ます。 食品の風味や香料・メタボロミクス・化学工業・フードセーフティなど、多くの分野で威力を発揮します。 ■メンテナンスフリーのイオン源で高い生産性 ■自動デコンボリューションで高品質なマススペクトル ■強化された感度と定量性により追加のターゲット分析不要 ◎詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「GC-MSによる土壌中の爆発性残留物の包括的分析」のスペシャルレポートです
LECOジャパンでは、LECO社の分析装置でお客様の分析業務がより高精度化、効率化、安全性を図れるであろうサンプルをピックアップしスペシャルレポートとしてご案内いたします。是非ご覧ください。また、類似のサンプルに応用できるかがお知りになりたい場合は、気兼ねなくお問い合わせください。
「GCxGC-MSによる原油中のバイオマーカーの特定」のスペシャルレポートです
LECOジャパンでは、LECO社の分析装置でお客様の分析業務がより高精度化、効率化、安全性を図れるであろうサンプルをピックアップしスペシャルレポートとしてご案内いたします。是非ご覧ください。また、類似のサンプルに応用できるかがお知りになりたい場合は、気兼ねなくお問い合わせください。
2点の問題を解決するために濃度既知の試料を3点以上分析。
歪 Si デバイスに用いられる組成比勾配を持つ Si(1-x)Gex膜の深さ方向に 対するGeの濃度分布を正確に定量するのに SIMS(2 次イオン質量分析法)が 用いられます。 SIMS で Si(1-x)Gex 膜を分析する際に 2 点解決しなければならない問題があり、 1点目はSi に対する Ge の2次イオン強度が組成比の変化に伴い大きく変化 するので、組成比毎の相対感度因子を決定する必要があります。 もう一点は、Si と Ge の組成比が変化する事により分析点毎のスパッタリング レートが変化するので、組成比とスパッタリングレートとの関係を求める 必要があります。 この2点の問題を解決するために濃度既知の試料を3点以上分析し、RSF と スパッタリングレートが決定しました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
化合物半導体系超格子サンプルを使用した深さ分解能測定の結果を掲載！
当事例集は、イオン注入、成膜・分析、研究・事業化マネジメントの サービスなどを提供している株式会社イオンテクノセンターの 深さ分解能測定の結果を掲載している事例集です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によって、 Al0.28Ga0.72As/GaAsを50nmずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した 化合物半導体サンプルを試料として用いて、深さ分解を求めた結果を 掲載しています。 【掲載概要】 ■深さ分解能測定の結果 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お客様の装置を最適な状態でお使いいただくために、さまざまなサービスパッケージをご用意しています。
いつでも最適なサポートを提供するために、カスタマーサポートのスペシャリストがお客様のお手伝いをします。装置の納入時から、設置、調整、装置性能のチェック、試験結果など、お客様の個々の測定ニーズにお応えするサービスを提供します。
絶対値として質量数を検出！化合物の組成に関する情報を得る事が出来ます
当社では『MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析』を行っております。 「MALDI-TOFMS」では、顔料など不溶性であったり分子量が大きい物質の 分子量情報、合成ポリマーなどの分子量情報、末端基情報などを得る事が可能。 合成化合物の質量確認や、他の分析手法と組み合わせての構造解析など、 お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法（MALDI法）採用 ■化合物の組成に関する情報を得る事が出来る ■GPCに対しては小さく、LCMSに対しては大きいようなポリマーの分析に好適 ■絶対値とし て質量数が検出される ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
官能基や骨格構造など、様々な分析手法から情報を得て解析！質量分析ガイドをご紹介
当資料では、質量分析ガイドをご紹介しております。 有機化合物の分析では化合物が有する官能基、骨格構造、質量など、 様々な分析手法から情報を得て解析を行います。 化合物の質量を知る為の分析として様々な手法があり、それぞれ得意な 分析内容や対象があります。また、用途に合わせて使い分けたり、 他の分析手法と組み合わせて使うことで必要な情報を得る事が出来ます。 【掲載内容】 ■質量分析で主に用いられる手法 ・GC-MS ・LC-MS ・MALDI-TOFMS ・GPC ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
イオンを検出器で検出し、定性・定量をおこなう分析手法です
液体クロマトグラフィー（LC）は、クロマトグラフ法の一種に分類され、液体状のサンプルをクロマトグラフィーの原理により成分の分離を行います。ここで分離された成分の検出を質量分析計で行うものを液体クロマトグラフィー質量分析法（LC/MS）と言います。 LC/MSは有機化合物の定性・定量を行う分析手法です。 ・分子量が比較的大きいまたは極性が比較的高い成分の分析に有効 ・イオン化方法を選択することにより、熱に不安定な物質などにも対応可能 ・様々なイオン化法があり、成分に最適なイオン化法で検出することが可能（エレクトロスプレーイオン化法（ESI）・大気圧化学イオン化法（APCI）・大気圧光イオン化法（APPI）） ・Time-of-Flight法を利用した質量分析器により、高い質量分解能を得ることが可能
サンプルを加熱することによって生じる重量変化・示差熱・熱量および揮発成分の質量を測定
TG-DTAは、加熱によって生じる重量変化（TG）、吸熱・発熱の熱挙動（DTA）を同時に評価します。 またTG-DTA-MSはTG, DTAの評価に加え、揮発成分の評価(MS)を連続して行います。 ・TGにより、%オーダーの重量変化を捉えることが可能 ・DTAにより、熱分解・融解・昇華・酸化・燃焼・相転移等の反応の知見を得ることが可能 ・MSにより、揮発成分や分解物の構造推定が可能
酸化物デバイスにおける局所元素分布を酸素同位体を用いて高感度に評価
酸化物ReRAMでは、電場印加に伴う酸素拡散がメモリ動作（抵抗変化）と関連しているとされていました。 SIMS分析では同位体を測定可能であるため、同位体18Oイオン注入技術を利用すれば、酸素拡散の追跡が可能となります。18Oを局所的に注入した素子に対し、電場印加により動作領域となるブリッジ構造を形成し、元素マッピングを行った結果、ブリッジ部では18Oの強度が弱く、局所的に還元されていることが分かりました。
表面の凹凸の影響を受けない高精度な測定が可能です
太陽電池では太陽光を有効に吸収するために表面凹凸を活用しています。SIMS分析を行う上で、表面の凹凸は深さ方向分解能の低下を招きます。表面からの測定では表面凹凸及びノックオンの影響により、CIGS中へCd、 Zn、 Oなどが拡散しているように見えます（図3）が、基板側（裏面側）から測定することにより、Cd、 Zn、 OなどのCIGS層中への顕著な拡散がないことがわかります。（図4） 相互拡散の他にも、主成分（Cu、 In、 Ga、 Se）の組成変化、不純物（B、 Na、 Fe）の濃度分布の評価が可能です。
膜厚1nm程度のSiON中Nの評価が可能
高感度なSIMS分析が得意とする低濃度領域に至るまで、SiON膜中Nの分布を深さ方向に評価し、N量（単位：atoms/cm2）を高い精度で評価が可能です（図1）。またNをatomic%へ変換(図2)、Nのフィッテングカーブ算出することができ、フィッティングによりNのピーク濃度・深さ・半値幅を算出(図3)することが可能です。
SSDP-SIMSによる測定面の凹凸・高濃度層の影響を避けた測定
基板側からSIMS分析（SSDP-SIMS）を行うことで、表面の凹凸・スパッタに伴う表面側高濃度層からのノックオンの影響を受けない測定が可能です。ゲート電極（BドープPoly-Si）から基板へのボロンの突き抜け量を評価しました。基板側からの測定ではノックオンなどの影響が見られず、より正確な突き抜け量評価が可能であることがわかります。このように、バリアメタルのバリア性・Low-k膜中への金属の入り込み・凹凸のあるシリサイド直下の評価にSSDP-SIMSが有効です。
SIMS：二次イオン質量分析法
■極浅深さ方向分布の測定法 （1）斜入射法における深さ方向分解能の限界 斜入射法における深さ方向分解能の一次イオンエネルギー依存性をδドープ試料を用いて調査しました（図1）。斜入射法においては、クレータ底面の粗れにより深さ方向分解能の向上に限界があることがわかります（図2）。 （2）垂直入射法による深さ方向分解能の向上 垂直及び斜入射法におけるBピーク（δドープ試料）の半値幅と一次イオンエネルギーの関係を図3に示します。斜入射法では分解能の向上に限界のあった一次イオンエネルギー1keV以下の領域において、垂直入射法では分解能の向上が達成されています。
｢重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析
厚み1um以下の薄膜における水(H2O)の浸透性を、膜中の重水素(D)の分布を測定することで評価した事例をご紹介します。薄膜中にもともと水素（H)が存在する場合、水の影響による水素であるかを区別することが困難です。そこで、重水（D2O)による処理を行い、天然同位体である重水素の分布をSIMS※1にて深さ方向に測定しました。重水素の深さ方向分布を調べることで、水がどの深さまで浸透したかを推定することが可能です。
対象元素に応じて測定条件を選択
フレキシブル薄膜Si太陽電池において、a-Si(アモルファスシリコン)中のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。樹脂で封止されたサンプルを解体し、SIMS分析を行いました。 Bの分析(図3)では表面側の浅い箇所に存在するため、深さ方向分解能を高めて測定を行いました。 Pの分析(図4)ではa-Si中に多量のHが存在して質量干渉を起こすため、高質量分解能法によりH+Siを分離してPのみを検出する条件で測定を行いました。
雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価
大気暴露することで劣化が生じる有機材料について、GCIB（Arクラスター）を用いて劣化成分を深さ方向に分析した事例を紹介します。実験には有機EL原料のルブレンを用いました。大気暴露したサンプルをTOF-SIMSで測定をした結果、ルブレンペルオキシドと推定される質量（m/z 564）や、低分子のベンゼン系の質量（m/z 77、105）が検出されました。これらの劣化に起因する成分は、表面から約1μm以上の深さにわたって存在していることを確認しました。※GCIB：Gas Cluster Ion Beam
ppmレベルの添加物の分布を高感度に評価可能
携帯端末などの電子機器に用いられる鉛フリーはんだの接合部には高い耐衝撃性が求められています。 この課題を解決するため、Niなどの元素を微量に添加したはんだ合金が開発されています。本資料ではSn-Ag-Cu系の鉛フリーはんだに、微量のNi、Geが添加された5元系はんだと、添加物無の3元系はんだについて、高感度分析を得意とするD-SIMSのイメージングにより面内分布を比較した事例をご紹介します。
化合物半導体の主成分元素の組成を深さ方向に評価可能
一般的にSIMSでは含有量が％を超える主成分レベルの元素の定量性は低いとされていますが、一次イオンにCs+を用いたMCs+(M:着目元素）検出モードを用いることで、主成分元素の深さ方向の組成分布を求めることが可能です。 AlGaAs中のAl、Gaについて、深さ方向の組成評価を行った例を示します。
