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10cpsから1nAまで低ノイズ！最高レベルのダイナミックレンジ
当社が取り扱う、表面電離型質量分析装置『Phoenix TIMS』を ご紹介いたします。 試料中のSr、Nd、Os、Pb、Uなどの同位体分析を行う装置。 大容量イオンポンプによる最高レベルの真空度とアバンダンス感度が 備わっております。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■大容量イオンポンプによる最高レベルの真空度とアバンダンス感度 ■10cpsから1nAまで低ノイズ、アンプ減衰時間0.2秒以下のATONAアンプ ■最高レベルのダイナミックレンジを持つイオンカウンティング検出器 (1～300万カウント以上) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
90°半径27cmの大型マグネット！高精度IRMSの新しいスタンダード
当社が取り扱う、高精度安定同位体比質量分析装置『SIRIX IRMS』を ご紹介いたします。 長寿命の独立可動式ファラデー検出器9個を標準搭載。 高感度で、高い質量分解能の光学設計を組み合わせた製品です。 また、m/z44、45、46、47、48、49の同時測定ができます。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■長寿命の独立可動式ファラデー検出器9個を標準搭載 ■90°半径27cmの大型マグネット ■m/z44、45、46、47、48、49の同時測定 ■ATONAアンプ：1e-^7Aから1e-^17Aまでのイオン信号を正確かつ 精度よく検出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
サンプルスループットを向上！堅牢性やデータ品質を損なわずに、最高レベルの分析スピードと最短のサイクル時間を実現します。
『1290 Infinity II ハイスループットシステム』は、1290 Infinity II LCシステムをベースとして、堅牢性やデータ品質を損なわずに、最高レベルの分析スピードと最短のサイクル時間を実現します。 1290 Infinity II マルチサンプラは、最大16枚のマイクロタイタープレートを収容し、ハイスループットアプリケーションの要件に適合するように設計されています。 130MPa注入バルブとマルチウォッシュオプションの組み合わせにより、短いサイクル時間と最小のキャリーオーバーを容易に実現します。 【特長】 ■最高レベルのクロマトグラフィー性能、速度、互換性、柔軟性をもたらす ■45μLというきわめて低いディレイボリュームを兼ね備えている ■すべてのサンプルを効率的に冷却できる ■Agilent Max-Lightカートリッジフローセルを採用 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分析メソッドスカウティングから精製への直接スケールアップにより最大限の効率を実現
『1290 Infinity II 自動スケールアップ分取精製 LC/MSD システム』は、 分析スカウティングからグラムレベルのターゲット化合物精製へと直接 スケールアップできるワークフローソリューションです。 Automated Purificationソフトウェアにより、分析スケールから分取スケールへ精製メソッドを自動的に移管することも可能。 また、マストリガーが無駄のない精製プロセスを実現し、ラボの効率を 飛躍的に高めます。 【特長】 ■低ディレイボリュームによりピーク拡散とキャリーオーバーを最小化 ■高精度の回収率を維持しながら、幅広いフラクションサイズに対応 ■自動フラクションディレイセンサ技術を搭載し、化合物のロスをなくして採取フラクションの純度と回収率を向上 ■採取フラクションの自動再分析により精製状態を瞬時に確認 ■シングル四重極 LC/MSD が高純度フラクションの効率的な採取をサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
独自技術の融合による最高の性能で、お客様の分析上の課題にお応えします！
『NexION 1000』は、日常業務として微量レベルの多元素分析を行うのに 理想的な高スループットなシステムです。 当社独自のUniversal Cell Technologyを備えており、シングルガスを用いた コリジョンモードとリアクションモードの切り替えにより、効率的な干渉除去 を実現します。 また、優れたスピードと操作性を提供するために独自の技術を多数搭載し、 従来にも増して分析業務の効率を高めます。 【特長】 ■強力な干渉除去能力 ■メンテナンスはほぼ不要のため高い稼働率 ■LumiCoilテクノロジーによるプラズマの生成には水やガスによる冷却が不要 ■収束効果の高いイオンビームを生成 ■非イオン成分を完全に除去 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
優れた安定性！従来のトリプル四重極システムと異なり、4段階の質量分解能を持っています
『NexION 5000』は、困難なアプリケーションに対処するために設計された、 真のトリプル四重極を搭載した革新的なマルチ四重極ICP-MSです。 高分解能形ICP-MSや従来のトリプル四重極ICP-MSを超えて、卓越したBECを提供。 従来のトリプル四重極システムと異なり、4段階の質量分解能を持っています。 また、RFコイルには水やガスによる冷却を必要としない、長寿命なLumiCoilを 採用しています。 【特長】 ■卓越したスペクトル干渉除去 ■優れた安定性 ■優れたマトリックス耐性 ■最小限のメンテナンス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「タバコ煙SPME-GCxGC-TOFMS」のスペシャルレポートです。
LECOジャパンでは、LECO社の分析装置でお客様の分析業務がより高精度化、効率化、安全性を図れるであろうサンプルをピックアップしスペシャルレポートとしてご案内いたします。是非ご覧ください。また、類似のサンプルに応用できるかがお知りになりたい場合は、気兼ねなくお問い合わせください。
複雑な用途の分析に最適！高精度・高速そして使いやすさを兼ね備えた質量分析装置の総合ラインナップ無料ダウンロード！
LECOの機器は世界中で日々、今日における非常に複雑な試料の分析に使用されています。食品、香料、石油、環境問題、科学捜査、材料科学、メタボロミクスなど、いずれの分野の試料分析にも、皆様の要求に合わせた機器構成をご提供します。 LECO社の機器は、精度、処理速度、および使いやすさにおいて高い評価を得ています。品質方針は、ISO-9001：2008に認定されております。 【ラインナップ】 ○包括的二次元ガスクロマトグラフ飛行時間型質量分析装置「Pegasus 4D-C GC×GC-TOFMS」 ○ベンチトップタイプ飛行時間型質量分析装置「Pegasus BT 4D」 ○超高分解能ガスクロマトグラフ飛行時間型質量分析装置「Pegasus GC-HRT+4D」 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
データ、サイズ、価格のすべてにおいてスマート！
『ベンチトップGC-TOFMSシステムPegasus BT』は、新しく開発されたコンパクトなハードウェアと パワフルなChromaTOFブランドのソフトウェアの組み合わせにより、高い装置性能と包括的なデータを 日々の分析で得ることが出来ます。 食品の風味や香料・メタボロミクス・化学工業・フードセーフティなど、多くの分野で威力を発揮します。 ■メンテナンスフリーのイオン源で高い生産性 ■自動デコンボリューションで高品質なマススペクトル ■強化された感度と定量性により追加のターゲット分析不要 ◎詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「GC-MSによる土壌中の爆発性残留物の包括的分析」のスペシャルレポートです
LECOジャパンでは、LECO社の分析装置でお客様の分析業務がより高精度化、効率化、安全性を図れるであろうサンプルをピックアップしスペシャルレポートとしてご案内いたします。是非ご覧ください。また、類似のサンプルに応用できるかがお知りになりたい場合は、気兼ねなくお問い合わせください。
「GCxGC-MSによる原油中のバイオマーカーの特定」のスペシャルレポートです
LECOジャパンでは、LECO社の分析装置でお客様の分析業務がより高精度化、効率化、安全性を図れるであろうサンプルをピックアップしスペシャルレポートとしてご案内いたします。是非ご覧ください。また、類似のサンプルに応用できるかがお知りになりたい場合は、気兼ねなくお問い合わせください。
2点の問題を解決するために濃度既知の試料を3点以上分析。
歪 Si デバイスに用いられる組成比勾配を持つ Si(1-x)Gex膜の深さ方向に 対するGeの濃度分布を正確に定量するのに SIMS(2 次イオン質量分析法)が 用いられます。 SIMS で Si(1-x)Gex 膜を分析する際に 2 点解決しなければならない問題があり、 1点目はSi に対する Ge の2次イオン強度が組成比の変化に伴い大きく変化 するので、組成比毎の相対感度因子を決定する必要があります。 もう一点は、Si と Ge の組成比が変化する事により分析点毎のスパッタリング レートが変化するので、組成比とスパッタリングレートとの関係を求める 必要があります。 この2点の問題を解決するために濃度既知の試料を3点以上分析し、RSF と スパッタリングレートが決定しました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
化合物半導体系超格子サンプルを使用した深さ分解能測定の結果を掲載！
当事例集は、イオン注入、成膜・分析、研究・事業化マネジメントの サービスなどを提供している株式会社イオンテクノセンターの 深さ分解能測定の結果を掲載している事例集です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によって、 Al0.28Ga0.72As/GaAsを50nmずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した 化合物半導体サンプルを試料として用いて、深さ分解を求めた結果を 掲載しています。 【掲載概要】 ■深さ分解能測定の結果 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お客様の装置を最適な状態でお使いいただくために、さまざまなサービスパッケージをご用意しています。
いつでも最適なサポートを提供するために、カスタマーサポートのスペシャリストがお客様のお手伝いをします。装置の納入時から、設置、調整、装置性能のチェック、試験結果など、お客様の個々の測定ニーズにお応えするサービスを提供します。
官能基や骨格構造など、様々な分析手法から情報を得て解析！質量分析ガイドをご紹介
当資料では、質量分析ガイドをご紹介しております。 有機化合物の分析では化合物が有する官能基、骨格構造、質量など、 様々な分析手法から情報を得て解析を行います。 化合物の質量を知る為の分析として様々な手法があり、それぞれ得意な 分析内容や対象があります。また、用途に合わせて使い分けたり、 他の分析手法と組み合わせて使うことで必要な情報を得る事が出来ます。 【掲載内容】 ■質量分析で主に用いられる手法 ・GC-MS ・LC-MS ・MALDI-TOFMS ・GPC ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
