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品質管理や汚染源特定の為の迅速で簡便な菌株タイピング
■ 1検体あたり低コスト400円 程度 ■ 様々な微生物種（一般細菌・酵母など）で適用可能 ■ 簡単な手技で結果まで３時間以内で解析 （※標準的な 場合です） ■ 同一菌種の菌株間での識別に対応 ■ 解析領域を自由に選択が可能 ■ 人工知能の学習機能により血清型別などのタイピング解析が可能 ■ 解析領域の差分表示機能による新規解析メソッド作成が可能 ■ 使用装置：微生物菌株タイピングシステム IR バイオタイパー
微生物検査では、迅速さと精度がカギを握る
■ 1検体あたり低コスト 数十円程度 ■ 一般細菌（グラム陰性/陽性菌）4274種。オリジナルライブラリを拡張・共有可能 ■ セルスメア法で1検体を1分、96検体を40分程度で同定 （※標準的な 場合です） ■ サンプル:一般細菌（グラム陰性/陽性菌）、酵母、カビなど ■ 糸状菌、抗酸菌のプロトコルを確立 ■ AOACのOMA（公認法）認証済 ■ オーディット対応のソフトウェア（21CFR Part11サポート） ■測定用レーザーの7年間もしくは5億ショットのどちらか早い方でメーカー保証 ■ネガティブイオンモードによる脂質での難同定細菌の識別 ( ネガティブイオンモードはsiriusのみ搭載） ■ 使用装置：微生物迅速同定 MALDIバイオタイパーsirius /sirius one
材料から微生物まで！種レベルまで同定できる強力な技術として誕生
当資料では、MALDI-TOF MSの誕生から、MALDIバイオタイパー開発とその用途の拡大などについて解説しております。 MALDI-TOF MSの歴史、商用MALDI-TOF MSシステムの製造において ブルカー社における科学者達の初期の役割、そしてこの技術の 普及が及ぼした影響について振り返ります。 是非、ご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■はじめに ■MALDIの誕生と草創期の歴史 ■ブルカー初の商用MALDI-TOF MSシステム ■MALDI-TOF MSの初期の用途 ■MALDI-TOF MSシステムの使い勝手の改善 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
糸状菌の問題に挑む！ライブラリ構築のための液体培養法を標準化
カビや多細胞菌類などの糸状菌の困難な同定を容易にするために、 当社では、MALDIバイオタイパー(MBT)糸状菌ライブラリのリファレンススペクトルを作成するための培養方法と 同定までの標準的な3段階のワークフローを開発しました。 このカタログでは、寒天培地から直接測定が可能な分析や、 糸状菌の3段階の同定ワークフローなどを掲載しております。 是非、ご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■MALDIバイオタイパー 糸状菌の問題に挑む ■日常検査のワークフロー：寒天培地から直接測定が可能な分析 ■糸状菌の多様性を補うための3段階の同定ワークフロー ■単なるライブラリを越えて ■MBT Filamentous Fungi ライブラリ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※本製品は研究用です。臨床診断目的には使用できません。
洗浄不要・分析結果の信頼性向上！ディスポーザブルターゲットプレート
『MBT Biotarget 96』は、MALDIバイオタイパー専用の使い捨てターゲットプレートです。 未使用スポットを無駄にすることなく96スポットを全て使用することができます。 また、1枚ごとに異なるバーコード付きで、トレーサビリティを支援します。 親水性の試料塗布部を囲むように、疎水性の表面処理が施され、これにより 液体がスポットに集中し、きれいな円状に試薬を塗布することが可能。 洗浄作業の撤廃による作業時間の削減、コンタミネーション防止による 分析結果の信頼性向上など、検査室・分析室の運営管理の観点から 支持をいただき、確かな実績を積んでいます。 【特長】 ■洗浄が不要 ■洗浄不足によるコンタミネーションの防止 ■サンプルのスポットからの流出を抑制 ■無駄なく96スポットを利用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
環境分析のアプリケーションと装置
【飲料水・環境水分析】 実践に即した測定手順と高感度で、信頼性の高い精密な分析結果を得ることができます。飲料水、地下水、環境水、プール水などを簡単にモニターすることができ、一般的な基準や規制を満たす、あるいはそれ以上の効果が期待できます。 【排水分析】 都市排水、工業排水、埋立地浸出水など、サンプルの前処理や粒子の処理に必要な労力を大幅に削減し、サンプルの測定時間を短縮します。 【土壌・廃棄物・汚泥分析】 固体分析ソリューションは、サンプルの準備を迅速化し、さらに分析結果の精度を高めることができます当社の分析装置は、掘削や農地からの土壌、下水処理場の沈殿物や汚泥など、有害物質や有毒物質を含む家庭廃棄物や産業廃棄物の分析に最適です。 【大気分析】 アナリティクイエナの元素分析および生物分析ソリューションは、汚染防止のための合理化されたプロセスと信頼できるデータを提供します。 当社の分析装置は、火力発電所や蒸発冷却システムの産業プロセスを監視するのに特に役立ちます。
ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの分析に好適！
『ダイナミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。 定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が 可能。(当社の協力会社での分析実施) 最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スループット(24試料/ロード) ■比類のないデプスプロファイリング能力と高いデプス分解能、 広ダイナミックレンジ ■ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの 分析に最適化 ■最高検出限界：ppmからppb (10^-6〜10^-9) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
薄塗は2mm程、厚塗は4mm程を塗布！シリコーンコーキング材の分析例をご紹介
「ヘッドスペースGC/MS(HS-GC/MS)」による、硬化後の シリコーンコーキング材を分析した事例をご紹介します。 薄塗は2mm程、厚塗は4mm程を塗布。硬化させた後に200℃加熱し、 発生したガスを分析しました。 結果として、薄塗、厚塗問わず、ほぼ同強度でシロキサン由来の ピークを検出し、塗量に関わらず加熱時にシロキサン発生量には 差異がないことが確認できました。 【概要】 ＜内容＞ ■シリコーンコーキング材を硬化させた後に200℃加熱し、 発生したガスを分析 ＜結果＞ ■薄塗、厚塗問わず、ほぼ同強度でシロキサン由来のピークを検出 ■塗量に関わらず、加熱時にシロキサン発生量には差異がないことを確認 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です
イオンを試料表面に入射させると、試料表面からは電子・中性粒子・イオンなど様々な粒子が放出されます。SIMSは、これらの粒子のうちイオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です。 ・高感度（ppb～ppm） ・HからUまでの全元素の分析が可能 ・検出濃度範囲が広い（主成分元素から極微量不純物まで） ・標準試料を用いて定量分析が可能 ・深さ方向分析が可能 ・数～数十nmの深さ方向分解能での評価が可能 ・数μm角までの微小領域の測定が可能 ・同位体分析が可能 ・破壊分析
試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です
試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。 スパッタイオン源を用いて、深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。 ・有機・無機化合物の構造解析・同定が可能 ・異物検査装置の座標データとリンケージが可能 ・ミクロンオーダーの微小異物から数cmまでの定性が可能 ・最表面を感度よく分析することが可能 ・イメージ分析が可能 ・深さ方向分析の定性分析が可能
導結合プラズマ（ICP）を励起源として用いた無機元素分析の手法です
ICP-MSは溶液を分析するため、固体分析では作製が難しい標準試料を比較的容易に調製することが可能です。そのため、溶液中の極微量な無機元素を精確に定量する場合に頻繁に用いられています。 ・高感度・低バックグラウンドな測定が可能なため、無機元素分析用装置としては最も低い含有量（ppt*あるいはサブpptレベル）を検出できます。(＊：ppt：10-12g/g) ・定量分析の比較基準となる標準試料（標準溶液）の調製を柔軟に行うことができるため、不確かさの小さな結果を得ることができます。 ・周期表の多くの元素を同時に測定可能なため定性分析が可能です。また、広いダイナミックレンジを備えており主成分から微量成分までを同時に分析可能です。
微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる分析が可能
二次イオン質量分析法（SIMS）を用いて、市販ＴＦＴ液晶ディスプレイのデータ信号配線とゲート電極配線の交差部（4μm×10μm）を、基板側から分析（SSDP-SIMS）した例を示します。 基板側から測定（SSDP-SIMS）を行うことにより、表面側の高濃度層や金属膜などの影響がないデータの提供が可能となります。
TOF-SIMSを用いた生体成分のコレステロール・脂肪酸の可視化
人の毛髪（抜け毛と引き抜いたもの）の毛根部をSiウェハに押し付け、転写された成分についてイメージング測定（面分析）を行いました。抜け毛は毛根の先端にのみ、■K、 ●リン脂質が強い傾向が見られます。また、毛根部全体には、■CnHmCOOH(ｎ=17～31)の脂肪酸（人の皮脂由来）、●角栓由来のアミド系成分、◆質量が500～700の含窒素有機酸、◆質量が800付近の有機物が凝集していると考えられますが、引き抜いた毛髪に見られる■人の皮脂由来のCOOHを2つ含む有機物は弱い傾向が見られます。
TOF-SIMSによるミクロンオーダーのイメージ測定
ポリエチレン表面に分散した青色色素「Cuフタロシアニン」の分布を調べました。 TOF-SIMS分析にて、1μmの色素系有機物の分布を捉えることが可能です。
金属成分と有機成分を同時に評価可能です
半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点から、ウエハの裏面の清浄度向上に加え、ウエハのベベル部に残留する物質を除去することが求められています。今回、ベベル傾斜面のTOF-SIMS分析を行い、汚染の分布を評価しました（図2）。また、付着物と正常部・汚染源のマススペクトルを比較し、付着物は汚染源の金属（Cr）成分・有機物成分と一致していることがわかりました。 TOF-SIMSにてベベル部（端面と傾斜面）の汚染の発生工程を捉える事が可能です。
高い再現精度で評価可能
デバイスの微細化により、極浅い領域における不純物の深さ方向分布評価が必要とされています。正確な評価を行うためには、通常よりも低いエネルギー(1keV以下)の一次イオンビームを用いたSIMS分析が必要になります。今回、B+を低エネルギーでイオン注入したSiウエハを1keVの酸素イオンビームを用いて、日をまたいで、6回測定した結果から算出したBの面密度の相対標準偏差は3%以下であり、極浅い不純物分布評価においても通常のSIMS分析と同様に高い再現精度が得られることが示されました。
TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定
剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。 ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、及び工程の調査に有効です。 測定法：TOF-SIMS・ピーリング・解体 製品分野：LSI・メモリ・製造装置・部品 分析目的：化学結合状態評価・故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS、TOF-SIMS、TEM+EDXなどで評価可能
リチウムイオン二次電池の開発には、高性能化・長寿命化・信頼性向上などの課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。
TOF-SIMSによる医薬品成分の可視化
キトサンは、抗菌性や保湿性などをもつため、医療、食品、化粧品、衣料品などの幅広い分野で用いられています。日常品である綿棒には、抗菌性をもたせるためキトサンを配合したものがあります。 そこで、マッピングにより可視化が可能であり、スペクトル測定により成分評価が可能なTOF-SIMSを用いて、綿棒に含まれるキトサンの評価を行いました。
ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能
半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点からウエハ裏面に残留する金属を除去することが求められており、金属成分の残留量を定量的に把握することが重要です。 ベベル部から500umの範囲で裏面に残留する金属濃度分布を調査するため、TOF-SIMSを用いて評価を行いました。TOF-SIMSはベベル部近傍のみの金属成分を検出する空間分解能を有しており、濃度既知の標準試料を用いることで濃度を定量的に算出することが可能です。
SiC中B、Al、N、P、Asについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能
SiCはその物性からパワーデバイス材料として用いられていますが、Siとは異なりイオン注入後の熱処理によるドーパントの拡散が困難なため、多段イオン注入により深さ方向への分布を制御する必要があります。SIMS分析は高感度（ｐｐｍ以下）で深さ方向の不純物濃度を評価することができるため、SiC中のドーパント元素の分布評価に適しています。また、軽元素（H、C、O、Fなど）の分布についても評価可能です。評価したい元素などお問い合わせください。
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能
TOF-SIMSで得られる分子情報の深さ方向分析では、（1）深さ方向分解能が良い、（2）酸化物・窒化物・ふッ化物・炭化物・合金・金属など無機物の化学状態の区別が可能、（3）微量な状態の評価が可能、（4）OHのモニターが可能、（5）相対的なサンプル間の比較（膜厚・組成）が可能、（6）イメージ分析により表面数nm程度について状態の分布を視覚的に捕らえた評価が可能です。 自然酸化膜と酸化膜の結果をまとめます。 測定法：TOF-SIMS 製品分野：LSI・メモリ 分析目的：化学結合状態評価・組成分布評価・腐食層の膜厚 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
300mmウェハをそのまま測定できます
TOF-SIMSには有機物、無機物を同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できる、300mmウェハのまま評価可能という特徴があり、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Si表面の有機汚染の除去効果の分析事例をご紹介します。XPSでアミン系有機物は極微量であることが確認されている試料について、TOF-SIMS分析を行いました。微小領域においても、このように極微量の成分まで測定可能です。
GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能
一般的にSIMSでは含有量が％を超える主成分レベルの元素の定量性は低いとされていますが、一次イオンにCs+を用いたMCs+(M:着目元素）検出モードを用いることで、主成分元素の深さ方向の組成分布を求めることが可能です。 GaN系LED構造におけるAl、Ga、Inについて、深さ方向の組成評価を行った例を示します。
裏面側からGaN系LED構造中の不純物プロファイルを取得可能
GaN系LEDにおいて、ドーパント元素であるMgが活性層まで拡散することにより発光効率が低下すると言われております。 本資料ではGaN系LED構造試料において、表面側及びサファイア基板側(裏面側)からSIMS分析を行い、Mgの深さ方向濃度分布を評価した事例をご紹介します。
SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定
IGZO膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいる材料です。IGZO膜中に金属元素が拡散するとTFT特性が劣化することが懸念されるため、IGZO膜を用いたデバイス特性および信頼性評価には膜中の金属濃度を精度良く測定する必要があります。 SSDP-SIMSを用いて金属電極の反対側からIGZO膜中のTi濃度を評価した事例をご紹介します。
2段階の加熱によりUV硬化系素材の分析が可能
熱分解GC/MSによる2段階加熱法を用いて、市販スマートフォンのディスプレイ周辺部封止剤の素材解析を行いました。低温(250℃)で試料を加熱し、発生したガス成分をGC/MS測定することにより、残存モノマーや低分子添加剤（重合開始剤、酸化防止剤）を検出することができます。引き続いて高温(550℃)で加熱することにより、高分子を分解してその構成成分を推定することができます。これにより封止剤はUV硬化系の素材であることがわかりました。
フィルム中の添加剤の表面およびGCIBを用いた深さ方向の分布評価
食品用ラップフィルムは製造過程での熱暴露に対する安定性や、可塑性を持たせるために添加剤が用いられる場合があります。これらの添加剤は調理条件下で変化することなく安定に存在することが求められます。本事例では添加剤の一つであるIrgafos168の存在状態が加熱前後で変化（ブリードアウト）するかについてTOF-SIMSを用いて調査した結果をご紹介します。※GCIB：Gas Cluster Ion Beam
酸素存在下での熱分解挙動の追跡が可能
材料を真空中あるいは窒素などの不活性気体中で加熱した時の分解挙動と、空気中で加熱した時の分解挙動は異なることがあります。そのため発生ガス分析を行う際は、実際に材料が暴露される環境と同じ環境下で加熱することが望まれます。 本事例ではポリスチレンをヘリウム中と空気中で550℃で熱分解した時の発生ガスの比較を行いました。ヘリウム中では炭化水素化合物のみが検出されたのに対し、空気中ではベンズアルデヒドなどの酸素との反応生成物も検出されました。
マウスの脛骨断面の組成分布をTOF-SIMSにより可視化
マウス脛骨の成分分布を評価するため、脛骨の切片を作成しTOF-SIMSによるイメージング分析を行いました。マウス由来成分であるK・Ca・リン酸Ca・リン脂質の分布が確認できました。 TOF-SIMSは成分を分子イオンの質量から同定するため、蛍光物質などの標識が不要なことから、標識物質の影響なく分布の評価が行えます。医薬品の動態解析やDDS（Drug Delivery System）研究など、臓器中の薬剤分布イメージングに応用が可能です。
