東レリサーチセンターの企業情報

有機化合物の構造解析を行う際、IR，NMR，MSは三種の神器とも言えるもので、正しい解析を行えば、かなり複雑な化合物でも構造を明らかにすることができます。しかし、実際のスペクトルは教科書のように、単一化合物ではないことも多く、解析初心者にとっては結果の解釈に頭を悩ませることも多いと思われます。また、構造解析においてデータベース検索は有用な手段でありますが、候補の中から正しい構造を取捨選択するためには、パターン合わせだけではなくスペクトルを読む力も必要となります。本講座では、簡単な原理解説も含め、IR、NMR、MSスペクトルの基本的なデータの見方、解析を行う際に注意すべき点、実際の解析の進め方などについて、一部演習もまじえて講義します。

高性能な半導体デバイスを作製するためには、デバイス形成に用いるそれぞれの材料の電気特性および物性を理解し、制御する必要がある。半導体デバイスの微細化と複雑化が極限まで進んでも、材料固有の特性を最大限活用することに変わりがないからである。本講座は、2部構成とし、前半は半導体デバイスに用いる絶縁膜や半導体の基礎的な電気特性である容量-電圧(C-V)特性や電流-電圧(I-V)特性を評価する上で有用な水銀プローブについて紹介し、各種物理分析と組み合わせて半導体材料の電気特性に影響を及ぼす膜質との関係を示す。後半では半導体デバイスの特性に影響を及ぼす欠陥を電気的に検出する手法であるDeep Level Transient Spectroscopy (DLTS)について、半導体や絶縁膜/半導体界面の欠陥を評価した事例を踏まえてその有用性を紹介する。

有機化合物の構造を決定するためには、その化合物の分子量を知ることは極めて重要であり、質量分析法は、IRやNMRと並んで有機化合物の構造解析に必要不可欠な手法です。ただし、質量分析を行うためには、化合物をイオン化しなければならず、その化合物の性質や分子量によって適切なイオン化法を選択する必要があります。本講座では、質量分析の原理、装置構成や各種イオン化法について、工業材料を分析する際のイオン化法選択の方法や注意点を含めて解説します。さらに、マススペクトルの解析法についても基礎的な演習を交えながら講義します。