東レリサーチセンターのニュース一覧

近年、ナノスケールでの材料評価ニーズの高まりに伴い、表面・界面の微細構造や物性を直接的に可視化できる走査型プローブ顕微鏡（SPM）の重要性が増している。SPMはAFM（原子間力顕微鏡）に代表される、探針と試料表面の相互作用を利用して高さや物性を測定する顕微鏡技術である。 本講座では、市販AFM装置をベースに、SPMの基本構造や測定原理を体系的に整理するとともに、装置の要素技術、カンチレバー選定、前処理、測定パラメータの考え方を解説する。さらに、機械物性・電磁気物性・化学物性評価といった応用事例も紹介し、形状観察にとどまらないSPM活用の実践的理解を目的とする。

高性能な半導体デバイスを作製するために、デバイス作製に用いるそれぞれの材料の電気特性および物性を理解し、制御する必要がある。 本講座は2部構成とし、前半は半導体デバイスの基礎的な電気特性である容量-電圧(C-V)特性や電流-電圧(I-V)特性の評価に水銀プローブを適用した事例を紹介し、各種物理分析と組み合わせて半導体デバイスの電気特性に影響を及ぼす膜質との関係を示す。 後半では半導体デバイスの特性に影響を及ぼす欠陥を電気的に検出する手法であるDeep Level Transient Spectroscopy (DLTS)について、半導体や絶縁膜/半導体界面の欠陥を評価した事例を踏まえてその有用性を紹介する。

【バルク体の力学特性評価(材料試験)】 材料の機械的特性評価は、設計・シミュレーションなどを行うための物性値の取得や材料の劣化現象の解明にも一助となります。 しかしながら、正確な物性値を得ることができなければ誤った結果が導かれてしまいます。本講座では、固体材料の機械特性の測定方法（引張・曲げ・圧縮などの静的材料試験）について解説し、各種測定事例と、近年機械特性評価の分野で利用されているデジタル画像相関法について紹介します。 【微小領域の力学特性評価(ナノインデンテーション)】 ナノインデンテーション法は、従来の硬さ試験の荷重・変位分解能を向上させた手法であり、薄膜や特定微細部位の機械特性評価方法として広く用いられています。近年では技術の進歩により、測定環境制御機能やAFM機能を活用したナノインデンテーション測定が行われるようになってきました。本講座では、基本原理や測定モードの解説と、各々の測定事例について紹介します。

身の回りの材料の変形・流動の性質は複雑であり、弾性力学や流体力学での表現は困難である。 一方で、レオロジーは変形と流動の科学であり、例えば、「室温で固体状であるプラスチックが高温で溶融させて成形される」や、「チューブから出したマヨネーズは形を保って流れないが、スプーンでかき混ぜると抵抗なく混ざる」といった、材料が持つ複雑な性質を系統的に表すことができる。 粘弾性に代表されるレオロジー測定は汎用性が高く比較的簡便に行えるようになっているが、経験の浅い初心者にとっては、信頼性高いデータを得るための手順や解釈などで、頭を悩ますことが多い。 本講座では、高分子材料にフォーカスして、レオロジーの基本概念について解説するとともに、具体的な測定事例や解析事例も紹介する。

近年、分析技術が大きく進歩し、ナノメートル（1ナノメートル＝10億分の1メートル）という非常に小さな世界の現象までも詳しく観察・解析できるようになってきました。その結果、材料の中にある原子や分子の分布、さらには化学反応の仕組みについての理解が大きく深まっています。しかし、原子や分子同士の複雑な相互作用や化学反応のメカニズムを、実験だけで完全に解明するのは難しいのが現状です。こうした課題に対して有効なアプローチの一つが、「分子シミュレーション」と呼ばれる計算手法です。 本講座では、分子シミュレーションの中でも特によく使われる3つの方法――「量子化学計算」「第一原理計算」「分子動力学シミュレーション」について、それぞれの概要と具体的な計算事例を交えながら分かりやすく紹介します。最先端の分析技術とコンピュータシミュレーションを組み合わせることで広がる新たな研究の可能性をぜひ体感してください。

東レリサーチセンターでは、経験豊富な講師による分析講座（有料セミナー）を開講しております。 2026年4月より、分析をご依頼いただいている企業様向けの新たなサービスとして「プレミアム年間パス」および「プレミアム10シートパス」の提供を開始いたしました。 プレミアムパスは、2026年度に開催予定の分析講座（全20講座）を対象に、複数講座・複数名での受講を想定したプランです。

有機化合物の構造を決定するためには、その化合物の分子量を知ることは極めて重要であり、質量分析法は、IRやNMRと並んで有機化合物の構造解析に必要不可欠な手法です。ただし、質量分析を行うためには、化合物をイオン化しなければならず、その化合物の性質や分子量によって適切なイオン化法を選択する必要があります。 本講座では、質量分析の原理、装置構成や各種イオン化法について、工業材料を分析する際のイオン化法選択の方法や注意点を含めて解説します。さらに、マススペクトルの解析法についても基礎的な演習を交えながら講義します。

来る2026年6月19日（金）に、株式会社東レリサーチセンターは、関東・東京開催として、大田区産業プラザ（PiO） 大ホールにて「半導体・電子材料ポスターセッション2026」を開催いたします。 本イベントは、半導体デバイス・装置・材料メーカーの皆様 を主な対象として、半導体・電子材料分野における 最新の分析技術と応用事例 を、研究者との直接対話形式でご紹介するイベントです。 当日は、 ・半導体・電子材料分野を網羅した 65件のポスター展示 ・先端デバイス・パッケージ・材料評価をテーマとした 技術講演 ・ポスター前で 研究者に直接相談・議論できるフリーディスカッション を予定しております。 ★本イベントへのご参加には、事前登録（無料）が必要です。当日参加はできませんので、必ず事前に以下「詳細・お申し込み」ボタンのリンク先ページよりお申込みください。 ★参加費は無料です。皆様のご参加を心よりお待ちしております。 【注意事項】 同業他社関係者の皆様にはご参加をご遠慮いただいております。何卒ご理解のほどよろしくお願い申し上げます。