更新日： 集計期間:2025年12月10日～2026年01月06日
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高速検査を省スペースで実現するコア検査ユニット ROM書き込みとの組み合わせもおススメ
量産基板対応の治具式の検査装置です。 従来のインサーキットテスタとしての使い方から、フラッシュプログラミング、ROM書き込みと連携による検査タクトの短縮といった近年のトレンドにも対応したコア検査モジュールです。 多機種少量生産向けのフライングプローブテスタFA1240はこちら https://www.ipros.jp/product/detail/2000026411
ASIC・コネクタなどの実装不良を検出！全ての機能をパソコンに収納
業界最低価格のインサーキットテスタでありながら、デジタル部品のベクターレス機能とJTAGテスト機能を併せ持ち、本格的・大型インサーキットテスタに匹敵するMDA（マニュファクチャリング・デフェクト・アナライザ）。
ノートPCで操作可能！レイアウトフリーな多彩なモデルのインサーキットテスター
『ZPC-IT9K』は、従来の操作性も残したWindowsプログラムで操作も 簡単なインサーキットテスターです。 ノートPCで操作可能なレイアウトフリーの多彩なモデルで、ZPC-1500/ 5000/7000の検査プログラムが使用可能。 フォトトランジスタのONテスト機能を標準装備しており、オプションにより Wプレス対応やエリアセンサーの取り付けなどが可能です。 【特長】 ■ノートPCで操作可能 ■レイアウトフリーな多彩なモデル ■従来の操作性も残したWindowsプログラムで操作も簡単 ■ZPC-1500/5000/7000の検査プログラムが使用可能 ■フォトトランジスタのONテスト機能を標準装備 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Windows7,10にて動作！超高速検査を実現したインサーキットテスター
『ESI-2020』は、OSにMicrosoft Windows7,10を採用した 高速インサーキットテスターです。 従来の当社ICT「ESI-2002」に比べ、約25%の検査時間の短縮を実現。 通信方式にEthernetを採用し、4端子低抵抗測定機能を標準装備しました。 立ち作業向けタテ型機「ESI-2020ST」やインライン機「ESI-2020STB」など、 ご使用の条件に合わせて4つのモデルから選択可能です。 【特長】 ■Windows 7,10にて動作 ■超高速検査を実現 ■通信方式にEthernetを採用 ■4端子低抵抗測定機能を標準装備 ■ESI-2002のデーターの共有化と多彩な編集機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
＊資料無料進展中 今更聞けないインサーキットテスタの基本について知らない方必見です！！
インサーキットテスト（プリント基板の電気検査）のプロービング方法には、治具式とフライングプローブ式とがあります。 「インサーキットテスタの基礎知識」資料をダウンロードし、ご覧ください。 治具式 コンタクトプローブが埋め込まれた検査治具を検査基板に接触、全てのプローブを同時に基板上の所定のテストポイントに接触させます。その状態で、計測ラインをリレーで切り替えながら各電子部品の検査を実行します。検査対象となる基板には，それぞれの検査を組み合わせるプログラムと，専用の治具を製作する必要があり，コスト、スピード、保管スペースの面で課題があります。 フライングプローブ式 プローブを保持した複数のアームが基板上の任意のポイントにプロービングを行います。プローブ移動時間が必要で、治具式と比較すると検査時間は長いですが，治具が不要でプログラム入れ替えだけで段取り替えできるため，工程トータルで見た場合、時間・コスト削減につなげられます。また、多品種少量生産の基板検査にも適します。テストポイントの座標も任意に変更でき、基板の部分的な設計変更への対応も容易です。試作基板検査や不良解析などでも利用されています。
『おかやまテクノロジー展(OTEX)2023』ご来場ありがとうございました。出展製品のカタログをご覧いただけます。
2023年11月7日（火）～8日（水）コンベックス岡山で開催の『おかやまテクノロジー展(OTEX)2023』にて、弊社ブースへお越しいただいた皆様、ありがとうございました。 「もう一度、展示内容をじっくり見たい」「関連カタログやパネルを手元で見たい」というご要望にお応えできるよう、タカヤブースでご紹介した製品カタログ・展示パネルを公開しています。ぜひご覧ください。
超精密基板や新素材を使用した高機能基板の検査が可能、プリント回路基板実装検査の新しい基準を確立、業界への貢献を期待
タカヤ株式会社は、「新技術を搭載したフライング式インサーキットテスタの開発」において、その技術的独自性と将来性が高く評価され、一般社団法人 日本電子回路工業会が主催する「第21回 JPCA賞（アワード）」にて 奨励賞を受賞いたしました。 JPCA賞（アワード）は、電子回路技術および関連産業の発展に寄与する優れた製品・技術を顕彰する制度であり、同工業会が主催する展示会「JPCA Show 2025（電子機器トータルソリューション展2025）」の出展者を対象に実施されています。 本賞では、応募された技術・製品に対し『独創性（独自性・オリジナリティ）』『産業界での発展性・将来性』『信頼性』『時世の適合性』といった観点から、学術界・電子回路業界・専門誌編集者などの有識者で構成される選考委員会による厳正な審査が行われます。2025年は 5件の優れた技術・製品が「第21回 JPCA賞（アワード）」として選出されました。当社は昨年に続き、2年連続での受賞となります。 このたびの受賞にあたり、選考委員の皆様をはじめ、日頃よりご支援・ご協力を賜っております関係者の皆様に心より御礼申し上げます。
実装基板検査の最高峰！
・アナログ部品テスト ・デジタル部品テスト ・バウンダリスキャンテスト ・ピン浮きテスト（FrameScanFx） ・ファンクションテスト その他、多彩なテスト方法をご提供致します。
JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立！
実装実験時に、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様の事例をご紹介します。 インサーキットテスト(ICT)の検査率や直行率の低下に対しても、 当製品を導入することにより効果的に解決されました。 【事例】 ■コニカミノルタ電子株式会社(山梨県東部) ・複合機や、高度な医療機器などの高密度実装基板や樹脂成形品を生産 ■課題 ・インサーキット検査の検査率や直行率の低下 ・少量多品種製品における検査費用の向上 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
インサーキットテストとJTAGバウンダリテストをシームレスに行えます。
株式会社ノアコーポレーションのインサーキットテスターは今まで別々に検査をしていた、インサーキットテストとJTAGバウンダリテストを同時に行うことができる製品です。検査装置を2つ置く必要が無く、1度で検査を済ますことができますので、工場ラインの工数削減、省スペース化を実現できます。管理をする上でも間違いが少なく、実用的なテスターといえます。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
協立テストシステムは、実装基板製造工程の検査機器を各種取り揃えております。お客様の生産ラインにピッタリ合わせたご提案が可能です。
デバッグ支援機能 今までライン投入後のデバッグに費やした時間は計り知れないと思います。 Focus-2000ではデバッグをより容易に、また、より正確な測定を行う為に、自動ガーディングピン設定などの様々なデバッグ支援機能があります。 検査速度の向上 パソコンから測定系統を直接制御する為信号処理に必要な時間を削除する事ができました。 また、ショート･オープンテスト時に一括ピン選択処理が大幅に改善され、トータルで当社比1.5倍の検査速度向上になりました。
協立テストシステムは、実装基板製造工程の検査機器を各種取り揃えております。お客様の生産ラインにピッタリ合わせたご提案が可能です。
デバッグ支援機能 今までライン投入後のデバッグに費やした時間は計り知れないと思います。 Focus-250ではデバッグをより容易に、また、より正確な測定を行う為に、自動ガーディングピン設定などの様々なデバッグ支援機能があります。 検査速度の向上 パソコンから測定系統を直接制御する為信号処理に必要な時間を削除する事ができました。 また、ショート･オープンテスト時に一括ピン選択処理が大幅に改善され、トータルで当社比1.5倍の検査速度向上になりました。
