インサーキットテストとJTAGバウンダリテストをシームレスに行えます。
株式会社ノアコーポレーションのインサーキットテスターは今まで別々に検査をしていた、インサーキットテストとJTAGバウンダリテストを同時に行うことができる製品です。検査装置を2つ置く必要が無く、1度で検査を済ますことができますので、工場ラインの工数削減、省スペース化を実現できます。管理をする上でも間違いが少なく、実用的なテスターといえます。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
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基本情報
【特徴】 ○ＪＴＡＧ対応デバイスの接続確認を手軽に行い、 従来のＪＴＡＧテストにあった「面倒」「煩雑」を排除 ○オプションでＪＴＡＧによるＦＰＧＡコンフィギュレーションにも対応 ○インサーキットテストとJTAGバウンダリテストをシームレスに行える ○独自の高速インターフェイス基板により検査速度の高速化を実現 ○スイッチング基板高密度化による省スペース設計 ○最新のＷｉｎｄｏｗｓ７をOSに採用 ○BSDLファイルの自動解析による使いやすい操作 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
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納期
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用途／実績例
【用途】 ○実装基板の検査・ＦＰＧＡの書込み・ケーブルハーネスのチェック ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
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企業情報
株式会社ノアコーポレーションは各種検査装置の設計開発・製造や半導体製造装置の設計・製造を主に行なっております。 今までの製品を「コスト」を抑えつつさらに「使いやすく」処理を「高速」にを目標に日々技術の向上を図っております。 今の現状で満足することなく、常に新しいことに挑戦し続けます。 技術・経験・意欲を生かし、お客様の様々なご要望にお答え致します。