超高速検査で実装基板の不良を検出。進化したインサーキットテスタ

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基本情報

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査 　

価格帯

納期

用途／実績例

【採用業界】 　EMS,EMDS企業 　半導体製造装置関係 　通信インフラ・サーバー 　車載・航空機・船舶 　医療機器 　産業機械、ロボット 　FA工作機械 　発電、電力システム 【活用事例】 ■量産品の検査　 　ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化/無人検査 ■多品種少量基板の検査　 　専用治具製作コスト不要　不良個所の特定が容易 ■試作基板の検査　 　設計変更に即応したファンクションテスト（基板に電圧を印加し、回路動作（ON/OFF）の確認や直流電流の測定） ■機種切り替え時の実装確認検査　 　ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時セット間違いの確認 ■不良解析検査　 　機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析 他にも、様々な用途で活用いただいている実績がございます。 詳しくは営業担当までお問い合わせください。

詳細情報

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  【垂直プロープシステム】 標準の傾斜プローブに、垂直プローブを追加することで、 高い部品の間にあるポイントや、ビア・スルーホール・上向きコネクタなど、 従来アクセスできなかった箇所へのコンタクトが可能となり、 不良検出能力をより高められます。 さらに、２種類の異なる垂直プローブを自動的に切り替える デュアルZ軸オプションの追加で、手作業によるプローブ交換が不要となり、 効率的な検査が行えます。

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  【インラインモデル】 ローダー/アンローダー/反転機などと連携することで、 量産工程での自動検査・無人検査を可能とします。 また、他社の3D_AOI(外観検査機)と併用で、AOIでは検出できない マイクロブリッジなどの検査をフライングプローブテスタが受け持つなど、 各々の特徴を活かして虚報排除、検査能力の向上とスピードアップを 実現されている例もございます。

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  【ICハンダ未接合検査】 独自開発のセンサプローブを用いて、 BGA, QFP, SOJなどのICリード浮き不良、 ハンダ不良を高速検出するシステムを搭載できます。 IC本体にダメージを与えることなく、狭ピッチICのリード浮き不良や、 BGAのボール浮き不良を電気的に検出可能です。

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  【カラーセンサーによるLED発光検査】 LEDを発光させ、独自開発したカラーセンサーを用いて 数値比較による明確な判定基準で安定検査できます。 LEDの目視検査は、検査員によるばらつきが発生したり、 作業者の目にダメージを与える懸念がありますが 当測定法であれば、そのような問題は起こりません。 また、専用治具を作成する手間/コストもかかりません。