オンライン用近赤外分析計(FT-NIR) MATRIX-F II
非破壊分析・品質管理に必需品となった近赤外分析計(FT-NIR)、プロセス管理においても信頼性の高い評価分析を実現します。
プロセス用近赤外分光計(FT-NIR)のMATRIX-F IIは設置環境を選ばない堅牢性と、再現性の高い分析結果を与える抜群の感度安定性が特徴です。
- 企業:ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格:応相談
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非破壊分析・品質管理に必需品となった近赤外分析計(FT-NIR)、プロセス管理においても信頼性の高い評価分析を実現します。
プロセス用近赤外分光計(FT-NIR)のMATRIX-F IIは設置環境を選ばない堅牢性と、再現性の高い分析結果を与える抜群の感度安定性が特徴です。