『半導体検査用コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』
検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査まで一貫対応
当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・ ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。 ☆コンタクトプローブ☆ 標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。 ☆プローブカード・ICソケット☆ 樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作） ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作） ◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 ＜コンタクトプローブ＞ ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」 ・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」 ＜ICソケット＞ ・非磁性対応ソケット ・高耐熱対応ソケット ＜プローブカード＞ ・min80μピッチ対応プローブカード ・大電流負荷試験プローブカード ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
- 企業：株式会社精研 本社
- 価格：応相談
