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摺動部に樹脂部品を採用、滑らかな動きが持続します。
【概要】 ○摺動部品が樹脂製。 ○摺動部品の耐久性：300万回以上* ○耐熱温度：60℃以下 ○安全電流：5～7A* ○取付部つば径：2.2～4.0mm ○プローブの抵抗値が低く、精密測定を可能にする一体型構造。 *耐久性や安全電流値は、プローブのサイズによって異なります。条件に合ったプローブをご提案します。詳しくはホームページからお問合せください。 ●サンケイエンジニアリング ホームページ● http://www.sankei-engineering.com/
高速摺動させても滑らかな動きが持続。
【概要】 ○摺動部品が樹脂製。 ○摺動部品の耐久性：500万回以上* ○耐熱温度：100℃以下 ○安全電流：5～35A* ○取付部つば径：2.2～9.0mm ○プローブの抵抗値が低く、精密測定を可能にする一体型構造。 *耐久性や安全電流値は、プローブのサイズによって異なります。条件に合ったプローブをご提案します。詳しくはホームページからお問合せください。 ●サンケイエンジニアリング ホームページ● http://www.sankei-engineering.com/
取付基板にネジ止めして、プローブを確実に固定。
【概要】 ○取付基板にネジ止めするタイプ ○摺動部品の耐久性：300万回以上* ○耐熱温度：100℃以下 ○安全電流：2～35A* ○取付部つば径：1.6～10.0mm ○プローブの抵抗値が低く、精密測定を可能にする一体型構造。 ○プローブの摺動やスプリングの反発力によるプローブ抜けを防止。 *耐久性や安全電流値は、プローブのサイズによって異なります。条件に合ったプローブをご提案します。詳しくはホームページからお問合せください。 ●サンケイエンジニアリング ホームページ● http://www.sankei-engineering.com/
高速摺動時でも、高荷重をかけても、高い耐久性。
【概要】 ○摺動部品が硬度の高いSK材やステンレス製。 ○摺動部品の耐久性：500万回以上* ○耐熱温度：100℃以下 ○安全電流：1～7A* ○取付部つば径：1.05～4.0mm ○プローブの抵抗値が低く、精密測定を可能にする一体型構造。 ○ななめ当たりや高速摺動に強いシリーズ。 *耐久性や安全電流値は、プローブのサイズによって異なります。条件に合ったプローブをご提案します。詳しくはホームページからお問合せください。 ●サンケイエンジニアリング ホームページ● http://www.sankei-engineering.com/
量産ラインでの発熱による不具合を未然に防ぐために！
コンタクトプローブを使用して、実際の電流を通電。 通電中の発熱温度と抵抗値を測定。 実際に電極をお預かりして通電実験を行うため、量産ラインに適したコンタクトプローブのご提案や試作まで対応可能です。 【サービス利用のメリット】 ■量産製造前に発生しうる不具合を予想できる ■製品ごとに適合した最適なコンタクトプローブの条件が分かる ■量産製造時の発熱防止対策ができる ■量産時のコスト低減ができる ※実験内容の見学可能です。お気軽にお問い合わせ下さい！
合金材を使用した低抵抗値化製品、高電流対応製品、高周波対応プローブ対応！
MKTタイセーが取り扱う『コンタクトプローブ』をご紹介します。 社内腕時計部品加工技術を基とした高精度品で、半導体向け製品、合金材を 使用した低抵抗値化製品、高電流対応製品、高周波対応プローブ(～3GHz)対応。 また、カタログに無い仕様の製品についても社内加工設備や経験を基に お客様のご要望に沿ったカスタム仕様（先端形状、材質、メッキ、バネ荷重、 寸法等の変更）にも対応しております。 【特長】 ■社内腕時計部品加工技術を基とした高精度品 ■低抵抗値化製品、高電流対応製品、高周波対応プローブ(～3GHz)対応 ■お客様のご要望に沿ったカスタム仕様にも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンタクトプローブのカスタムオーダー
お客様の測定情況に合わせたコンタクトプローブを設計・製造します。電気製品の進化に伴い、電子部品の測定に求められる内容も厳しくなっています。大電流通電用、高温・低温域での使用、特残素材の測定等、様々な使用情況でお使い頂けるプローブを選定・設計します。 詳しくはHPからお問い合わせください。 http://www.sankei-engineering.com/
ワークの材質・形状に合う製品を提供し、ご希望の測定の実現をサポート！
創業40年、様々な測定に使用されるコンタクトプローブを製作してきました。ワークの材質・形状・表面処理や、測定条件（電流値・通電サイクル・環境温度・測定速度）などをお伺いした上で、使用条件に適したコンタクトプローブをご提案します。 電気測定に関するご質問やご不明点がございましたら、遠慮なくホームページからお問合せ下さい。 ★http://www.sankei-engineering.com/★
接触不良による測定エラーを解決！根本原因の特定と最適プローブ選定で、検査歩留まり改善します
プリント基板の検査ラインで、 「接触不良で測定値が安定しない」 「良品基板なのに検査NGが出て手直しが増えている」 「プローブを交換しても、しばらくするとすぐ接触不良が起こる」 といったお悩みはありませんか？ 基板検査における接触不良の原因は、 ・はんだフラックスの付着 ・プローブ先端と基板形状、材質のミスマッチ ・プローブ先端の摩耗 など、多岐にわたり、特定が容易ではありません。 そこで当社では、お客様のワークおよびご使用中のプローブをお預かりし、 自社設備にて接触抵抗などの実験を実施。 「なぜ接触不良を起こすのか」をデータで可視化し、根本原因を特定します。 その上で、使用条件・ワーク特性に最適なプローブ形状・荷重条件をご提案し、 実際の改善につながる選定まで無償でサポートいたします。 まずはお問い合わせフォームよりお気軽にご相談ください。
長時間の連続通電に耐えられる大電流用コンタクトプローブの選び方とは？
バッテリー充放電試験に使用する大電流用プローブの選定は慎重に行う必要があります。 選定を誤ると異常発熱やスパークが生じ、ワークの溶着や装置の故障等を引き起こす可能性があります。 適切なプローブを選ぶ上でのポイントは主に2つ。 1. スペックの適合性：長時間の連続通電を伴う充放電サイクル試験では、実際の使用電流値に対して、使用可能電流が十分な余裕のあるプローブを選ぶことが重要 2. プローブとワーク間の接触抵抗：わずかな接触抵抗が、通電時の接点発熱や、それによるワークの溶着等を招くため、ワークと安定して接触可能なプローブを選定することが重要 しかし「具体的に何をどう判断すればよいか」と悩まれるお客様も少なくありません。 そこでサンケイエンジニアリングでは【無料プローブ選定サービス】を提供しています。 実際にお客様の測定ワークをお預かりし、当社設備にて接触抵抗を実測。 取得したデータをもとに、ご使用環境に最適なプローブを選定、ご提案します。 比較検討・情報収集段階のお問い合わせも大歓迎です。 当社ホームページお問い合わせフォームより、お気軽にご相談ください。
大電流対応用として測定電流値に応じて設計します。
お客様の測定状況に合わせたコンタクトプローブを設計・製造します。電気製品の進化に伴い、電子部品の測定に求められる内容も厳しくなっています。大電流通電用、高温・低温域での使用、特残素材の測定等、様々な使用状況でお使い頂けるプローブを選定・設計します。 詳しくはHPからお問い合わせください。 http://www.sankei-engineering.com/
大電流対応用として測定電流値に応じて設計します。
お客様の測定条件に合わせたコンタクトプローブを設計・製造します。電気製品の進化に伴い、電子部品の測定に求められる内容も厳しくなっています。大電流通電用、高温・低温域での使用、特残素材の測定等、様々な使用状況でお使い頂けるプローブを選定・設計します。 詳しくはHPからお問い合わせください。 http://www.sankei-engineering.com/
検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査まで一貫対応
当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・ ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。 ☆コンタクトプローブ☆ 標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。 ☆プローブカード・ICソケット☆ 樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作） ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作） ◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 ＜コンタクトプローブ＞ ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」 ・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」 ＜ICソケット＞ ・非磁性対応ソケット ・高耐熱対応ソケット ＜プローブカード＞ ・min80μピッチ対応プローブカード ・大電流負荷試験プローブカード ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
もう「予期せぬ検査ラインの停止」に悩まない！根本原因を特定し、安定した検査ラインを実現します
大電流検査ラインで、こんなトラブルに心当たりありませんか？ ・原因が特定できないまま、ライン停止が繰り返される ・プローブを何種類も試したが改善しない ・発熱や接触不良が疑わしいが、切り分けができない そのトラブル、実は「大電流通電による接触部の異常発熱」が原因かもしれません。 さらにこの異常発熱は、接点での抵抗上昇、微小なスパークの発生、あるいは過酷な使用環境によるスペックオーバーなど…複数の要因が複雑に絡み合って発生している可能性があります。 そこで当社では、お客様の実際の測定ワークと現在課題となっているプローブをお預かりし、自社内の設備で接触抵抗等の実測・実験を行い、異常発生のメカニズムを明らかにし、実測データという客観的根拠からトラブル解決につながる最適なコンタクトプローブを選定・ご提案します。 ★まずは、当社ホームページのお問い合わせフォームまたはお電話より、お気軽にご相談ください。
接触不良でスパーク発生。高価なデバイスを損傷させるリスクも？！接触不良の原因特定からプローブ選定まで無償対応します。
パワーデバイスの通電試験で、 「接触抵抗がバラつき、データの信頼性が確保できない」 「プローブを何度交換しても改善しない」 といったお悩みはありませんか？ 通電試験における接触不良の原因は、 ・プローブ先端形状とワーク材質のミスマッチ ・プローブ先端の摩耗 ・異物の付着 ・高温によりスプリングがへたり荷重低下 など、多岐にわたり、特定が容易ではありません。 特に大電流を流す通電試験においては、接触不良によって通電時に異常発熱やスパークが生じ、 高価なデバイスの破損や装置の故障等、大きな損失につながる可能性があります。 そこで当社では、お客様のワークおよびご使用中のプローブをお預かりし、自社設備にて接触抵抗などの実験を実施。 「なぜ接触不良を起こすのか」をデータで可視化し、接触不良の根本原因を特定します。 その上で、使用条件・ワーク特性に最適なプローブ形状・荷重条件をご提案し、 実際の改善につながる選定まで無償でサポートいたします。 まずはお問い合わせフォームよりお気軽にご相談ください。
充放電試験は通常の電気測定と比べて長時間通電が続くため、接点における発熱のコントロールが測定の安定性を左右します。
バッテリーの充放電試験で、 「接触抵抗がバラつき、充放電できているのか不安」 「通電が不安定で試験が途中で止まる」 「ワークとプローブが焼き付き、凝着した」 といったお悩みはありませんか？ 充放電試験は、通常の測定よりも長時間かつ大電流で通電するため、発熱を起因とした次のような問題が発生しやすくなります。 【ライン全体の発熱による問題】 ・スプリングのへたりによる荷重低下 等 【接点における発熱による問題】 ・プローブ先端の形状変化の促進 ・異物付着の促進 等 そしてこれらの問題は、プローブがワーク形状や測定条件に適していないことで、より大きくなる可能性があります。 そこで当社では、お客様のワークおよび現状使用中のプローブをお預かりし、自社設備にて接触抵抗などの実験を実施。 「なぜ測定がうまくいかないのか」をデータで可視化し、測定不良の根本原因を特定します。 その上で、使用条件・ワーク特性に最適なプローブ形状・荷重条件をご提案し、実際の改善につながる選定まで無償でサポートいたします。 まずはお問い合わせフォームよりお気軽にご相談ください。
もう頻繁なプローブ交換やエラー対応に悩まない！接触不良を解消し、検査の精度向上とコスト削減を実現します。
「プローブの接触不良、何をやっても解決しない」とお悩みではありませんか？ サンケイエンジニアリングでは、お客様のワーク（検査対象物）を直接お預かりし、自社設備で接触抵抗などを実測・実験します。得られた客観的な数値データをもとに接触不良の根本原因を究明し、確実な改善につながる最適なコンタクトプローブを選定・ご提案いたします。 電気測定において発生するコンタクトプローブの接触不良の原因は、 ・スプリングの劣化による荷重低下 ・フラックスや異物の付着 ・コンタクトプローブと測定ワークのミスマッチ など多岐にわたるため、特定が容易ではありません。 そこで当社では、コンタクトプローブメーカーとして培ってきた知見を活かし、実験・測定を通じて接触不良の根本原因を解き明かします。 そのうえで、実測データに基づき、改善につながるコンタクトプローブを数値という根拠とともにご提案します。 接触不良による測定不良の不安を解消し、安心して長くご使用いただける検査環境を実現します。 接触不良でお悩みの方は、是非当社HPお問い合わせフォームよりご相談ください。
高価なデバイスを守るために、適切なコンタクトプローブの選定が必須です！
パワーデバイスの通電試験に使用する大電流プローブの選定は慎重に行う必要があります。 選定を誤ると異常発熱やスパークが生じ、高価なデバイスの破損や装置の故障等、大きな損失につながる可能性があります。 適切なプローブを選ぶ上でのポイントは主に2つ。 1.スペックの適合性：デバイスの小型化に伴う限られたスペースの中で、実際の使用電流に対し、使用可能電流に十分な余裕のあるプローブを選定することが重要 2.プローブとワーク間の接触抵抗：わずかな接触抵抗が、測定誤差や異常発熱を招くため、ワークと安定して接触可能なプローブを選定することが重要 しかし「具体的に何をどう判断すればよいか」と悩まれるお客様も少なくありません。 そこでサンケイエンジニアリングでは【無料プローブ選定サービス】を提供しています。 実際にお客様の測定ワークをお預かりし、当社設備にて接触抵抗を実測。 取得したデータをもとに、ご使用環境に最適なプローブを選定、ご提案します。 比較検討・情報収集段階のお問い合わせも大歓迎です。 当社ホームページお問い合わせフォームより、お気軽にご相談ください。
接触回数によってプローブ先端ではどのような変化が起こっているのか？
「実際に何が起こっているのか…？」実験を通じて、数値化や可視化（画像取得）をサポートします。 【実験例】 ・100万回の耐久試験 ・10万回毎に測定物との接触抵抗値の測定 ・5万回毎にプローブの先端を電子顕微鏡で確認 ・数種類の材質のプローブで耐久試験を実施 ・測定物への接触痕の観察 ・300A連続通電時の測定物とプローブとの接点温度の測定 など 装置・測定器の組合せにより、さまざまな測定が可能です。測定結果にもとづいたコンタクトプローブのご提案や製作も実施しています。 実験装置や測定機器の見学のご依頼には、随時対応しています。詳細は、ホームページからお問い合わせください。 ●サンケイエンジニアリング ホームページ● http://www.sankei-engineering.com/
見学依頼に随時対応中。実験器や測定機器を見ながら実験方法を打合せできる！
「実際に何が起こっているのか…？」実験を通じて、数値化や可視化（画像取得）をサポートします。測定機器の見学依頼には随時対応しています。ホームページからお問合せください。 【実験例】 ・100万回の耐久試験 ・10万回毎に測定物との接触抵抗値の測定 ・5万回毎にプローブの先端を電子顕微鏡で確認 ・数種類の材質のプローブで耐久試験を実施。 ・測定物への接触痕の観察 ・300A連続通電時の測定物とプローブとの接点温度の測定 など 装置・測定器の組合せにより、さまざまな測定が可能です。測定結果に基づいたコンタクトプローブのご提案や製作も実施しています。 実験装置や測定機器の見学のご依頼には、随時対応しています。詳細は、ホームページからお問い合わせください。 ●サンケイエンジニアリング ホームページ● http://www.sankei-engineering.com/
滑らかな動きが持続する高速摺動対応。取付基板にネジ止めしプローブ抜けを防止。
【概要】 ○摺動部品が樹脂製。取付基板にネジ止め。 ○摺動部品の耐久性：500万回以上* ○耐熱温度：100℃以下 ○安全電流：5～35A* ○取付部つば径：2.2～10.0mm ○プローブの抵抗値が低く、精密測定を可能にする一体型構造。 ○取付基板にネジ止めして、スプリングの反発力によるプローブ抜けを防止。 *耐久性や安全電流値は、プローブのサイズによって異なります。条件に合ったプローブをご提案します。詳しくはホームページからお問合せください。 ●サンケイエンジニアリング ホームページ● http://www.sankei-engineering.com/
高温環境でも使える！取付基板にネジ止めしてプローブを確実に固定。
【概要】 ○耐熱温度：150～300℃以下* ○摺動部品の耐久性：50万回以上* ○安全電流：2～35A* ○取付部つば径：1.6～10.0mm ○プローブの抵抗値が低く、精密測定を可能にする一体型構造。 ○取付基板にネジ止めするタイプ *耐久性や安全電流値は、プローブのサイズによって異なります。条件に合ったプローブをご提案します。詳しくはホームページからお問合せください。 高温・低温下での測定（-180～300℃対応）を行う、受託測定サービスも行っています。詳細はホームページからお問合せください。 ●サンケイエンジニアリング ホームページ● http://www.sankei-engineering.com/
限られた取付スペースでの四端子測定が可能に！より高い電流値に対応！
【概要】 ○１本のプローブにピン２本が組み込まれているので、 １本のプローブに電流用と電圧用の端子を接続できます。 →取付スペースが限られる場合でも対応可能。 →プローブの交換が楽に！ ○電圧測定用ピンが一体型 ○耐熱温度：60℃以下 ○安全電流：5～35A （サイズによります。詳しくはお問合せください。） 製品概要は、カタログから確認いただけます。 測定対象物や測定条件に合わせたプローブも製作しています。詳細は、ホームページからお問合せください。 http://www.sankei-engineering.com/
検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査まで一貫対応
当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。 ▼コンタクトプローブ 標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。 ▼プローブカード・ICソケット 樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作） ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作） ◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 ▼コンタクトプローブ ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」 ・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」 ▼ICソケット ・非磁性対応ソケット、高耐熱対応ソケット ▼プローブカード ・min80μピッチ対応プローブカード ・大電流負荷試験プローブカード ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
