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チップテストハンドラ×綜和機電株式会社 - 企業1社の製品一覧

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高温マニュアルチップテストハンドラー

チップデバイスを高温測定検査可能な マニュアルハンドラ 温度 ~250℃ 

チップデバイスを高温 ~250℃ で測定可能な マニュアルハンドラー チップをテーブルに乗せて スタート  デバイスを取り込み 自動で測定 排出 250℃までのデバイス過熱が可能 コンタクトはプローブピンを使用 支給コンタクトがあれば 対応

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  • 試験機器・装置
  • プローブ

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