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SOPデバイス 測定検査装置。RF測定に対応！高速・小型のSOP、SSOP、DIP用装置
『TH285』は、最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに 接続可能なSOP、SSOP、DIP用テストハンドラーです。 アルミあるいはプラスチックのマガジンにより供給されたICを、個別に 取り出し、1個あるいは2個同時に測定ソケットに装着して、測定結果に 基づき指定のスティックに分類収納します。 小型化、品種交換簡素化、メンテナンス簡素化、付加オプションの充実を 考慮してあります。 【特長】 ■大型テストボックスが接続できる大量生産タイプ ■最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに接続可能 ■品種交換が簡単 ■タッチパネルによる簡単な操作性 ■リード検査機構がオプションで搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
タッチパネルでの設定・調整が可能！高温環境下など様々な製造実績があります
当製品は、コンタクトプローブによる半導体テストハンドラー複合装置です。 スタッカーマガジンより短冊状のリードフレームを取り出し、 リード加工装置によって製品を個片にし、コンタクトプローブによりテスト。 テスト部の製品は、吸着ハンドによる搬送を行っていますが、 搬送の多くはサーボモーターによる数値制御を行っており、 タッチパネルでの設定・調整が可能です。 また当社では、高温環境下など様々な製造実績があります。 【特長】 ■リード加工装置によって製品を個片にする ■コンタクトプローブによりテスト ■吸着ハンドによる搬送 ■タッチパネルでの設定・調整が可能 ■高温環境下など、様々な製造実績がある ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
次世代、 斬新で使いやすいデバイス・ハンドリング・システム
【システムの主な特長】 ・信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム ・アクティブ・サーマル・コントロール・システム（ATC）による-60 °C～+175 °C（-76°F～+347°F）のデバイス試験温度 ・低温/高温試験用 → 3温度試験 ・ユーザーの操作なしに、異なる試験温度で複数の試験サイクルを実施可能 ・エスモ不死鳥カートとの組み合わせにより、市場で最も小さいテストセル設置面積を実現 ・キットレス・テストハンドラーまたはカスタマイズされたハンドリングシステム。 ・個々の要件と用途に応じたモジュラーシステム構成 ・簡単に移動でき、設置面積が小さい ・すべてのテスターに対応する標準ドッキングインターフェース ・イーサネット経由のリモートコントロール ・高いMTBF値、少ないメンテナンス労力
