SOPデバイス 測定検査装置。RF測定に対応！高速・小型のSOP、SSOP、DIP用装置
『TH285』は、最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに 接続可能なSOP、SSOP、DIP用テストハンドラーです。 アルミあるいはプラスチックのマガジンにより供給されたICを、個別に 取り出し、1個あるいは2個同時に測定ソケットに装着して、測定結果に 基づき指定のスティックに分類収納します。 小型化、品種交換簡素化、メンテナンス簡素化、付加オプションの充実を 考慮してあります。 【特長】 ■大型テストボックスが接続できる大量生産タイプ ■最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに接続可能 ■品種交換が簡単 ■タッチパネルによる簡単な操作性 ■リード検査機構がオプションで搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様(抜粋)】 ■デバイス：SOP、SSOP、TSSOP、DIP ■マガジン：アルミニュウム多連マガジン ■測定モード：パラレル/シングル ■ユーティリティ ・電源：100V 1.5kVA max ・圧搾空気：0.5MPa(5.1kgf/cm2)以上の清浄乾燥空気 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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納期
用途／実績例
【用途】 ■SOP、SSOP、DIP用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
半導体検査装置 特にパワー半導体の設備の設計製作、及び販売を行っております。 検査装置のみならず 製造装置の製作も お客様のご要望に合わせて、設備を設計製作いたします。 半導体関係以外の設備も対応いたします。 ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。