省人化に貢献するプログラム運転対応マルチフォーカスX線検査装置
検査条件を登録してプログラム運転。半導体・電子部品検査の省人化と品質安定を支援し、運用設計やX線被ばく対策もワンストップ提案。
・マイクロスコープ感覚で使えるX線透視観察機能は直感的な操作で試料内部をリアルタイムに観察可能、X線検査が初めての方でも扱いやすい設計 ・直交CT機能によって電子部品や電子モジュールの3次元的な故障解析に対応 ・斜めCT機能によって実装基板など平たい形状のサンプルの平面断層解析にも対応 ・ナノフォーカス・マイクロフォーカス・ハイパワーモードに対応し、エレクトロニクス業界における多様な製品の検査・解析に対応 ・検査条件を事前に登録できるプログラム運転機能により、作業者に依存しない再現性の高い検査運用を実現 ＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝ ネプコンジャパン2026 開催概要 ＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝ ■ 会 期： 2026年1月21日（水）～ 23日（金） ■ 場 所： 東京ビッグサイト ■ ブース： 東ホール E16-32（株式会社南陽様ブース内） ▼来場登録はこちら▼ https://www.nepconjapan.jp/tokyo/ja-jp/register.html?code=1552093092185752-3GS
