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明視野モードと通常/標準モードの断面観察などを掲載しています！
当資料では、卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察に ついてご紹介しています。 ネオジム磁石など磁性を帯びた試料は、着磁状態でSEM観察はできませんが、 脱磁処理を施すことで、SEM観察や元素分析を行うことが出来ます。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ネオジム磁石の脱磁とSEMによる断面観察(日立ハイテク社製TM3030Plus) ・脱磁処理(磁石は、着磁状態でのSEM観察が不可能なため、脱磁を実施) ・断面観察 ・EDXによる元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学像からＳＥＭ観察、元素分析まで 高機能ながらもユーザーフレンドリーな高い操作性
「Zeromag」 ：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」 ：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」 ：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 ＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 ＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。
お客様へ丸文通商が操作性抜群の卓上電子顕微鏡をお持ち込みし、覧いただきます
「Zeromag」 ：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」 ：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」 ：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 ＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 ＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。 ＪＣＭ７０００を直接ご覧いただける デモンストレーションサービス デモ対象エリア：北陸(富山県 石川県 福井県）甲信(長野県 山梨県)関東(埼玉 群馬 静岡 神奈川)中部関西(岐阜県 滋賀県) のお客様お問い合わせください
光学画像からSEM観察までがシームレス！観察しながら同時に元素分析！
当社では、観察中に元素分析も同時測定できる 卓上型電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』を取り扱っております。 観測範囲は10倍から100,000倍でSEMのすべての機能が簡単に操作可能。 低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大し、非導電性試料も そのまま観察できます。 【特長】 ■10倍から100,000倍の観測範囲 ■SEMのすべての機能が簡単操作 ■低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大-Zeromag-（新機能） ■観察中に元素分析も同時測定-Live Analysis-（新機能）※オプション ■ミクロの寸法測定機能が標準 他 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
光学像からSEM観察、元素分析まで。品質管理を加速。
半導体業界の品質管理では、製品の微細な欠陥や異物を迅速に特定することが求められます。特に、製造プロセスの微細化が進む中、ナノレベルでの異常を早期に発見し、不良品の発生を抑制することが重要です。従来の検査方法では、時間とコストがかかり、迅速な問題解決が難しいという課題がありました。JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、インスタント機能により、品質管理における課題解決を支援します。 【活用シーン】 * 半導体デバイスの異物分析 * 製造工程における不良原因の特定 * 製品の品質評価 【導入の効果】 * 迅速な異物・不良箇所の特定による、クレーム対応のスピードアップ * 研究開発サイクルの加速 * 品質管理プロセスの効率化
光学像からSEM観察、元素分析まで。異物検出を加速。
製薬業界では、製品の品質管理において異物混入の早期発見が重要です。異物は製品の安全性や有効性に影響を与え、企業の信頼を損なう可能性があります。従来の異物検査では、外部機関への依頼に時間とコストがかかり、迅速な対応が難しいという課題がありました。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能により、異物の迅速な特定を可能にします。 【活用シーン】 ・医薬品製造における異物検査 ・原材料の品質管理 ・クレーム発生時の原因究明 【導入の効果】 ・異物検出時間の短縮 ・品質管理の効率化 ・クレーム対応の迅速化
光学像からSEM観察、元素分析まで。使いやすさを追求。
材料業界における構造解析では、材料の微細構造を詳細に観察し、その特性を理解することが重要です。特に、新素材の開発や既存材料の品質評価においては、表面形状や組成を正確に把握することが不可欠です。従来の観察方法では、時間と手間がかかり、迅速な分析が難しいという課題がありました。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、三次元観察機能により、材料の構造解析を効率化します。 【活用シーン】 ・金属材料の組織観察 ・高分子材料の表面観察 ・複合材料の界面観察 ・異物分析 【導入の効果】 ・迅速な分析による研究開発の加速 ・不良原因の早期特定 ・クレーム対応のスピードアップ
光学像からSEM観察、元素分析まで。故障解析を加速。
電子部品業界において、製品の信頼性確保は不可欠です。故障解析では、不良箇所の特定と原因究明が求められます。従来の外部機関への依頼では、時間とコストがかかることが課題でした。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能により、迅速な解析を可能にします。これにより、不良原因の早期特定と、クレーム対応の迅速化に貢献します。 【活用シーン】 ・電子部品の異物解析 ・不良箇所の特定 ・製品の品質管理 ・研究開発における材料分析 【導入の効果】 ・解析時間の短縮 ・コスト削減 ・品質向上 ・研究開発の効率化
化粧品の品質管理、研究開発を加速させる卓上電子顕微鏡
化粧品業界では、製品の品質管理や研究開発において、配合成分の粒子観察が重要です。粒子の形状や大きさ、分布を正確に把握することで、製品の性能や使用感、安全性を評価できます。異物混入の早期発見にもつながります。日本電子 卓上電子顕微鏡JCM7000は、光学像とSEM像をシームレスに切り替え、元素分析も可能なため、化粧品の研究開発や品質管理における課題解決に貢献します。 【活用シーン】 ・化粧品原料の粒子観察 ・製品の品質評価 ・異物分析 ・研究開発 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・研究開発の効率化 ・クレーム対応の迅速化 ・競合他社との差別化
