【CS100シリーズ】極低温単軸ひずみセル
極低温環境下で単軸負荷をかけながらサンプルの歪みを測定！
CS100シリーズは、極低温環境下において、サンプルに調整可能な引張および圧縮負荷を加えながら、ひずみ測定を行います。 走査プローブ顕微鏡、共焦点顕微鏡、X線散乱、中性子散乱、抵抗率、磁化率およびその他多くの測定テクニックと組み合わせて使用することができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：テガサイエンス株式会社
- 価格：応相談
単軸ひずみセル - 企業1社の製品一覧
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【CS200Tシリーズ】透過型極低温単軸ひずみセル
X線回折・散乱を行いながら、単軸負荷をサンプルに加え、歪み測定が可能！
CS200Tシリーズは、実験室ベース、シンクロトロンまたはその他のビームラインにおいて、透過モード（回折または散乱）で測定しながら、大きな単軸負荷をサンプルに加え、ひずみを測定することができます。CS200Tシリーズは2インチボア内に収まるように設計されているため、広範な商用およびカスタムメイドのクライオスタットや真空チャンバーに対応しています。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：テガサイエンス株式会社
- 価格：応相談
