干渉縞解析装置 IFM
干渉縞を高精度な解析で数値化
レーザー干渉計で観察される干渉縞画像から、研磨面の面精度や光学素子の透過面精度を数値化、可視化することで、より高精度に、より分かりやすく、品質管理の向上に有益な製品です。
- 企業:株式会社ナガタ
- 価格:応相談
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干渉縞を高精度な解析で数値化
レーザー干渉計で観察される干渉縞画像から、研磨面の面精度や光学素子の透過面精度を数値化、可視化することで、より高精度に、より分かりやすく、品質管理の向上に有益な製品です。
数十社のユーザーのご意見、ご要望を基に新たな干渉縞解析装置を開発しました!
『IFM』は、操作が簡単で、どなたでもお使いいただける干渉縞解析装置です。 新しいOSに対応し、新規アルゴリズムの導入により、測定精度が向上し、 様々なニーズに対応する解析機能を有します。 また、ご所有の干渉計に当製品を搭載する、レトロフィット(旧型を改良)にも 対応いたします。 【特長】 ■アイコンによる操作で、初心者でも容易に測定作業が可能 ■画像処理技術の導入による位相つなぎ精度の向上 ■様々な解析機能の追加 ■オートキャリブレーション機能を搭載 ■振動、空気ゆらぎ等の外乱にも強い解析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。