Quasor II EBSD System
EBSDデータおよびEDS／WDSスペクトルイメージの同時収集が容易に行える！電子線後方散乱回折解析装置のご紹介
『Quasor II EBSD System』は、EBSDデータおよびEDS／WDSスペクトル イメージの同時収集が容易に行える電子線後方散乱回折解析装置です。 走査型電子顕微鏡(SEM)およびマイクロアナリシス分析によって観察される 幅広い材料の物理特性に影響を与える結晶構造を特性評価します。 1回の測定でサンプルの構造情報も化学的情報も得ることができます。 【特長】 ■インデックスされた99％のピクセルで最大600フレーム/秒の収集速度 ■1回の測定でサンプルの構造情報も化学的情報も得られる ■減算または除算によるバックグラウンド除去 ■イメージクロップ ■FFTまたは放物線でのフラットフィールディング ※製品の詳細については、直接お問い合わせください。
