半導体・電子部品の内部を映像化！欠陥を見つける超音波診断装置
超音波を使って非破壊・非接触で半導体内部を評価！【省スペース・低コスト】
超音波C-SCAN画像診断装置「InsightScan IS-350」は、超音波を使って非破壊で半導体内部を評価する装置です。 高速・高解像度新型スキャンシステムで、最小0.5μm各軸移動量、超高速A/D変換ボードとの組合わせにより微小欠陥検出が可能です。オプションで最高500MHzの高周波対応可能です。 ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてご覧ください。
- 企業：インサイト株式会社
- 価格：応相談
