粒子画像解析(画像) - List of Manufacturers, Suppliers, Companies and Products | IPROS GMS

【分級技術】　分級後　パス品粒子　画像解析

湿式分級装置 S-100W-Dによる　分級精度確認　　個数レベルで粗粒子を除去　パス品粒子径測定

■ 実験粒子の分布 4μｍのため 粗粒子のカットラインを 5μｍに設定 　 分級用篩 スーパーマイクロシーブは Φ5.0μｍを取付 ■ FPIA-3000　画像解析結果　測定個数……0 / 148,000 　 最大粒子径 4.27μｍ　　５μｍ以上の粗粒子は全く混入してない ■ 通常　分級後パス品の画像解析は測定数 ２０～３０万個×１０回を 　 目安に 分級精度の信頼性を検証している