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膜厚測定システム - 企業2社の製品一覧

製品一覧

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膜厚測定システム『FilmSmart』

分光器、光源やステージなどオプション豊富で、小型・軽量・安価なシステム

『FilmSmart』は、膜厚、屈折率n/減衰係数k、透過/反射率、色すべてを 測定できるHMTEK社(台湾)の膜厚測定システムです。 CCD分光器、光源、ステージ、ファイバ集光系、パソコン、ソフトウェア一体型で、 面倒な作業・設定は一切必要なく、簡単に表面・薄膜測定できます。 【特長】 ■測定範囲:200A~400 000A ■波長範囲:380-850nm ■屈折率n・減衰係数k、透過・反射・色測定も可能 ■小型・軽量付属ソフトで簡単測定 ■自動XYステージ:2次元、3次元描画(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 膜厚計

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膜厚測定システム SKOP

オーシャンオプティクス社分光器を使用した安価・簡易膜厚測定システム!

SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、 光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。 基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。 パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。 SKOPでは干渉パターンを専用のソフトウェアで解析することにより、膜の厚みに換算します。

  • 膜厚計

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