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既存の枠にとらわれることなく「いいものは使い、無いものは作る」
テクノ・シナジーは、精密機器の開発・製造・販売及びその輸出入を行っている会社です。 人と人とのコラボレーション、会社間の連携、技術と技術の融合など、 あらゆるステージにおけるシナジー効果によって光計測・分光解析の新たな可能性を引き出す、 テクノ・シナジーの社名にはそんな思いが込められています。 既存の枠にとらわれることなく「いいものは使い、無いものは作る」という理念で、 ユーザーにとって適した科学技術ソリューションを提供する、 テクノ・シナジーはそんな企業であり続けたいと考えています。 【事業内容】 ■精密機器の開発・製造・販売及びその輸出入 ■ソフトウエアの開発・製造・販売及びその輸出入 ■材料の開発・製造・販売及びその輸出入 ■デバイスの開発・製造・販売及びその輸出入 ■精密機器及びソフトウエアを用いた測定・分析・解析サービス ■上記技術のコンサルティングサービス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
オーシャンオプティクス社分光器を使用した安価・簡易膜厚測定システム！
SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、 光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。 基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。 パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。 SKOPでは干渉パターンを専用のソフトウェアで解析することにより、膜の厚みに換算します。
分光器、光源やステージなどオプション豊富で、小型・軽量・安価なシステム
『FilmSmart』は、膜厚、屈折率n/減衰係数k、透過/反射率、色すべてを 測定できるHMTEK社（台湾）の膜厚測定システムです。 CCD分光器、光源、ステージ、ファイバ集光系、パソコン、ソフトウェア一体型で、 面倒な作業・設定は一切必要なく、簡単に表面・薄膜測定できます。 【特長】 ■測定範囲：200A～400,000A ■波長範囲：380-850nm ■屈折率n・減衰係数k、透過・反射・色測定も可能 ■小型・軽量付属ソフトで簡単測定 ■自動XYステージ：2次元、3次元描画（オプション） ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定システム！
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、FFT（高速フーリエ 変換）等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 連続測定機能やトラバース機構、データ通信機能の製作も可能ですので、 インライン膜厚測定としてもご使用頂けます。 【特長】 ■サンプルの反射率を測定し、FFT等によって膜厚値の解析を行う ■膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行える ■測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能 ■インライン膜厚測定としてもご使用頂ける ■カスタム仕様等の対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【不良品低減】粉体塗装に特化した非接触膜厚測定システム！3つの測定条件から選択するだけの簡単操作で塗膜の膜厚を正確に検出します
『PaintCheckermobile(PACmobile) LED-B』は、非接触方式の塗膜厚測定システムで、 ヨーロッパ基準DIN EN 15042-2に準拠し、塗膜厚を非接触・非破壊で測定します。 『粉体塗装』の膜厚測定に特化した製品となり、金属板、陶器、ガラスなど様々な基材に塗布された塗膜の ドライ及びウェット（”塗ったすぐ” ”乾いたあと”）の膜厚を検出。 操作に関しても複雑な測定条件を選択する必要はなく、 標準搭載された”3つの条件”から選択するだけの簡単操作となります。 現場で焼き付けや硬化前の前に塗装エラーを検出することで 生産効率や最終製品の品質の向上、不良品の低減(コストダウン)に貢献します。 ※塗装の種類や基板の組み合わせに従って、設定（キャリブレーション）が必要となります 【特長】 ■非接触・非破壊 ■高速測定(約2秒以内) ■ドライ及びウエットでも測定可能 ■凸凹面・カーブ面・内面など対象物の測定が可能 ■約10時間の連続使用が可能 ■眼に安全なLEDを使用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！
『GS-300』は、小フットプリント仕様のロードポート対応膜厚測定 システムです。 φ300mmEFEMユニット予備ポートへのインテグレーションに対応。 ウェーハに埋め込んだ配線パターンアライメントを実現します。 また、半導体プロセスの高スループット要求に対応しております。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■φ300mmEFEMユニット予備ポートへのインテグレーションに対応 ■ウェーハに埋め込んだ配線パターンアライメントを実現 ■半導体プロセスの高スループット要求に対応 ■小フットプリント仕様 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応！
光学膜厚測定システム『DF-1045R1』は、反射率スペクトル測定光学系と スペクトル解析ソフトウエアの連携により、薄膜の膜厚・光学定数を 簡便に測定することができる分光システムです。 小型CCD分光器の採用により、省スペース、高速スペクトル測定を実現しました。 柔軟で高機能なスペクトル解析ソフトウエアSCOUTを搭載しているため、 多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応します。 【特長】 ■反射率スペクトル測定機能をデスクトップサイズに凝縮 ■平行光束による入射角0°の反射率スペクトル測定を実現 ■スペクトル解析ソフトウエアSCOUTによる単層膜、 多層膜の膜厚・屈折率測定など様々な膜解析に対応 ■反射率スペクトル測定からフィッティング解析までのシークエンスを簡単操作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定システム！
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、FFT（高速フーリエ 変換）等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 連続測定機能やトラバース機構、データ通信機能の製作も可能ですので、 インライン膜厚測定としてもご使用頂けます。 【特長】 ■サンプルの反射率を測定し、FFT等によって膜厚値の解析を行う ■膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行える ■測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能 ■インライン膜厚測定としてもご使用頂ける ■カスタム仕様等の対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
