顕微分光膜厚計の膜厚解析 表面粗さを考慮した膜厚解析 サンプル表面に粗さがある膜の場合は、膜の理論反射率と異なるため解析が難しくなります。 OPTMでは粗さ層はEMA法(有効媒質近似法)でモデル化して評価することが可能です。 企業:大塚電子株式会社 価格:応相談 分析機器・装置 ブックマークに追加いたしました ブックマーク一覧 ブックマークを削除いたしました ブックマーク一覧 これ以上ブックマークできません 会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます 無料会員登録