走査型電子顕微鏡×株式会社アイテス - メーカー・企業と製品の一覧

走査型電子顕微鏡の製品一覧

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SEMの観察条件による見え方の違い

各種条件下で撮影したSEM像をご紹介！SEMの観察条件による見え方の違いについて解説

SEM観察は、試料表面に照射した電子が試料の極表層で散乱することで発生する二次電子や反射電子を検出器で捉え、像としてモニターに映し出しています。電子を捉える検出器には種類があり、それぞれの特長を生かした像が得られ、加速電圧を変えることで見え方も変わります。当資料では、各種条件下で撮影したSEM像をご紹介。ぜひ、ご一読ください。【掲載内容】 ■反射電子像・高加速電圧による反射電子像(AsB検出器) ・低加速電圧による反射電子像(EsB検出器) ■二次電子像・加速電圧による見え方の違い・検出器の位置による見え方の違い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社アイテス
価格：応相談

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FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）

⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備

ZEISS製の「FE-SEM ULTRA55」は、GEMINIカラムを搭載しており、極低加速電圧で高分解能観察が可能な装置です。検出器も複数搭載されており、さまざまなサンプルの観察が可能。 2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握ができ、低加速電圧でも⾼分解能なEDX分析ができます。【特長】 ■⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像 ■極低加速電圧による極表⾯分析 ■表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備 ■2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握 ■低加速電圧でも⾼分解能なEDX分析 ■無蒸着による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。