逆バイアス試験
Reverse Bias Test
・高温下あるいは高温高湿下で、パワーデバイスのコレクタ-エミッタ間、ドレイン-ソース間の電流が 流れにくい向きにバイアスを印加する耐久試験です。 ・試験中のリーク電流を経時的にモニターし、絶縁破壊までの挙動を観察できます。 ・AQG324、JEITA ED-4701等各種規格に対応可能です。
- 企業:一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格:応相談
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Reverse Bias Test
・高温下あるいは高温高湿下で、パワーデバイスのコレクタ-エミッタ間、ドレイン-ソース間の電流が 流れにくい向きにバイアスを印加する耐久試験です。 ・試験中のリーク電流を経時的にモニターし、絶縁破壊までの挙動を観察できます。 ・AQG324、JEITA ED-4701等各種規格に対応可能です。
不良基準(電流値)の設定が可能!高温及び高電圧通電によりデバイス劣化及び特性等を評価
株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験(HTRB)が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能。電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準(電流値)の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【特長】 ■試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムで デバイスの劣化状況が把握出来る ■電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼさない ■不良判定デバイスの電源を不良判定時に遮断することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。