Reverse Bias Test
・高温下あるいは高温高湿下で、パワーデバイスのコレクタ-エミッタ間、ドレイン-ソース間の電流が 流れにくい向きにバイアスを印加する耐久試験です。 ・試験中のリーク電流を経時的にモニターし、絶縁破壊までの挙動を観察できます。 ・AQG324,JEITA ED-4701等各種規格に対応可能です。
・高温下あるいは高温高湿下で、パワーデバイスのコレクタ-エミッタ間、ドレイン-ソース間の電流が 流れにくい向きにバイアスを印加する耐久試験です。 ・試験中のリーク電流を経時的にモニターし、絶縁破壊までの挙動を観察できます。 ・AQG324,JEITA ED-4701等各種規格に対応可能です。
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・パワーデバイスのゲート絶縁膜の耐圧性の評価 ・パワーデバイスの樹脂パッケージにおける絶縁性劣化の評価
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