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電子顕微鏡(金属) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

電子顕微鏡の製品一覧

1~5 件を表示 / 全 5 件

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【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察および構造解析に関する事例を多数ご紹介します!

当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材(ばね材)の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材(ばね材)の金属組織観察 ■2相ステンレスの相解析 ■STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価 ■サマリウムコバルト磁石のEBSD測定 ■STEMによるコネクタ端子接点不良解析 ■生体試料(モルフォ蝶鱗粉)の断面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他解析
  • 受託解析
  • 受託解析

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【資料】材料系解析事例

30nmから5μmの切片作製が可能!材料系解析事例を複数ご紹介した資料です!

当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った材料系解析を まとめた事例集です。 「ウルトラミクロトーム」では、生物組織、金属メッキ層や無機蒸着 層を含む複合材料、ナノ粒子など幅広い分野における高品質な超薄切片 および断面作製に適応可能です。 当社では、受託分析を始めました。協力機関とタイアップして材料分析を 実施致します。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ■HIPSの構造解析 ■レンズ断面の構造解析 ■菓子袋の断面観察 ■分散法による金属粒子の形態観察(金属微粒子/金属担持カーボン) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託解析
  • 電子顕微鏡
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【分析事例】二次電池正極活物質の構造評価

活物質の粒径・結晶方位評価、原子レベル観察が可能

リチウムイオン二次電池は充放電によるイオンの脱離・挿入などで電極活物質に成分や結晶構造の変 化が生じます。正極活物質として用いられるLi(NiCoMn)O2(NCM)の構造評価として、EBSDにより一次粒子の粒径や配向性を評価しました。更に、方位を確認した一次粒子について高分解能STEM観察を行 い、軽元素(Li、O)の原子位置をABF-STEM像で、遷移金属(Ni、Co、Mn)の原子位置をHAADF-STEM像で可視化した事例を紹介いたします。 測定法:SEM・EBSD・TEM 製品分野:二次電池 分析目的:形状評価、構造評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

  • 正極の断面SEM像.png
  • 二次粒子の断面SEM像(拡大).png
  • EBSD拡大図.png
  • 粒径ヒストグラム.png
  • ABF-STEM像.png
  • HAADF-STEM像.png
  • 結晶構造モデル.png
  • C0605_サムネ.png
  • 充電器
  • 受託測定

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電子顕微鏡による形態観察・成分分析のご案内

試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析もでき、多機能な成分分析も可能です

一般財団法人東海技術センターは『電子顕微鏡による形態観察・成分分析』を 承っております。 手間と時間のかかる前処理なしで観察ができるため、観察までの時間短縮と 観察後の成分分析の評価がしやすくなりました。 また、形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察も可能。 試料中の測定したい2点間の距離計測もできます。 【特長】 ■手間と時間のかかる前処理なしで観察ができる ■形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察もできる ■試料中の測定したい2点間の距離計測も可能 ■試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 受託解析

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半導体産業、高分子材料開発・研究、品質管理等、様々な分野に!

アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、光電子分光装置、内斜系実体顕微鏡のご紹介

アズサイエンスおすすめ商品の3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-1400Flash 電子顕微鏡  高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた透過電子顕微鏡です。バイオロジーからナノテクノロジー、ポリマー、最先端材料など幅広い分野で活用されています。 ◆日本電子株式会社 JPS-9030 光電子分光装置(XPS)  カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。大学から工場まで幅広く稼動し、材料の研究開発、また品質管理の現場において汎用性の高い分析手法として利用されています。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 内斜系実体顕微鏡 SMZ445/460  ニコンの最先端実体ズーム顕微鏡シリーズと同様の優れた光学性能を備えています。樹脂成型品、金属加工部品などの検査‧観察に適した実体顕微鏡です。部品検査や品質管理などのニーズにお応えします。

  • 光電子分析装置.png
  • 実体顕微鏡.png
  • その他

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