【独創技術】 超高信頼性 湿式分級装置 S-100W-D
粒径分布に検出されない粗粒子を個数レベルで除去 目詰まりせずに高速で分級 処理能力向上
■ 粗粒子混在の主な原因 ・ 分級装置から同一材料の粗粒子や結合粒子の混入 ・ 分級装置周辺から別材料の粗粒子が混入 ・ 製造工程の不特定場所から粗粒子・ダスト類が混入 ■ 独創技術開発 1 スーパーマイクロシーブ 2 独創原理の分級構造 3 微粒子分級ノウハウ ■ 写真 右 超音波槽 この部分にスーパーマイクロシーブを搭載 写真 左 デシケータ この部分に分級済粒子が回収される 超音波槽 分級前の粒子をFPIA-3000 で画像解析 デシケータ 分級後の粒子をFPIA-3000 で画像解析
- Company：株式会社セムテックエンジニアリング
- Price：応相談
