当社は半導体前工程（ウェーハプロセス）向け検査・分析装置の販売、保守・メンテナンス業務受託を行うエンジニア主体の会社となります。

新品、中古装置含め、検査・分析装置は各種取り扱いがあります。（全自動XPS膜厚濃度測定装置、重ね合わせ精度測定装置、両面座標測定装置、膜厚測定装置、エリプソメーター、光学式三次元測定装置、ウェーハエッジ検査装置、透明ウェーハ表裏欠陥検査装置、外観検査装置、実体顕微鏡、露光装置）