測定範囲　±10分（円形範囲） Repeatability※1　0.1sec　/　0.5μrad ※1　弊社標準サンプルをセンサ端に取り付けて測定（外気遮断）した場合の値

• 光学測定器

【仕様】 測定範囲　±70分

• 光学測定器

【仕様】 測定対象物　　　　：　平行平面ガラス 測定可能厚さ範囲　：　０～20mm程度 測定精度　　　　　：　厚さの0.1％程度 測定時間　　　　　：　1秒以内　

• 光学測定器

1.ゼルニケ係数　：　~Z15 2.ザイデル収差　：　球面収差、コマ収差、非点収差 3.総合収差　　　：　PV値　RMS値 4.MTF 測定レンジ　　　：　10λ　rms Resolution　　　：　１～２mλ　rms（ゼルニケ係数） 更新レート　　　：　5回/秒以上（データ出力、画面表示は考慮外）

• 光学測定器

【仕様】 　ワーキングディスタンス：1,000±150mm 　測定範囲：±15分（円形範囲）

• 光学測定器

【仕様】 　ワーキングディスタンス　0～200mm 　測定範囲　±54分（円形範囲）

• 光学測定器

【仕様】 　ワーキングディスタンス　50mm 　測定箇所数　１～３箇所 　測定範囲　±1.5度（円形範囲）

• 光学測定器

【仕様】 　ワーキングディスタンス　０～１0m 　測定範囲　±15分　※ワーキングディスタンスにより可変

• 光学測定器

【仕様】 　ワーキングディスタンス　0～２００mm 　測定範囲　±54分（円形範囲） 　波長　638nm、515nm、456nm

• 光学測定器

測定範囲±90分（1.5度）

• 光学測定器

チルト（θX-θY）： ±60分（円形範囲） 変位　（Z）　：　±1.5mm ワーキングディスタンス 　：　50±0.5mm 外形寸法 　： W100×D80×H35mm 出力更新レート 　：　1,000回/秒

• 光学測定器

測定範囲 チルト（θX-θY）　　　　：　±60分（円形範囲） 変位　（Z）　　　　　　　：　±1mm 位置　（X-Y）　　　　　　：　±0.5mm（MF-5550-0002）/　±0.7mm（MF-5570-0002） ワーキングディスタンス　　：　80±0.5mm 出力更新レート　　　 　　：　10,000回/秒

• 光学測定器

測定範囲 チルト（θX-θY）　　　：±60分（円形範囲） 変位　（Z）　　　　　　：±1mm 位置　（X-Y）　　　　　：±0.5mm 回転　（θ）　　　　　　：±90min ワーキングディスタンス　 ：90±0.5mm

• 光学測定器

測定範囲　　　　　　　　　：　±60分（円形範囲） ワーキングディスタンス　　：　150±10mm Repeatability　　　　　　　：　0.024分 出力更新レート　　　　　　：　10,000回/秒 外形寸法　　　　　　　　　：　W100×D150×H56mm

• 光学測定器

測定範囲 　　　　チルト（θX-θY）： ±6度（円形範囲） 　　　　　　変位　（Z）　：　±1mm ワーキングディスタンス 　：　50±0.5mm 　　　　　　　外形寸法 　： W185×D230×H56mm 　　　　出力更新レート 　：　10,000回/秒

• 光学測定器

・スクリーン搭載目視確認 ・軽量 ・コンパクト設計、片手サイズ

• 光学測定器

主な仕様 測定範囲 チルト（θX-θY）　　　　　： ±60分（円形範囲） 変位　（Z）　　　　　　　　：　±1.5mm ワーキングディスタンス　 　：　60±0.5mm 外形寸法　　　　　　　　　： W125×D150×H56mm 出力更新レート　　　　　 　：　10,000回/秒

• 光学測定器

測定範囲 チルト（θX-θY）　　　　： ±60分（円形範囲） 変位　（Z）　　　　　　　：　±1.5mm ワーキングディスタンス　 　：　90±0.5mm 外形寸法　　　　　　　　　： W110×D150×H56mm 出力更新レート　　 　 　　：　10,000回/秒

• 光学測定器

測定範囲は±54分 データ出力更新レート1,600回/秒と超高速

• 光学測定器

・センサとプロセッサ、一体型 ・傾斜測定範囲±5度、高速測定（1.6K データ/s） ・装置や治具組み込み可能

• 光学測定器

測定範囲±15度

• 光学測定器

測定範囲±10度

• 光学測定器

測定範囲　±5度

• 光学測定器

各種

• 光学測定器

本製品は半導体レーザを搭載 光学オートコリメータ方式非接触角度測定センサ 測定範囲は±70分

• 光学測定器