試験・分析・測定

アルバック・ファイ株式会社 営業部 （国内・海外）

住所神奈川県茅ヶ崎市萩園2500
電話0467-85-4220
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卓越した表面分析技術と充実のアフターサービス体制で様々なご要望にお応えします！

アルバック・ファイ株式会社は、表面分析装置 「X線光電子分光分析装置 （XPS）」、「二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS,D-SIMS）」、 「走査型オージェ電子分光分析装置（AES）」の取扱メーカーとして、 先進的な表面分析装置をご提供いたします。 品質管理から研究開発などのあらゆる場面で、お客様のご意見を しっかりと受け止め、卓越した表面分析技術と充実のアフターサービス 体制で様々なご要望にお応えします。 また、独創的な製品開発と最先端の表面分析技術を発信することで 次世代テクノロジーの開発に貢献いたします。

事業内容

【取扱製品】 ■X線光電子分光分析装置 XPS 　・PHI Quantes 　・PHI 5000 VersaProbe III 　・PHI X-tool 　・PHI Quantera II(TM) ■走査型オージェ電子分光分析装置 AES 　・PHI 710 　・PHI 4800 ■飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS 　・PHI nanoTOF II(TM) 　・MS/MS オプション ■四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS 　・PHI ADEPT-1010(TM) ■高速分光エリプソメーター 　・PHI QuickSE シリーズ　など

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デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』

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デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』

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企業名 アルバック・ファイ株式会社 営業部 （国内・海外）
連絡先〒253-8522 神奈川県茅ヶ崎市萩園2500地図で見る TEL：0467-85-4220 FAX：0467-85-4411
業種 試験・分析・測定
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