これまでの常識を超える新しい応用分野を切り開くXPS！
『PHI Quantes』は、エネルギーの異なる硬X線（Cr Kα線）と従来の 軟X線（Al Kα線）の2線源を搭載し、微小領域から大面積まで高感度な分析が 可能な走査型デュアルＸ線光電子分光分析装置 (XPS)です。 2種類のX線源は短時間･自動で切り替えが可能。 試料の同一箇所を分析することができます。 【特長】 ■走査型デュアルモノクロX線源 ■2線源による容易な同領域測定 ■ターンキー帯電中和 ■自動分析 ■高耐圧アナライザ ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
アルバック・ファイ株式会社は、表面分析装置 「X線光電子分光分析装置 （XPS）」、「二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS,D-SIMS）」、 「走査型オージェ電子分光分析装置（AES）」の取扱メーカーとして、 先進的な表面分析装置をご提供いたします。 品質管理から研究開発などのあらゆる場面で、お客様のご意見を しっかりと受け止め、卓越した表面分析技術と充実のアフターサービス 体制で様々なご要望にお応えします。 また、独創的な製品開発と最先端の表面分析技術を発信することで 次世代テクノロジーの開発に貢献いたします。