『LiteScope 2.0』は、走査電子顕微鏡に容易に統合可能な 原子間力顕微鏡です。 SEMへの搭載は容易ですぐに使用可能、かつスタンドアロンAFM としても利用可能。 FIB、GIS、EDSやその他一般的なSEMアクセサリにも互換性が あります。 【特長】 ■SEMの機能拡張 ■非常に精密な相関イメージング ■迅速かつ容易な関心領域への位置合わせ ■サンプル汚染のリスクを排除 ■2DSEM像を3Dに拡張 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 電子顕微鏡
• その他顕微鏡・マイクロスコープ
• その他検査機器・装置

『TESCAN UniTOM XL』は、複数の解像度でイメージング可能な X線マイクロCTシステムです。 高スループットイメージングや多様なサンプルタイプにも適用。 エネルギー変換・貯蔵や製薬、民生品とその包装など様々な分野の 材料研究・故障解析・品質保証に用いることができます。 【特長】 ■高スループット ■高い柔軟性を有するイメージング機能 ■その場観察/ダイナミックCT ■さまざまなサンプルに対応 ■モジュール式設計 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• X線検査装置
• 欠陥検査装置
• その他検査機器・装置

『iMicro』は、InForce1000とInForce50の両方のヘッドを 取り付けることができる多機能ナノインデンターです。 ナノインデンターのヘッドを2つ組み合わせることによりサンプルの 2次元的な機械特性を取得することが可能。 連続剛性測定法(CSM/CSR法)を用いて、表層の硬度の プロファイルを取得し、アルマイト処理により表層の硬度が 大きく上昇していることが確認できました。 【取り付け可能なヘッド】 ■InForce1000 ■InForce50 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 試験機器・装置
• 分析機器・装置
• その他計測・記録・測定器

自動車部品で多用されるダイヤモンドライクカーボン（DLC）膜やコネクタの電極表面の金属メッキ膜、樹脂表面の保護用ハードコート膜など、製品の機械的特性を向上させる薄膜の使用が増えています。ナノインデンターでは、従来の押しこみ試験では測定が困難であったミクロンレベルの薄膜に対し、高精度かつ自動で硬さ・ヤング率等の機械的特性が取得可能です。さらに加熱やスクラッチといった各種オプションも追加可能です。

• 金属軸受・ベアリング
• プラスチック
• 強度試験装置