SEMとAFMを組み合わせた相関分析！材料表面の理解がより深化
『LiteScope 2.0』は、走査電子顕微鏡に容易に統合可能な 原子間力顕微鏡です。 SEMへの搭載は容易ですぐに使用可能、かつスタンドアロンAFM としても利用可能。 FIB、GIS、EDSやその他一般的なSEMアクセサリにも互換性が あります。 【特長】 ■SEMの機能拡張 ■非常に精密な相関イメージング ■迅速かつ容易な関心領域への位置合わせ ■サンプル汚染のリスクを排除 ■2DSEM像を3Dに拡張 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【観察・測定モード】 ■形状イメージング/表面ラフネス ■機械特性 ■電気特性/電気機械特性 ■磁気特性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【アプリケーション範囲】 ■マテリアルサイエンス ■ナノ構造体 ■半導体 ■ライフサイエンス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
株式会社東陽テクニカは、情報通信、機械制御/振動騒音、物性/エネルギー、 EMC/ 大型アンテナ、海洋/特機、ソフトウェア開発支援、 ナノイメージング、メディカルシステムといった分野で海外の先端の 測定機器・技術をご紹介するとともに、長年のノウハウの蓄積を生かした 自社開発製品も提供いたしております。 ナノイメージングの分野では、特定部位を高速・広範囲で加工、観察できる 複合分析装置『XeプラズマFIB-SEMシステム』などの製品を 取り扱っております。
