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セブンシックス株式会社

設立2007年4月
資本金1000万
住所東京都港区六本木6丁目10番1号 六本木ヒルズ森タワー17階
電話03-6721-1077
  • 特設サイト
  • 公式サイト
最終更新日:2025/11/18
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EXFO EXFO
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EXFO

EXFO

EXFO社は、カナダに拠点を置く大手光測定器メーカです。 光ファイバーテストソリューションの世界的リーダーとして、光通信業界における製造、開発、研究分野などの様々な現場より圧倒的な信頼を築いています。

ネットワークテスター『FTBx-8848x』シリーズ

SFP112/QSFP112対応!コンパクトなFTB-1 HPDCシャーシに実装可能

『FTBx-8848x』シリーズは、小型多ポート構成可能で、 112G Electrical laneにも対応した400GbEネットワークテスターです。 DCOはQSFP-DD及びOSFPの400G ZR及びOpenZR+をサポート。 ラックマウントシャーシであるLTB-8(3Uサイズ)には 最大4モジュール=400GbE×8ポートまで実装可能です。 【特長】 ■既存のFTBx-88460シリーズに比べて小型化、多ポート化(400GbE×2~4)を実現 ■112G electrical(SFP112/QSFP112)をサポート ■DCOはQSFP-DD及びOSFPの400G ZR及びOpenZR+をサポート ■TA(ターミナルアダプタ)はTA-QSFP28、TA-SFP28、及びTA-CFP4をサポート ■ラックマウントシャーシであるLTB-8(3Uサイズ)には  最大4モジュール=400GbE×8ポートまで実装可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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800GbEネットワークテスター『FTBx-8880x』シリーズ

800GbE P to P試験を始め、2x400GbEや8x100GbEとのブレイクアウト試験にも対応!

『FTBx-8880x』シリーズは、800GbEthernetに対応した ネットワークテスターです。 ポート構成の異なる「FTBx-88800」「FTBx-88801」の2モデルを対応。 800G-ZR/LR/LR8/FR8/2FR4/2LR4/DR8/2DR4/SR8/2SR4等の様々な オプティクスをサポート予定です。 【特長】 ■1モジュールに800GbE×2ポート実装 ■ポート構成の異なる2モデルをご用意 ■800G-ZR/LR/LR8/FR8/2FR4/2LR4/DR8/2DR4/SR8/2SR4等の様々な  オプティクスをサポート予定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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PIC(光集積回路)テストソリューション

測定したい光集積回路をカスタマイズ!当社のテストソリューションをご紹介

当社は、パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供いたします。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路毎に好適な構成を 都度カスタマイズしてご利用いただけます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■幅広い光集積回路を、ウェハーレベル、ダイレベル、  コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/  パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※日本語版・英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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狭線幅 波長可変レーザ『T200S』

>90dBワイドダイナミックレンジ!光コンポーネント・光導波路のテストなどで活躍

『T200S』は、安定した高出力、狭線幅、超低ノイズ、広帯域な波長可変レンジ モードホップフリーでの高速掃引を実現した波長可変レーザ光源です。 光通信分野で広く使用されているO-band及びCL-bandをサポート。 波長チューニングモードと連続掃引モードをサポートし、各種の研究開発用途や 光コンポーネント・光導波路のテストなどで活躍します。 【特長】 ■>90dBワイドダイナミックレンジ:SSSER>90dB(typ),STSSER>75dB(typ) ■全波長可変範囲にて>10dBmの高出力 ■狭線幅:<50kHz ■モードホップフリー制御により信頼性の高い高速掃引(up to 200nm/s)を実現 ■CL-bandモデル(1500~1630nm)/O-bandモデル(1260~1360nm) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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波長可変レーザー『T500S』

O/E/S/C/L/U-bandをフルサポート!信頼性の高い高速掃引(up to 200nm/s)を実現

『T500S』は、O/E/S/C/L/U-bandをフルサポートした波長可変レーザーです。 広帯域な波長可変レンジ、安定した高出力、狭線幅、超低ノイズな 波長可変レーザ光源で、各種の研究開発用途や光コンポーネント・ 光導波路のテストなどで活躍します。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■極めて広帯域で幅広い波長レンジをサポート ■全波長可変範囲にて>10dBmの高出力及び可変可能 ■モードホップフリー制御により信頼性の高い高速掃引(up to 200nm/s)を実現 ■狭線幅<50kHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ビットエラーレートテスター『BA-4000』

800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート!

『BA-4000』は、NRZおよびPAM4コーディングをサポートし、高度な FECツールを備え800Gまでのテスト能力を持つ電気BERテスターです。 800GbE/400GbE等のPAM4変調方式を用いた高速伝送規格の対応デバイス (光トランシーバ・OSA・FPGA等)の試験・評価に好適。 ユーザーインターフェースは、各チャンネルのテスト結果をシンプルかつ リアルタイムに表示します。 【特長】 ■800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート  (~56GBd, NRZ/PAM4, ~8チャネル) ■バーストエラー分析に必須のFECシミュレーション機能 ■生成信号の高品質なアイパターン ■RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用 ■PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQをサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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クロックデータリカバリ『CD-4000』

光トランシーバの試験、評価の用途で使用!オート・ロッキングが特長

『CD-4000』は、EXFOのビットエラーレートテスターBA-4000とサンプリング・ オシロスコープEA-4000と組み合わせて同期の最適化を得るための CDR(クロック・データ・リカバリ)です。 1250nm~1650nmの光信号をサポート。光トランシーバの試験、評価の 用途で使用できます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■NRZ/PAM4サポート ■Integrated O/E with optical splitter ■超低ランダムジッタ ■オート・ロッキング ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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超高速サンプリング・オシロスコープ『EA-4000』

波長830~1600nm、帯域幅33GHz!光コンポーネントの生産ラインにおける検査工数を削減

『EA-4000』は、高速測定に対応(2秒以内に1000以上の波形計測可能)した 28G NRZシグナル対応、830~1600nmフルレンジ、広帯域(33GHz)の 光サンプリング・オシロスコープです。 極低ジッタの優れたパフォーマンスを実現。25G~100G標準マスク (MSA)に対応。 業界最速水準の高速測定(1000波形を2秒以内)で、光コンポーネントの 生産ラインにおける検査工数の削減、スループットの向上が可能です。 【特長】 ■超高速スコープ 1M サンプル/秒、2秒以内に1000以上の波形を測定  (2000 サンプル/波形) ■28G NRZシグナル対応 ■低ジッタモードをサポート ■フルレンジモデル(830~1600nm)とシングルモードモデル  (1250~1600nm)をサポート ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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波長帯域幅可変 光フィルタ『XTA-50/XTM-50』

波長1450~1650nm!マニュアル操作タイプと自動タイプの2モデルに対応

『XTA-50/XTM-50』は、波長レンジが広く(標準1450~1650nm)、急峻な エッジ特性をもつ波長・帯域幅可変フラットトップ型光フィルタです。 複雑な変調方式のサブバンドの解析、チャンネル・スペーシングの削減 等の用途に好適。 standard、ultrafine、wide、bandの4つのモデルをご用意しております。 【特長】 ■中心波長可変:1450~1650nm(standard) ■帯域幅可変:50~950pm(standard) 50~5000pm(wide) ■急峻なエッジ特性:500dB/nm(standard) 800dB/nm(ultrafine) ■Oバンド対応モデルもラインアップ ■マニュアル操作タイプ(XTM-50)と自動タイプ(XTA-50)の2モデルに対応 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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光コンポーネントテスタ『CTP10』

光パッシブ部品を24時間365日テストするためのモジュール式測定プラットフォーム!

『CTP10』は、光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用 プラットフォームです。 チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL測定を 提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成できます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■波長範囲:1240-1680 nm ■ダイナミックレンジ:一回の掃引で70 dB ■IL解像度:0.0001 dB ■プラットフォーム毎に最大50の検出器 ■波長精度:±5 pm ■サンプリング分解能:1 pm @掃引速度100 nm/s ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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CD/PMDアナライザ

シングルエンド測定にも対応!メッシュ型ネットワーク用など、多様なラインアップ

当製品は、光ファイバ伝送路の波長分散(Chromatic Dispersion)及び 偏波モード分散(Polarization Mode Dispersion)の測定機です。 12,000kmの長距離伝送路用から、シングルエンドで120kmまでの測定可能な メッシュ型ネットワーク用など、様々な製品をラインアップ。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ】 ■FTB-5800(FLS-5834A) ■FTB-5500B(FLS-5834A) ■FTB-5700 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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PIC(光集積回路)テストソリューション

測定したい光集積回路をカスタマイズ!スペクトル分析や、機能テストにも活用できる

当社では「PIC(光集積回路)テストソリューション」をご提供しております。 パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路(PIC:Photonic Integrated Circuit)毎に適切な構成を都度カスタマイズして ご利用いただけます。 【特長】 ■パッシブ部品、アクティブ部品、量子フォトニクスチップ(ダイ)、  AWG、トランシーバー(伝送、BER)など幅広い光集積回路を、ウェハー  レベル、ダイレベル、コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/  パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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800GbEネットワークテスター『FTBx-8880x』シリーズ

800GbE P to P試験を始め、2x400GbEや8x100GbEとのブレイクアウト試験にも対応!

『FTBx-8880x』シリーズは、800GbEthernetに対応した ネットワークテスターです。 800G-ZR/LR/LR8/FR8/2FR4/2LR4/DR8/2DR4/SR8/2SR4等の 様々なオプティクスをサポート予定。 また、1モジュールに800GbE×2ポート実装しています。 但し同時駆動不可です。(切替は可能) 【特長】 ■ポート構成の異なる以下の2モデルをご用意 ・FTBx-88800:QSFP800G×2ポート ・FTBx-88801:QSFP800G×1ポート+OSFP800G×1ポート ■800G-ZR/LR/LR8/FR8/2FR4/2LR4/DR8/2DR4/SR8/2SR4等の  様々なオプティクスをサポート予定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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400GbEネットワークテスター『FTBx-8848x』

SFP112/QSFP112対応!DCOはQSFP-DD及びOSFPの400G ZR及びOpenZR+をサポート

『FTBx-8848x』シリーズは、小型多ポート構成可能で、112G Electrical laneにも対応した400GbEネットワークテスターです。 既存の「FTBx-88460」シリーズに比べて小型化、多ポート化 (400GbE×2~4)を実現。 また、ラックマウントシャーシであるLTB-8(3Uサイズ)には 最大4モジュール=400GbE×8ポートまで実装可能です。 【特長】 ■既存のFTBx-88460シリーズに比べて小型化、多ポート化(400GbE×2~4)を実現 ■DCOはQSFP-DD及びOSFPの400G ZR及びOpenZR+をサポート ■TA(ターミナルアダプタ)はTA-QSFP28、TA-SFP28、及びTA-CFP4をサポート ■ラックマウントシャーシであるLTB-8(3Uサイズ)には  最大4モジュール=400GbE×8ポートまで実装可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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波長可変レーザー『T500S』

モードホップフリー制御により信頼性の高い高速掃引(up to 200nm/s)を実現!

『T500S』は、O/E/S/C/L/U-bandをフルサポートした波長可変レーザーです。 広帯域な波長可変レンジ、安定した高出力、狭線幅、超低ノイズな 波長可変レーザ光源で、各種の研究開発用途や光コンポーネント・ 光導波路のテストなどで活躍。 また、全波長可変範囲にて>10dBmの高出力及び可変可能です。 【特長】 ■極めて広帯域で幅広い波長レンジをサポート ・O-band:1240~1360nm ・ES-band:1350~1510nm ・SCL-band:1460~1640nm ・CL-band:1500~1640nm ・CLU-band:1500~1680nm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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狭線幅 波長可変レーザ『T200S』

>90dBワイドダイナミックレンジ!全波長可変範囲にて>10dBmの高出力

『T200S』は、安定した高出力、狭線幅、超低ノイズ、広帯域な波長可変 レンジ、モードホップフリーでの高速掃引を実現した波長可変レーザ光源です。 光通信分野で広く使用されているO-band及びCL-bandをサポート。 波長チューニングモードと連続掃引モードをサポートし、各種の 研究開発用途や光コンポーネント・光導波路のテストなどで活躍。 また、波長チューニングモードと連続掃引モードがございます。 【特長】 ■>90dBワイドダイナミックレンジ:SSSER >90dB(typ),STSSER >75dB(typ) ■全波長可変範囲にて>10dBmの高出力 ■狭線幅:<50kHz ※CL-bandモデル、チューニングモード ■モードホップフリー制御により信頼性の高い  高速掃引(up to 200nm/s)を実現 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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波長帯域幅可変 光フィルタ『XTA-50/XTM-50』

急峻なエッジ特性!500dB/nm(standard)、800dB/nm(ultrafine)

『XTA-50/XTM-50』は、波長レンジが広く(標準1450~1650nm)、急峻な エッジ特性をもつ波長・帯域幅可変フラットトップ型光フィルタです。 マニュアル操作タイプ「XTM-50」と自動タイプ「XTA-50」の2モデルに対応。 Oバンド対応モデルもございます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■中心波長可変 1450~1650nm(standard) ■帯域幅可変 50~950pm(standard) 50~5000pm(wide) ■急峻なエッジ特性 500dB/nm(standard) 800dB/nm(ultrafine) ■Oバンド対応モデルもあり ■マニュアル操作タイプ(XTM-50)と自動タイプ(XTA-50)の2モデルに対応 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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全自動光コネクタ端面観察器『FIP-500』

ディスプレイ一体型のスタンドアローンタイプ!バッテリー駆動11時間

『FIP-500』は、単芯から多芯(MPO)まで、様々な光コネクタ端面の全自動 検査(検出、調光、フォーカス、センタリング、撮影、合否判定、保存) に対応したハイグレードモデルの端面観察器(ファイバスコープ)です。 ディスプレイ一体型のスタンドアローンタイプで、バッテリー駆動は、 11時間となっております。 また、Bluetooth、USBでスマホ、PCへデータ転送できます。 【特長】 ■端面検査の全工程を自動化  (検出、調光、フォーカス、センタリング、撮影、合否判定、データ保存) ■単芯(LC、SC、FC他)、多芯(MPO)含めた様々な光コネクタに対応 ■ディスプレイ一体型のスタンドアローンタイプ ■バッテリー駆動11時間 ■Bluetooth、USBでスマホ、PCへデータ転送 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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光スペクトラムアナライザ『FTBx-5235』

CWDM/DWDMネットワーク用の製品!波長は1270~1610nmで、周波数が50GHz/100GHz

『FTBx-5235』は、小型・コンパクト、かつ1台でCWDM/DWDMの ネットワーク解析を可能にした光スペアナです。 これ一台で、1270~1610nmのCWDM光、及び50GHz/100GHz spacingの DWDM/コヒーレント通信光のCH毎の光パワー、OSNR測定が可能。 デモ機もお貸出ししておりますのでお問合せください。 【特長】 ■小型・コンパクトな設計 ■広い波長範囲を1台でカバー ■多様な分析機能 ■高速測定:測定時間<1.2秒 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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光ファイバ心線対照器 シングルモードファイバ

運用中の通信サービスを中断することなく(低挿入損失<0.5dB@1550nm)心線対照が可能!

『シングルモードファイバ』は、ダークファイバのみでなく、 活線にも対応した光ファイバ心線対照器です。 運用中の通信サービスを中断することなく心線対照を行うことの できるソリューション。 デモ機もございますので、ぜひお問合せください。 【特長】 ■光ファイバ(シングルモードファイバ)の心線対照機能 ■音色認識による特定のダークファイバーの位置確認(270Hz、1kHz、2kHz) ■最小限の損失を実現:1dB以下 ■テストサイクルを3倍の速度に高速化 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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CD/PMDアナライザ シングルエンド測定にも対応

FTB-5800&5500Bは、光源と測定機の組み合わせで両端に作業者が必要ですがアンプを含む長距離測定に対応!

「CD/PMDアナライザ」は、光ファイバ伝送路の波長分散(Chromatic Dispersion)及び偏波モード分散(Polarization Mode Dispersion)の 測定機です。 12,000kmの長距離伝送路用から、シングルエンドで120kmまでの 測定可能なメッシュ型ネットワーク用など、様々ラインアップ。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■12,000kmの長距離伝送路用から、シングルエンドで120kmまでの測定可能な  メッシュ型ネットワーク用など、様々なラインアップがある ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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光コンポーネントテスタ『CTP10』

波長範囲は、1240-1680nm!一回の掃引で70dBのダイナミックレンジ

『CTP10』は、光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用 プラットフォームです。 チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL 測定を提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■波長範囲:1240-1680nm ■ダイナミックレンジ:一回の掃引で70dB ■IL解像度:0.0001dB ■プラットフォーム毎に最大50の検出器 ■波長精度:±5pm ■サンプリング分解能:1pm@掃引速度100nm/s ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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イーサネットテスター『FTBx-88460』

ラボ環境向けのベンチトップ筐体、フィールドテスト向けのポータブル筐体の2種類から選択可能!

『FTBx-88460』は、新しい400G/200G/100Gbpsイーサネット通信規格 (IEEE802.3bs,IEEE802.3ba)に対応した汎用テスターです。 400Gより新たに適用されたPAM4変調やFECはより高いレベルの複雑さを もたらし、400GbEのサービス品質測定は必須になりつつあります。 EXFOの当製品は、豊富な試験機能でL3レイヤーを含む多様な試験ニーズを トータルにサポートいたします。 【特長】 ■QSFP-DD、OSFP、CFP8、QSFP28、QSFP56等の様々なフォーム・ファクタを  フレキシブルにサポート(オープン・トランシーバ・システム) ■インターフェース(CFP2-DCO、400G-ZR等)への拡張性を確保、  高い電力容量を必要とするCFP2-DCO(>21W)も同一筐体で対応可能 ■EtherBERT、RFC-2544、TrafficGen、EtherSAM等の各種機能を  サポートしており、IPv4&IPv6等のL3試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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光ファイバチェッカー『OX-1』

複雑な設定不要なユーザフレンドリーな設計!パワーモニタと光源を内蔵

『OX-1』は、シングルエンド接続で光ファイバの線路長/損失/反射を わずか3秒で同時測定できる光ファイバチェッカーです。 光ファイバ配線の工事・メンテナンスに携わる幅広いお客様へ、 設備投資・運営コストの削減をご提案。 また「Fault Xplorer」により、自動で線路の障害要素を検出・分析します。 【特長】 ■シングルエンド接続のみで測定可能 ■SMFのケーブル長・損失・反射を同時に3秒以内に測定可能 ■独自のアルゴリズムにより線路品質の五つ星判定表示 ■コネクタ接続部交換可能でメンテナンス性が大幅に改善 ■自動で線路の障害要素を検出・分析も可能 ■パワーモニタと光源を内蔵 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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MPOケーブルチェッカー

SMファイバ/MMファイバ、12芯/24芯対応!品質を迅速にチェックすることが可能

『MPOケーブルチェッカー』は、MPOコネクタ付光ケーブルのファイバ導通/ コネクタ端面/極性を自動チェックできるテスターです。 光源ユニット・観察プローブ・コネクタチップの組み合わせにより、 SMF/MMF及び12芯/24芯の全てのMPOケーブルの品質を迅速にチェック することが可能。 合否判定やレポート機能を備えたモバイル端末用アプリ「ConnectorMax Analysis Software」で、ユーザは検査をその場で簡単に実行し、結果を 確認することができます。 【特長】 ■APC、UPC、オス(ピン付き)、メス(ピン無し)の各コネクタに対応 ■自動PDFレポート機能付き ■1つのアプリで結果を管理できる、モバイルデバイス用アプリケーション ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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光パワーメータ『PX-1』

手のひらサイズで小型軽量!USB充電式で、バッテリ駆動8時間です

『PX-1』は、1台で最大45波長(850nm/1310nm/1550nm/CWDM/PON他)の 光パワー測定が可能な多機能汎用光パワーメータです。 USB及びBluetooth接続でPC・スマホへデータ転送できるほか、 IP54防塵・防水規格に対応。 また、自動波長認識、スイッチング機能を搭載しています。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■最大45波長(850nm/1310nm/1550nm/CWDM/PON他)の測定が可能 ■手のひらサイズで小型軽量(133x78x30mm/225g) ■バッテリ駆動8時間(USB充電式) ■USB及びBluetooth接続でPC・スマホへデータ転送 ■IP54防塵・防水規格対応 ■自動波長認識、スイッチング機能搭載 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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光トランシーバテスター『MA-4000』

オールインワン型で、一台でBERT/MCB/電源を兼ね備えています!

『MA-4000』は、400GbE/100GbE等の伝送規格に対応した光トランシーバの ビットエラーレートテスト(BERT)に特化したテスターです。 MCB付け替え方式採用しQSFP-DD,OSFP,QSFP28,SFP28,SFP-DDをサポート。 接続作業が煩雑でかさばるRFケーブル不要。(基板同士の直接コンタクト) また、バーストエラー分析を強力にサポートするFECシミュレーション 機能がございます。 【特長】 ■8チャンネル、10~28GBd、PAM4/NRZサポート ■MCB付け替え方式採用しQSFP-DD,OSFP,QSFP28,SFP28,SFP-DDをサポート ■将来的な規格にもMCB付け替えで柔軟に対応可能 ■接続作業が煩雑でかさばるRFケーブル不要(基板同士の直接コンタクト) ■バーストエラー分析を強力にサポートするFECシミュレーション機能 ■3.13~3.465Vの内蔵電源による電圧テスト機能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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ビットエラーレートテスター(BERT)『BA-4000』

生成信号の高品質なアイパターン!RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用

『BA-4000』は、800GbE/400GbE等のPAM4変調方式を用いた高速伝送規格の 対応デバイス(光トランシーバ・OSA・FPGA等)の試験・評価に適切な、 ビットエラーレートテスターです。 400GbE/800GbE等のPAM4変調を適用した高速伝送規格では、伝送品質を 確保するためにFEC(前方誤り訂正)を使用することが定められており、 伝送品質評価においても、FECによるエラー訂正を含めた評価が必要。 当製品のFECシミュレーション機能は、バーストエラーに対する様々な 分析機能を提供します。 【特長】 ■800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート  (~56GBd,NRZ/PAM4,~8チャネル) ■バーストエラー分析に必須のFECシミュレーション機能 ■生成信号の高品質なアイパターン ■RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用 ■PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q,SSPRQをサポート ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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クロックデータリカバリ(CDR)『CD-4000』

光トランシーバの試験、評価に適した製品をご紹介いたします!

『CD-4000』は、EXFOのビットエラーレートテスター「BA-4000」と サンプリング・オシロスコープ「EA-4000」と組み合わせて同期の 最適化を得るためのCDR(クロック・データ・リカバリ)です。 NRZ/PAM4サポート。Integrated O/E with optical splitter。 光トランシーバの試験、評価に適しています。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■NRZ/PAM4サポート ■Integrated O/E with optical splitter ■超低ランダムジッタ ■オート・ロッキング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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超高速サンプリング・オシロスコープ『EA-4000』

光コンポーネントの生産ラインにおける検査工数の削減、スループットの向上が可能!

『EA-4000』は、高速測定に対応(2秒以内に1000以上の波形計測可能)した 28G NRZシグナル対応、830~1600nmフルレンジ、広帯域(33GHz)の 光サンプリング・オシロスコープです。 業界最速クラスの高速測定(1000波形を2秒以内)で、光コンポーネントの 生産ラインにおける検査工数の削減、スループットの向上が可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■超高速スコープ 1M サンプル/秒、2秒以内に1000以上の波形を測定  (2000サンプル/波形) ■28G NRZシグナル対応 ■低ジッタモードをサポート ■フルレンジモデル(830~1600nm)とシングルモードモデル(1250~1600nm)  をサポート ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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