エスペックの製品ラインアップ

車載用機器、部品のグローバルな調達において標準として広く利用されている 国際規格ISO16750や、ドイツ自動車メーカーにより作成されたLV124規格。 当社の試験所はこれらの規格にされた評価試験に対応します。

エスペックでは、環境試験器の販売だけでなく、長きにわたり環境試験の 研究や試験方法の開発などを行ってきました。 その数多くの経験と実績を活かし、信頼性試験の設計から評価・解析、 さらには評価結果に対する改善提案まで、プロセス単位またはトータルに お客さまの信頼性試験を受託いたします。 また、新しい環境試験器をラインアップしておりますので、お客様の 要望に応じてさまざまな試験にお応えできます 【特長】 ■周辺システムを含めた試験設計（コンサルティング） ■公的に認められた試験所 ■長年の経験と実績 ■お客さまの信頼性試験をトータルにサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

－40～＋180℃に温度調節した空気を噴射し、試験を効率化するチャンバーレスシステム 様々な計測機器や分析・解析機器と組合せて、半導体や電子デバイスの温度特性試験や故障解析、品質試験にご活用いただけます。 【特長】 ■試験効率アップ 先端ヒータータイプは温度変化速度100℃/分（空気温度）を有し、吹出口先端にアタッチメントを取付け試料をコンパクトに囲うことで温度サイクル試験や冷熱衝撃試験の時間を短縮。電力消費量を大幅削減。 ■フレキシブル 先端ヒータータイプは水平垂直多関節アームで狙い通りの場所に吹出口を設置が可能。背面ヒータータイプはフレキシブルホースを採用し、試料や評価装置の駆動に吹出口を追随が可能 ■チャンバーレス、ドアレスでの試験 専用アタッチメントを用いて恒温槽の観測窓ガラスや金属などの遮蔽物がない状態で試料を冷却加熱が可能。画像センサー（カメラ）やミリ波レーダーをはじめ各種車載センサーの評価や3D変異ひずみ測定システムや赤外線サーモグラフィとの組合せ評価、X線透過装置と組合せて二次電池・半導体・プリント実装基板などの非破壊内部観察などを実現

低温・高温の温度サイクル環境下において、はんだ接合部やコネクタ接点部の導体部分の微小抵抗値を連続測定。パソコンによる自動計測、データ収録およびデータ処理のシステム化を実現しています。データのグラフ化や表計算ソフトとのデータ互換をはじめ、LANを経由したデータ処理が行えるなど、接続信頼性評価をより正確に効率よく行えます。 【特長】 ■独自のマルチスキャン方式と国際標準対応の計測器を搭載 ■直流電流印加方式と交流電流印加方式の2タイプ ■絶対値判定方法・変化率判定方法の2種の故障判定が可能 ■パソコンでリアルタイム測定でき測定中においてもデータ編集・閲覧可能 ■冷熱衝撃装置との連動により試験効率を大幅に向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

高精度な電圧・電流印加とFET単体トランジスタの電気的特性および継続的変化を測定し、1台のPCでデータ収集、モニタリングなどの一元管理が可能です。

高温や高温高湿試験環境下でコンデンサの絶縁劣化特性の自動評価を可能にした「コンデンサ絶縁劣化試験システム」を開発。 このシステムは任意の高温（高湿）試験環境下においてコンデンサに電圧を印加し、絶縁破壊による漏れ電流を捉えます。絶縁破壊により漏れ電流発生の表示、故障検出と故障算出、累積ハザードによる故障解析など多彩なデータ処理、解析機能を搭載した自動計測システムです。

当資料は、「サーマルソリューション」を軸に製品ラインアップを 展開した資料です。 半導体信頼性試験規格の恒温恒湿試験に適合する装置で容量や 温湿度範囲の違いにより数多いラインアップから適切な機種を 選択できます。 信頼性試験の中で、高温と低温を瞬時に切り替えることにより接合部の クラックなどを加速的に起こさせるサーマルショック試験の専用装置も ご紹介しています。 【掲載内容(一部)】 ■前工程 ■技術トレンド ■後工程 ■検査 ■品質トレンド ■当社製品提案 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。