エスペックの製品ラインアップ

エスペックでは、環境試験器の販売だけでなく、長きにわたり環境試験の 研究や試験方法の開発などを行ってきました。 その数多くの経験と実績を活かし、信頼性試験の設計から評価・解析、 さらには評価結果に対する改善提案まで、プロセス単位またはトータルに お客さまの信頼性試験を受託いたします。 また、新しい環境試験器をラインアップしておりますので、お客様の 要望に応じてさまざまな試験にお応えできます 【特長】 ■周辺システムを含めた試験設計（コンサルティング） ■公的に認められた試験所 ■長年の経験と実績 ■お客さまの信頼性試験をトータルにサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

車載用機器、部品のグローバルな調達において標準として広く利用されている 国際規格ISO16750や、ドイツ自動車メーカーにより作成されたLV124規格。 当社の試験所はこれらの規格にされた評価試験に対応します。

全天候（温湿度や雪、雨、太陽光、霧、風）に加え動的気象環境（刻々と変化する気象環境のこと）を再現でき、降雪や降雨、霧といった気象環境に温度や光を加えた複合的な気象環境や、みぞれから雪への変化、雨から霧への変化など実際の気象環境を創り出すことができます。これにより、気象環境の変化の影響を受けやすいモビリティ市場や次世代通信市場など最先端技術の課題解決に貢献するとともに、防災防犯、農作物関連市場など社会課題の解決にも寄与してまいります。 【環境因子のモジュールや評価事例、工程毎の製品紹介】 ・太陽光モジュール ・降雨モジュール ・霧モジュール ・降雪モジュール ・車風速モジュール ・温湿度モジュール ・動的気象環境/複合気象環境試験 ・検査用装置 ・パワーデバイス評価

アドバンストバッテリーテスターが採用する恒温槽一体型構造。 挿抜式の電池ホルダーとの組合せで、最短経路で充放電電源と電池を直結します。 長いケーブルによる電源品質の低下やノイズの影響を最小限に抑え、高品質、高精度な試験環境を実現します。 また、専用設計の恒温槽部は、電池ホルダーに対して水平な風の流れを実現。 治具やケーブルによる温度分布の乱れを最小限にし、温度環境による充放電試験結果の誤差を最小限に抑えます。 1槽タイプと3槽タイプをご用意しており、3槽タイプは各槽で異なる温度条件で試験が可能です。 【特長】 ■1台の装置で様々な試験ニーズに柔軟に対応 ■ケーブルレスで電源システムロスを最小化し、消費電力を抑えることが可能 ■ケーブルの配信抵抗による電圧降下を最小限に抑える ■チャンバー、電源システムなど全て一括で、弊社全国16拠点のサービス網で対応 ※詳細は下記よりPDFをダウンロードまたは、お気軽にお問い合わせ下さい。

製品開発において短期間で製品の弱点を検出し、製造工程における潜在的な不具合をいち早く取り除くための試験ツールです。 弱点の検出／改善改良を繰り返し、評価に追加することで製品の信頼性が更に向上します。 【特長】 ■広い温度域：－100℃～＋250℃ ■急速温度変化：60℃/min以上 ■繰返し衝撃による6自由度ランダム振動 【HALT試験によって期待される主な効果】 ■ 製品の頑健性向上 製品仕様を超える「強いストレス」(急速温度変化や6自由度振動）を製品に与え、設計的な弱さを顕在化。故障箇所を改善することで製品の頑健性が向上します。 ■開発サイクルの短縮 開発フェーズにて潜在的な不具合を発見、改善することにより後工程で発生するリスクと手戻りを減らします。現行モデルとの比較や部品変更時に起こる信頼性の比較も「強いストレス」による試験で短期間に確認ができます。結果、開発サイクルをより短縮できます。 ■製品保証費等削減 従来の試験では見つけづらい潜在する不具合に対策することで、市場リリース後のトラブルを未然に防ぐことができ、製品にかかる保証費などを含めたトータルコストを削減します。

当社が提供している「LV124ワンストップサービス」について ご紹介いたします。 車載用機器、部品のグローバルな調達において標準として広く 利用されている国際規格ISO16750や、ドイツ自動車メーカーにより 作成されたLV124規格。当社の試験所はこれらの規格に規定された 評価試験に対応します。 気候的環境、機械的環境、通電、冷却など自動車を取り巻く環境を、 当社の試験技術により制御。実車走行環境を模擬した評価を ご提案いたします。 【機械的要件(一部)】 ■M-01 落下試験 ■M-02 飛石試験 ■M-03 塵埃試験 ■M-04 振動試験 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社が提供している「電子デバイス信頼性評価サービス」 についてご紹介いたします。 5Gや高速・大容量通信、高性能コンピュータなどを 支えるキーデバイスの環境因子の変化に対応し、 広範囲温度下でのデバイスの性能保証をご提供します。 半導体プロセスと評価試験及び周辺電子部品・材料評価 試験など、様々な試験に対応しております。ご用命の際は お気軽にご連絡ください。 【半導体プロセスと評価試験及び周辺電子部品・材料評価試験(一部)】 ■TDDB評価試験 ウェハー評価(AMM-TDDB-W) ■TDDB評価試験/半導体パラメトリック試験(AMM-TDDB-C/AMM/AMI) ■バーンイン(メモリ/ロジック/車載デバイス/センサー)(RBC/RBS/RBM/MBI) ■エレクトロマイグレーション評価 (Cu/Al/C4 Bump)(AEM) ■逆バイアス試験(パワーデバイス)(HTRB/HTGB/H3TRB/AMI) ■パワーサイクル試験(パワーデバイス)(RBS-PST) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当資料は、「環境試験ソリューション」に関するカタログです。 各種半導体デバイスの性能保証をするための信頼性試験規格に 応える先進装置を掲載。 新技術の進展に伴う実用化・量産化へ向けたスケールアップと、 それを支える新たな装置の導入にお役立ていただけます。 【掲載内容】 ■信頼性試験規格に応える ■微細化技術に応える ■発熱課題と熱対策に応える ■量産化に応える ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社が提供している「航空機関連機器のための環境試験・受託試験」に ついてご紹介いたします。 これまでに培った環境創造技術により、様々な地球環境の再現が可能です。 この技術によって、空での衝撃、振動、熱など様々な環境での信頼性・ 安全性試験を実現します。 航空機関連に必要な特殊な試験槽や大型槽を完備して各種安全性試験や MIL規格試験、故障分析などトータルにサポート。30年におよぶ環境試験に おける受託試験の実績と豊富な経験で、ご要望に合わせたサービスを提案します。 【試験サービス(一部)】 ■大型高度(減圧・低温)試験 ■加圧試験 ■高速温度変化試験 ■中型温度変化試験 ■砂塵(塵埃)試験 ■ハイレート振動試験 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。