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雄山株式会社より「小型A3プローバ」のご案内です。 チップレベルからΦ50mmウェハにまで対応した、シンプルなA3サイズの小型マニュアルプローバです。スライド式のケースを閉めることで簡易的にシールド構造になります。顕微鏡とワーク位置が一定のためケースの開け閉めで視野が変わることがありません。 半導体の電気特性評価に最適です。
『DELCOM』は、DC渦電流方式の非接触型シート抵抗測定システムです。 半導体/液晶基板、太陽電池セル、フレキシブル材料、各種導電性フィルム等の 研究開発・検査工程・製造ラインにおいて、サンプルへの物理的損傷を与えず、 幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現。 測定アプリケーションは、半導体、ITO膜、グラフェン＆カーボン、 容量性メタルホイール、電波吸収材料などです。 【特長】 ■DC渦電流方式の非接触型シート抵抗測定システム ■研究開発・検査工程・製造ラインにおいて、サンプルへの物理的損傷を与えない ■幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現 ■測定レンジは抵抗範囲に応じて4つのレンジから選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンパクトに形成された四点プローブシステムは、半導体/液晶基板、太陽電池セル、ならびに導電性薄膜等の研究開発・検査工程・製造ラインにおいて、多様化する電子材料の抵抗率、 シート抵抗値 を四探針法により迅速かつ高精度に測定します。
当社で取り扱う、スイス製の精密及び特殊ピンセットは、精選された材質で 入念に仕上げられた、ハンドメイドによる製品です。 非磁性体、耐腐食性、剛性材質など、様々な用途に応じた形状をラインアップ。 「ダイヤモンドスクライバー」は、ウエハのマーキング及びスクライブに 適しており、替え芯タイプやペンタイプなど多種製品を取り揃えております。 【特長】 ■スイス製 ■精選された材質で入念に仕上げられた、ハンドメイド ■材質が豊富 ■ウエハのマーキング及びスクライブに好適 ■替え芯タイプやペンタイプなど多種製品をラインアップ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『Orion3』は、デバイスの帯電による静電破壊現象をシミュレートできる テストシステムです。 湿度コントロール機能を備えており、テストヘッドを交換することで各種の 規格に対応したESD(CDM)試験を実施。 任意のデバイスに対して容易にテストパターンを作成でき、サイクルタイムを 最小限にします。 【特長】 ■湿度コントロール機能を備えた試験装置 ■テストヘッドを交換することで各種の規格に対応した試験を実施 ■任意のデバイスに対して容易にテストパターンを作成できる ■サイクルタイムを最小限にする ■新機能CDM2は従来の空間放電方式で問題になっている繰返し再現性を大幅に 改善した新方式のCDM試験が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
３つのバリエーションがあり、ユーザのご要求に合わせたシステムの提案が可能です。どのシステムも今日の最新の規格に対応したＥＳＤ試験、ラッチアップ試験(オプション)を実施できます。最大２５６ピンに対応したＥＳＤ試験装置です。
再現性、安全性に非常に優れた水銀プローブ方式を用いたCV／IV測定システムです。
再現性、安全性に非常に優れた水銀プローブ方式を用いたCV／IV測定システムです。 Si、化合物、SOI、SiC、バルクウェハといった様々なタイプのウェハ特性を測定できます。 ユーザが最大４９箇所の測定サイトを指定し、C-V、I-V特性、TDDB、Vbd、Qbdの酸化膜破壊評価、Dit、ドーピング濃度、酸化膜厚、Low-ｋ、High-k等のマッピング測定が可能なトータルシステムです。
雄山株式会社より「グローブボックス用プローバ」のご案内です。
雄山株式会社より「水平磁極間プローバ 41RFR」のご案内です。
雄山株式会社より「磁極間プローバ 4040MR」のご案内です。
雄山株式会社より「極低温プローバ」のご案内です。
雄山株式会社より「低温プローバ」のご案内です。
雄山株式会社より「真空プローバ」のご案内です。
雄山株式会社より「高温真空プローバ」のご案内です。
雄山株式会社より「大型液晶パネル用プローバ」のご案内です。
雄山株式会社より「小型液晶パネル用バックライトプローバ」のご案内です。
雄山株式会社より「シールディングプローバ」のご案内です。
雄山株式会社より「簡易シールドボックスプローバ」のご案内です。
雄山株式会社より「OYM-2000シリーズ」のご案内です。
雄山株式会社より「プロービングステーション」のご案内です。
雄山株式会社で取り扱う、TLP試験装置『Celestron』をご紹介いたします。 ウェハおよびパッケージレベルでデバイスのESD保護回路の特性評価を 行うことが可能。 カーブトレーサーを内蔵しており、省スペースです。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■カーブトレーサー内蔵 ■リアルタイムディスプレイ ・TLP電圧とパルス電流 ■プローバとのインターフェイス ・セミオートプローバとの接続 ■省スペース ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
雄山株式会社より「ESD試験装置 MKシリーズ」のご案内です。
主にレーザダイオードで使われているTOパッケージを対象としたマニュアル式の開封装置です。 【特長】 ◆手作業による面倒な条件出しが必要ないため作業時間を大幅に短縮 ◆開封の仕上がりが作業者の習熟度に左右されることもなく、開封作業が 誰でも簡単。サンプル損傷の低減に有効 ◆取扱や操作時に丸刃から手指を保護する安全カバー付き
ＯＹＭ−４０１は使いやすさを最優先した操作部がシンプルなベーシックモデルです。 【特長】 ◆ＩＣのパッドを対象にしたプロービングに適した、実体顕微鏡をセットアップ したモデル ◆標準で８インチストロークのＸ−Ｙステージを装備 ◆オプションとしてプローブカードホルダ、ホットチャックといった各装備の 設置が可能 ※詳細は『資料請求』まで
高倍率金属顕微鏡を搭載したハイグレードモデルです。 【特長】 ◆重厚性のあるベース部、さらに、耐荷重性に優れたポジショナステージの装備 ◆数ミクロンオーダー、サブミクロンといった微細な回路に対して高精度で安定したプロービングが可能 ◆顕微鏡マウントに、X-Y稼動とクイックリフトを採用。セッティング、ポジショニングが容易 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせください。
『TBシリーズ』は、省スペースで各種の計測目的に適したコストパフォーマンスに 優れたモデルのプローバです。 コンパクトなシールドボックスの中には試料台、マイクロポジショナ、 プローブ二ードル、信号用ケーブル、顕微鏡、除振台を標準装備。 プローブに必要な構成品があらかじめ含まれていますので、新たにプロービング環境を 構築する場合に比べて初期導入費用が安価で済みます。 【特長】 ■試料台、マイクロポジショナ、プローブ二ードル、信号用ケーブル、顕微鏡、 除振台を標準装備 ■新たにプロービング環境を構築する場合に比べて初期導入費用が安価 ■幅広くご使用いただけるコストパフォーマンスに優れたプロービングシステム ■コンパクトサイズのため、様々な用途、省設置スペースでの使用が可能 ■ホットチャック、各種先端径・材質のプローブなどのオプション品も豊富に用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
アメリカFour Dimensions社の再現性、安全性に非常に優れた水銀プローブ方式を用いたCV/IV測定システムです。Si、化合物、SOI、バルクといった様々なウェハの特性を測定できます。 【特長】 ◆電極作製が不要。水銀自体が電極となるため、コスト／時間の掛かる パターン形成工程が不要。バルク、又は絶縁膜を形成した状態で測定 可能 ◆オートマチックシステム。最大49箇所の測定サイトを指定しC-V、I-V 特性、TDDB、Vdb、Qbdの酸化膜破壊評価、Dit、ドーピング濃度、酸化 膜厚、Low-k、High-k等の自動マッピング測定が可能 ◆高い測定再現性。正確に設計された水源プローブ面積と、測定毎に新鮮 な水銀を使用する独自のメカニズムにより優れた測定再現性を実現 ◆コンパクト構造。CV、IVメータ、搬送台、プローブ部を一体化 ◆様々なウェハやチップに対応。1〜12インチウェハ、チップサイズサンプル の測定が可能
【イプロス初主催】AIを活用したリアル展示会！出展社募集中
