電子部品・半導体

株式会社アイテス

設立平成5年1月1日
資本金10000万
従業員数92名
住所滋賀県大津市栗林町1番60号
電話077-599-5015
最終更新日：
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アイテスのカタログ一覧

136～180 件を表示 ／ 全 349 件

表示件数

断面観察によるはんだのクラック率測定

製品カタログ

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積層基板の斜めCT観察

製品カタログ

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ポリエチレンのFT-IR分析

製品カタログ

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WPAによる製品／素材の歪、複屈折評価

製品カタログ

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ダイヤモンドのクラリティ観察

その他資料

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電解コンデンサのX線観察

その他資料

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【TOF-SIMSの事例】Liの分析

技術資料・事例集

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発熱解析による電子部品の故障箇所特定

製品カタログ

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ナイロン6.10の構造解析

製品カタログ

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MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析

製品カタログ

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【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します

その他資料

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【資料】ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析

製品カタログ

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XPSによるバンドギャップの簡易測定

製品カタログ

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真贋調査（比較観察）

製品カタログ

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【資料】偏光フィルムおよび光拡散フィルムの劣化分析

その他資料

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【資料】透明樹脂のFT-IR分析

その他資料

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光硬化樹脂中重合開始剤の分析

製品カタログ

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【資料】MEMS部品の構造解析

その他資料

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【資料】EPMA分析例 その2

その他資料

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表面分析ガイド

製品カタログ

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【資料】XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析

その他資料

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【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

技術資料・事例集

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FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）

製品カタログ

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BGA・CSP はんだの評価

その他資料

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【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します

技術資料・事例集

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メルトフローレイト（MFR）測定評価サービス

技術資料・事例集

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試料包埋時のエポキシ樹脂硬化温度について

技術資料・事例集

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【SEMによる断面観察】コネクタめっき

技術資料・事例集

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【資料】SEG-LCDパネル表示不良解析

その他資料

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【資料】ICP発光分光分析（ICP-AES）

その他資料

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【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価

その他資料

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【資料】ウィスカ観察～平面ウィスカ観察のコツ～

その他資料

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【資料】EPMA分析例

その他資料

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『化学分析の流れ』

仕様書

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ソラメンテ・eソラメンテ　校正・点検　サービスカタログ

製品カタログ

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eソラメンテeZ-10,電流センサーeA-10製品カタログ

製品カタログ

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ストリングチェッカー　ソラメンテ-Z SZ-1000製品カタログ

製品カタログ

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【資料】信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニューサービス

その他資料

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【資料】高分子構造変化の解析

その他資料

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【資料】EGA-MS分析、熱脱着・熱分解GC-MS分析によるPTP梱包シート分析

その他資料

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【資料】自記分光光度計による透過率測定サービス

その他資料

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似て非なる物の解析基本手法

その他資料

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EDX分析時の加速電圧の違いによる変化

その他資料

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素材の信頼性試験、および試験後の化学分析評価

技術資料・事例集

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EPMA分析における7つの分光結晶

技術資料・事例集

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