電子部品・半導体

株式会社アイテス

設立平成5年1月1日
資本金3000万
従業員数106名
住所滋賀県大津市栗林町1番60号
電話077-599-5015
最終更新日：
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信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察

技術資料・事例集

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ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例

技術資料・事例集

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【資料集】LCDパネル解析資料集

その他資料

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ラミネートフィルム異物分析事例

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ラミネートフィルムのフィッシュアイ分析事例

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液晶パネルのTFT特性評価

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【資料】質量分析ガイド

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【資料】色差計による塗料の色評価

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塗膜の観察

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プラスチック成形品の歪、複屈折評価

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ABS樹脂のFT-IR分析

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イオンクロマト分析事例（固体表面）

技術資料・事例集

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超微小硬度計による材料の特性評価

技術資料・事例集

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断面観察によるはんだのクラック率測定

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積層基板の斜めCT観察

技術資料・事例集

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ポリエチレンのFT-IR分析

技術資料・事例集

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WPAによる製品／素材の歪、複屈折評価

技術資料・事例集

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ダイヤモンドのクラリティ観察

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電解コンデンサのX線観察

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【TOF-SIMSの事例】Liの分析

技術資料・事例集

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発熱解析による電子部品の故障箇所特定

技術資料・事例集

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ナイロン6.10の構造解析

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MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析

技術資料・事例集

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【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します

その他資料

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【資料】ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析

技術資料・事例集

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XPSによるバンドギャップの簡易測定

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真贋調査（比較観察）

技術資料・事例集

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【資料】偏光フィルムおよび光拡散フィルムの劣化分析

技術資料・事例集

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【資料】透明樹脂のFT-IR分析

技術資料・事例集

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光硬化樹脂中重合開始剤の分析

技術資料・事例集

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【資料】MEMS部品の構造解析

技術資料・事例集

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【資料】EPMA分析例 その2

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表面分析ガイド

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【資料】XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析

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【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

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FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）

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BGA・CSP はんだの評価

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【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します

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メルトフローレイト（MFR）測定評価サービス

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試料包埋時のエポキシ樹脂硬化温度について

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【SEMによる断面観察】コネクタめっき

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【資料】SEG-LCDパネル表示不良解析

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【資料】ICP発光分光分析（ICP-AES）

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【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価

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【資料】ウィスカ観察～平面ウィスカ観察のコツ～

技術資料・事例集

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